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血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述:通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。 血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途:与适配试剂配合使用,用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。 血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例:血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年08月07日
检测项:输出短路电流Ios 检测样品:半导体集成 电路 (TTL) 标准:半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996
检测项:输出短路电流Ios 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005
检测项:击穿强度 检测样品:油料 标准:绝缘材料电气强度试验方法 第1部分:工频下试验 GB/T 1408.1-2006
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:外部短路测试 检测样品:锂离子电池 标准:UN38.3 《联合国关于危险货物运输的建议书 试验和标准手册》5(th)
检测项:外部短路测试 检测样品:锂离子电池 标准:IEC 62133:2002 便携式和便携式装置用密封含碱性电解液二次电池的安全要求
检测项:外部短路测试 检测样品: 标准:
机构所在地:广东省深圳市 更多相关信息>>
检测项:光伏组串短路电流的测试 检测样品: 标准:CGC/GF003.1:2009并网光伏发电系统工程验收基本要求
检测项:光伏阵列短路电流 检测样品:并网光伏发电系统 标准:IEC62446:2009并网光伏发电系统文件、试运行测试和检查的基本要求 CGC/GF003.1:2009并网光伏发电系统工程验收基本要求
检测项:在低辐照度下的性能 检测样品:塑料 标准:IEC 61646:2008 地面用薄膜光伏组件设计鉴定和定型
机构所在地:江苏省苏州市 更多相关信息>>
检测项:短路电流 检测样品:CMOS集成电路 标准:集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ20961-2006
检测项:短路电流 检测样品:RF器件 标准:集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ20961-2006
检测项:短路电流 检测样品:半导体集成电路电压比较器 标准:半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:短路测试 检测样品:家用和商 用电池 标准:家用和商用电池的 安全 UL 2054:2011 第2版
检测项:短路测试 检测样品:锂电池 标准:锂电池的安全 UL 1642:2012 第5版
检测项:外部短路测试 检测样品:便携式和 便携式装 置用密封 含碱性电 解液二次 电池 标准:便携式和便携式装 置用密封含碱性电 解液二次电池的安 全要求 IEC 62133:2002 第1版
检测项:电气强度 检测样品:塑 料 标准:ASTM_D149-09固体绝缘材料在工频下的介电击穿电压和介电强度的标准测试方法
检测项:黄色指数 检测样品:塑 料 标准:ASTM_D149-09固体绝缘材料在工频下的介电击穿电压和介电强度的标准测试方法
机构所在地:江苏省常州市 更多相关信息>>
检测项:输出短路电流 检测样品:电压调整器 标准:GB/T 4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理
检测项:输出短路电流 检测样品:运算放大器 标准:SJ/T10738-1996半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理
检测项:小信号短路正向跨导 检测样品:场效应晶体管 标准:GB/T4586-1994半导体分立器件分立器件第8部分场效应晶体管
机构所在地:江苏省南京市 更多相关信息>>
检测项:输出短路电流 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
检测项:输出短路电流 检测样品:运算(电压)放大器 标准:半导体集成电路运算(电压)放大器 测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996
检测项:驻波比 检测样品:失配器/短路器/开路器 标准:微波元器件性能测试方法 GJB 2650-1996
机构所在地:重庆市 更多相关信息>>
检测项:循环后电池析锂评估及短路测试 检测样品:锂电池/锂电芯 标准:CTIA对电池系统IEEE1725符合性的认证要求 Rev 2.1
检测项:循环后电池析锂评估及短路测试 检测样品:锂电池/锂电芯 标准:CTIA对电池系统IEEE1725符合性的认证要求 Rev 2.5
检测项:外部短路 检测样品:锂电池/锂电芯 标准:CTIA对电池系统IEEE1725符合性的认证要求 Rev 2.1
检测项:输出短路电流 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
检测项:振动试验 检测样品:电子产品 标准:电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Fc:振动(正弦)GB/T2423.10-2008
检测项:振动试验 检测样品:电子产品 标准:电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Fd:宽频带随机振动——一般要求GB/T2423.11-1997
机构所在地:甘肃省兰州市 更多相关信息>>