E、B截止电流检测实验

超声角膜测厚仪

简介

超声角膜测厚仪

简介

眼科高频超声诊断仪产品描述：通常由探头、超声波发射/接收电路、信号处理、图像显示等部分组成。利用超声脉冲回波原理，完成眼科诊断信息采集、显示、测量的专用超声设备。不包括适用于《YY∕T 0107 眼科A型超声测量仪》标准的眼科A型超声测量仪和适用于《YY 0773 眼科B型超声诊断仪通用技术条件》标准的眼科B型超声诊断仪。

眼科高频超声诊断仪预期用途：专用于眼科的超声诊断设备。实现眼球及眼眶的超声成像、角膜厚度测量、眼轴长度测量等功能。

眼科高频超声诊断仪品名举例：眼科高频超声诊断仪、眼科超声生物显微镜

眼科高频超声诊断仪管理类别：Ⅲ

眼科B型超声诊断仪产品描述：通常由探头、超声波发射/接收电路、信号处理、图像显示等部分组成。利用超声脉冲回波原理，完成眼科诊断信息采集、显示、测量的专用的适用于《YY∕T 0107 眼科A型超声测量仪》标准的眼科A型超声测量仪和适用于《YY 0773 眼科B型超声诊断仪通用技术条件》标准的眼科B型超声诊断仪。

眼科B型超声诊断仪预期用途：专用于眼科的超声诊断设备。实现眼球及眼眶的超声成像、角膜厚度测量、眼轴长度测量等功能。

眼科B型超声诊断仪品名举例：眼科B型超声诊断仪、超声角膜测厚仪、眼科A型超声测量仪、眼科AB型超声诊断仪

眼科B型超声诊断仪管理类别：Ⅱ

眼科超声诊断设备相关指导原则：
1、眼科超声诊断设备注册技术审查指导原则
2、眼科高频超声诊断仪注册技术审查指导原则

眼科超声诊断设备相关标准：
1、YY/T 0718-2009 眼科仪器检影镜
2、YY/T 1080-2009 眼科仪器直接检眼镜
3、YY/T 0756-2009 光学和光学仪器激光和激光相关设备激光光束功率（能量）密度分布的试验方法
4、YY/T 0107-2015 眼科A型超声测量仪
5、YY/T 0773-2010 眼科B型超声诊断仪通用技术条件
6、YY/T 0787-2010 眼科仪器角膜地形图仪

眼科超声诊断设备相关检测项目：
眼科高频超声诊断仪1 . 要求《眼科高频超声诊断仪： YY/T 0849-2011》
2 . 工作条件《眼科高频超声诊断仪： YY/T 0849-2011》
3 . 性能《眼科高频超声诊断仪： YY/T 0849-2011》
4 . 功能《眼科高频超声诊断仪： YY/T 0849-2011》
5 . 安全《眼科高频超声诊断仪： YY/T 0849-2011》
6 . 外观和结构《眼科高频超声诊断仪： YY/T 0849-2011》
7 . 环境试验《眼科高频超声诊断仪： YY/T 0849-2011》
眼科B型超声诊断仪8 . 要求《眼科B型超声诊断仪通用技术条件： YY/T 0773-2010》
9 . 工作条件《眼科B型超声诊断仪通用技术条件： YY/T 0773-2010》
10 . 性能《眼科B型超声诊断仪通用技术条件： YY/T 0773-2010》
11 . 功能《眼科B型超声诊断仪通用技术条件： YY/T 0773-2010》
12 . 安全《眼科B型超声诊断仪通用技术条件： YY/T 0773-2010》
13 . 外观和结构《眼科B型超声诊断仪通用技术条件： YY/T 0773-2010》
14 . 环境试验《眼科B型超声诊断仪通用技术条件： YY/T 0773-2010》

收起百科↑ 最近更新：2023年04月23日

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湖北航天技术研究院计量测试技术研究所

检测项：发射极-基极截止电流IEBO 检测样品：晶体管标准：半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 半导体分立器件和集成电路第7部分：场效应晶体管 GB/T 4587-1994

检测项：集电极-发射极截止电流ICEO 检测样品：晶体管标准：半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 半导体分立器件和集成电路第7部分：场效应晶体管 GB/T 4587-1994

检测项：栅源极截止（漏泄）电流IGSS 检测样品：场效应晶体管标准：半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管 GB/T 4586-1994 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997

机构所在地：湖北省孝感市更多相关信息>>

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中科华核电技术研究院有限公司核安全电气设备鉴定检测中心

检测项：发射极—基极截止电流检测样品：半导体三极管标准：半导体分立器件和集成电路第七部分：双极型晶体管GB/T 4587-1994

检测项：集电极—发射极截止电流检测样品：半导体三极管标准：半导体分立器件和集成电路第七部分：双极型晶体管GB/T 4587-1994

检测项：集电极—基极截止电流检测样品：半导体三极管标准：半导体分立器件和集成电路第七部分：双极型晶体管GB/T 4587-1994

机构所在地：北京市更多相关信息>>

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中国航空无线电电子研究所元器件检测中心

检测项：集电极-基极截止电流检测样品：晶体三极管标准：GJB 33A-1997 半导体分立器件总规范 GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路第7部分:双极型晶体管

