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血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述:通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。 血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途:与适配试剂配合使用,用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。 血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例:血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年08月07日
检测项:试验T.5 外短路 检测样品:锂电池 标准:联合国《关于危险货物运输的建议书》 试验和标准手册 ST/SG/AC.10/11/Rev.5 38.3 试验
检测项:55摄氏度下的短路测试 检测样品:锂单体电池 标准:锂电芯 UL1642:2012
检测项:55摄氏度下的短路测试 检测样品:民用和商用电池 标准:民用和商用电池 UL 2054:2011
机构所在地:广东省东莞市 更多相关信息>>
检测项:输出短路电流 检测样品:电子产品、军用装备 标准:GB/T 2423.10-2008电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验 Fc:振动(正弦)
检测项:正向电压 检测样品:二极管 标准:GB/T 4023-1997 半导体器件分立器件和集成电路 第2部分:整流二极管
检测项:集电极-发射极饱和电压 检测样品:双极型晶体管 标准:GB/T 4587-1994 半导体器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管
机构所在地:云南省昆明市 更多相关信息>>
检测项:短路保护试验 检测样品:滤波器 标准:GB7343-1987《10kHz~30MHz无源无线电干扰滤波器和抑制元件抑制特性的测量方法》
检测项:输出短路电流IOS 检测样品:ECL电路 标准:SJ/T10737-1996《半导体集成电路ECL电路测试方法的基本原理》
检测项:输出短路电流IOS 检测样品:半导体集成电路CMOS电路 标准:SJ/T10741-2000《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》
机构所在地:湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项:浪涌冲击试验 检测样品:电子设备用机电元件 标准:电磁兼容 试验和测量技术 浪涌(冲击)抗扰度试验 GB/T 17626.5-2008
检测项:金属布氏硬度HBW 检测样品:金属材料及其制品 标准:金属布氏硬度试验 第1部分 试验方法 GB/T 231.1-2009
检测项:接触电阻测试 检测样品:电子设备用机电元件 标准:电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第2部分:一般检查、电连续性和接触电阻测试、绝缘 试验和电压应力试验 GB/T 5095.2-1997
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:在短路情况下验证RCCB的工作状况 检测样品:断路器 标准:低压开关设备和控制设备 第2部分:断路器GB14048.2-2008
检测项:短路试验 检测样品:家用和类似用途的不带过电流保护的剩余电流动作断路器(RCCB) 标准:家用和类似用途的不带过电流保护的剩余电流动作断路器(RCCB) 第1部分:一般规则 GB 16916.1-2003
检测项:输入短路电压Uo检定 检测样品:脉冲电压表 标准:电子电压表测试方法 GB/T 12116–2012 电子测量仪器通用规范 GB/T 6587–2012
检测项:锡 检测样品:铝及铝合金 标准:铝及铝合金分析方法 第10部分 锡含量的测定 GB/T20975.10-2008
检测项:锡 检测样品:铜及铜合金 标准:铜及铜合金化学分析方法 第10部分 锡含量的测定 GB/T5121.10-2008
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:输出短路电流IOS 检测样品:TTL电路 标准:《半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理》SJ/T 10735-1996
检测项:极限短路电流(基准部分)IOS 检测样品:脉宽调制器 标准:《半导体集成电路JW1524、1525、1525A、1526、1527、1527A)型脉宽调制器详细规范》SJ 20294-1993
检测项:电压调整率SV 检测样品:DC-DC电源变换器 标准:《遥测系统及分系统测试方法 DC-DC电源变换器性能参数和测试方法》GJB 383.10-1988
机构所在地:贵州省贵阳市 更多相关信息>>
检测项:短路电流 检测样品:运算 放大器 标准:半导体集成电路运算放大器测试方法基本原理 SJ/T10738-1996
检测项:栅源短路时的漏极电流 检测样品:晶体管 标准:半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管 GB/T4587-1994
检测项:PM10 检测样品:环境大气 标准:环境空气 PM10和PM2.5的测定 重量法 HJ 618-2011
检测项:短路正向跨导gfs 检测样品:半导体集成电路时基电路 标准:GB/T14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
检测项:输出短路电流IOS 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:短路电流Isc 检测样品:模拟乘法器 标准:GB/T 14029-1992 半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理
检测项:部分项目 检测样品:Class2电源设备 标准:UL 1310:2005 Class2电源设备安全标准
检测项:部分项目 检测样品:荧光灯镇流器 标准:UL 935:2001 荧光灯镇流器
检测项:部分项目 检测样品:直插式小夜灯 标准:UL1786:2011 直插式夜灯
机构所在地:江苏省吴江市 更多相关信息>>