官方微信
您当前的位置:首页 > EGPRS模式下的射频输出频谱
射频浅表治疗设备产品描述:通常由射频发生器、温度测量装置、治疗电极、电缆、中性电极(若有)等组成。通过治疗电极将射频能量(一般以电流的形式)作用于人体皮肤及皮下组织,使人体组织、细胞发生病理/生理学改变。 射频浅表治疗设备预期用途:用于治疗皮肤松弛,减轻皮肤皱纹,收缩毛孔,紧致、提升皮肤组织等。 射频浅表治疗设备品名举例:射频治疗仪、射频皮肤治疗仪 射频...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年03月27日
检测项:对脉冲输出电路的要求 检测样品:脉冲电能表 标准:(1)JB/T7655-1995《脉冲电度表》
检测项:模拟输出信号 检测样品:电量变送器 标准:(1)GB/T13850-1998《交流电量转换为模拟量或数字信号的电测量变送器》
检测项:数字输出信号 检测样品:电量变送器 标准:(1)GB/T13850-1998《交流电量转换为模拟量或数字信号的电测量变送器》
机构所在地:黑龙江省哈尔滨市 更多相关信息>>
检测项:输入电压变化引起的输出改变量试验 检测样品:电力负荷管理终端 标准:DL/T 533-2007 《电力负荷管理终端》
检测项:输入电流变化引起的输出改变量试验 检测样品:电力负荷管理终端 标准:DL/T 533-2007 《电力负荷管理终端》
检测项:介质损耗因数 检测样品:电力系统用油、气 标准:GB/T 5654-2007/IEC 60247:2004 《绝缘液体的相对 介电常数、介质损耗因数和直流电阻率 的测量》
机构所在地:江苏省南京市 更多相关信息>>
检测项:危险输出的防止 检测样品:医用电气 设备 标准:医用电气设备 第1部分:安全通用要求 GB9706.1-2007
检测项:危险输出的防止概述 检测样品:麻醉机 标准:医用电气设备 第2部分:麻醉系统的安全和基本性能专用要求 GB9706.29-2006
检测项:不正常的运行和故障状态 检测样品:麻醉机 标准:医用电气设备 第2部分:麻醉系统的安全和基本性能专用要求 GB9706.29-2006
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:光输出比 检测样品:灯具 标准:《灯具分布光度测量的一般要求》 GB/T 9468-2008
检测项:颜色维持率 检测样品:灯具 标准:《固态照明产品的电气和光度测试》 IES LM-79-08
检测项:光强分布 检测样品:灯具 标准:《固态照明产品的电气和光度测试》 IES LM-79-08 《灯
机构所在地:广东省深圳市 更多相关信息>>
检测项:输出共模 抑制比 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:输出峰-峰值 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:输出高电平电压 检测样品:电子产品、军用装备 标准:GB/T 2423.10-2008电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验 Fc:振动(正弦)
机构所在地:云南省昆明市 更多相关信息>>
检测项:光输出 检测样品:方向性LED灯 标准:能源之星程序对灯具的合格评定要求 版本1.2
检测项:光输出 检测样品:非方向性LED灯 标准:ANSI C82.77-2002 谐波发射限值-照明设备相关电源质量要求
检测项:光输出 检测样品:光学测量 标准:ANSI C82.77-2002 谐波发射限值-照明设备相关电源质量要求
机构所在地:广东省东莞市 更多相关信息>>
检测项:输出高电平电压 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T10735-1996半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:输出高电平阈值电压 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T10735-1996半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:输出低电平电压 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T10735-1996半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:输出信号的和 检测样品:倍频程和分数倍频程滤波器 标准:电声学 倍频程和分数倍频程滤波器 GB/T 3241-2010
检测项:垂直偏转 检测样品:频谱分析仪 标准:频谱分析仪测试方法GB/T 11462-1989
检测项:校准信号 检测样品:频谱分析仪 标准:频谱分析仪测试方法GB/T 11462-1989
机构所在地:江苏省苏州市 更多相关信息>>
检测项:输出短路电流 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
检测项:输出高电平电压 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
检测项:输出低电平电压 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
机构所在地:甘肃省兰州市 更多相关信息>>
检测项:输出短路电流IOS 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:输出低电平电压VOL 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
机构所在地:湖南省长沙市 更多相关信息>>