您当前的位置:首页 > 52不正常的运行和故障状态
YY/T 1292.1-2015医疗器械生殖和发育毒性试验 第1部分:筛选试验 YY/T 1292.2-2015医疗器械生殖和发育毒性试验 第2部分:胚胎发育毒性试验 YY/T 1292.3-2016医疗器械生殖和发育毒性试验 第3部分:一代生殖毒性试验 YY/T 1292.4-2017医疗器械生殖和发育毒性试验 第4部分:两代生殖毒性试验 查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2022年04月19日
检测项:带保存安全状态的失败 检测样品:安全集成电路(IC)卡芯片 标准:信息安全技术 具有中央处理器的集成电路(IC)卡芯片安全技术要求(评估保证级4增强级) GB/T 22186-2008
机构所在地:北京市
检测项:Type A PICC 状态机 检测样品:金融集成电路(IC)卡及其受理设备 标准:ISO/IEC 7816-1不测:电磁干扰 GB/T 16649.1-2006不测:抗X射线和电磁干扰
机构所在地:北京市
检测项:部分项目 检测样品:信息技术 设备 标准:信息技术设备 安全 第1部分:通用要求 GB4943.1-2011 IEC60950-1:2005 EN60950-1:2006
机构所在地:江苏省昆山市
机构所在地:上海市