检测项：发射极-基极截止电流检测样品：晶体三极管标准：GJB 33A-1997 半导体分立器件总规范 GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路第7部分:双极型晶体管

检测项：集电极-发射极截止电流检测样品：晶体三极管标准：GJB 33A-1997 半导体分立器件总规范 GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路第7部分:双极型晶体管

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上海华岭集成电路技术股份有限公司检测中心

检测项：截止态漏极漏电流检测样品：集成电路A/D和D/A转换器标准：集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理　 SJ 20961-2006

检测项：截止态源极漏电流检测样品：集成电路A/D和D/A转换器标准：集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理　 SJ 20961-2006

检测项：截止态和导通态电流（对模拟信号开关电路）检测样品：CMOS集成电路标准：集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理　 SJ20961-2006

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中国电子科技集团公司第十四研究所检测/试验中心

检测项：漏极截止电流检测样品：场效应晶体管标准：GB/T4586-1994半导体分立器件分立器件第8部分场效应晶体管

检测项：结栅型的栅极截止电流检测样品：场效应晶体管标准：GB/T4586-1994半导体分立器件分立器件第8部分场效应晶体管

检测项：电流调整率SI 检测样品：集成电路筛选标准：GJB548B--2005微电子器件试验方法和程序

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上海无线电设备研究所环境与检测实验室

检测项：集电极-基极截止电流ICBO 检测样品：晶体三极管标准：《半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管》 GB/T 4587-1994

检测项：发射极-基极截止电流IEBO 检测样品：二极管标准：《半导体器件分立器件第3部分:信号(包括开关)和调整二极管》 GB/T 6571-1995

检测项：集电极-发射极截止电流ICEO 检测样品：二极管标准：《半导体器件分立器件第3部分:信号(包括开关)和调整二极管》 GB/T 6571-1995

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宜昌测试技术研究所（中国船舶重工集团公司第七一0研究所）环境可靠性及电磁兼容检测实验室

检测项：集电极-基极截止电流检测样品：双极型晶体管标准：GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管第Ⅳ章通用测试方法

检测项：集电极-发射极截止电流检测样品：场效应晶体管标准：GJB128A-1997 半导体分立器件试验方法方法3011

检测项：发射极-基极截止电流检测样品：场效应晶体管标准：GJB128A-1997 半导体分立器件试验方法方法3011

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郴州市产商品质量监督检验所

检测项：硅、铁、钙、铝、钛、钒、硼检测样品：石墨标准：《石墨化学分析的试验方法》ASTM C560-1988(2010)e1

检测项：体积密度检测样品：炭石墨制品标准：《用物理测量法测定碳加工品及石墨制品松密度的试验方法》ASTM C559-1990(2010)e1

检测项：室温电阻率检测样品：炭石墨制品标准：《室温下成品碳和石墨制品电阻率的试验方法》ASTM C611-1998(2010)e1

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钢研纳克检测技术有限公司

检测项：铝,铬,铜,铁,锰,钼,镍,硅,锡,钒,锆,硼,钇检测样品：镁和镁合金标准：钛合金标准分析方法原子发射等离子体光谱法 ASTM E2371- 2013

检测项：铝,砷,硼,碳,铬,钴,铜,锰,钼,镍,铌,磷,硅,硫,锡,钛,钒检测样品：钢铁及合金标准：碳素钢和低合金钢原子发射真空光谱分析方法 ASTM E415-08

检测项：洛氏硬度试验检测样品：金属材料,合金及制品标准：金属材料洛氏硬度试验第1部分：试验方法（A、B、C、D、E、F、G、H、K、N、T标尺） GB/T 230.1-2009

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贵州航天新力铸锻有限责任公司检测中心

检测项：硼检测样品：钢铁及合金标准：ASTM E415-2008 碳素钢和低合金钢原子发射真空光谱分析方法

检测项：硼检测样品：钢铁及合金标准：ASTM E353-2006 耐热不锈钢、马氏体钢及其他类似的铬镍铁合金钢化学分析试验方法

检测项：硼检测样品：镍铁镍基制品标准：ASTM E2594-09 用电感耦合等离子体原子发射光谱仪分析镍合金的标准试验方法

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中国航空无线电电子研究所元器件检测中心

上海华岭集成电路技术股份有限公司检测中心

中国电子科技集团公司第十四研究所检测/试验中心

上海无线电设备研究所环境与检测实验室

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