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血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述:通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。 血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途:与适配试剂配合使用,用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。 血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例:血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年08月07日
机构所在地:广东省广州市
检测项:输出短路电流 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法 的基本原理
检测项:输出短路电流 检测样品:半导体集成电路CMOS电路 标准:SJ/T 10741-2000 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理
检测项:输出短路电流 检测样品:光电耦合器 标准:GB/T15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路第5-3部分 SJ 2215-8
机构所在地:湖北省宜昌市
检测项:*全部项目 检测样品:弧焊设备的电磁兼容 标准:弧焊设备第10部分:电磁兼容要求 EN 60974-10:2007 GB/T 15579.10-2008
检测项:全部项目 检测样品:*弧焊设备(电磁兼容) 标准:弧焊设备第10部分:电磁兼容要求 EN 60974-10:2007 GB/T 15579.10-2008
机构所在地:上海市
检测项:短路测试 检测样品:医用电源 标准:《医用电气设备 第1部分:安全通用要求》 GB 9706.1-2007 IEC 60601-1:2005 EN 60601-1:2006
机构所在地:广东省深圳市
检测项:输出短路电流 检测样品:半导体集成电路运算放大器 标准:SJ/T10738-96 半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理
检测项:栅-源短路时的漏极电流 检测样品:场效应管 标准:GB/T4586-1994 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管
检测项:栅-源短路时的漏极电流 检测样品:场效应管 标准:GB/T4586-1994 《半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管 》
机构所在地:江苏省连云港市