GJB548B-2005 检测实验

超声角膜测厚仪

简介

超声角膜测厚仪

简介

眼科高频超声诊断仪产品描述：通常由探头、超声波发射/接收电路、信号处理、图像显示等部分组成。利用超声脉冲回波原理，完成眼科诊断信息采集、显示、测量的专用超声设备。不包括适用于《YY∕T 0107 眼科A型超声测量仪》标准的眼科A型超声测量仪和适用于《YY 0773 眼科B型超声诊断仪通用技术条件》标准的眼科B型超声诊断仪。

眼科高频超声诊断仪预期用途：专用于眼科的超声诊断设备。实现眼球及眼眶的超声成像、角膜厚度测量、眼轴长度测量等功能。

眼科高频超声诊断仪品名举例：眼科高频超声诊断仪、眼科超声生物显微镜

眼科高频超声诊断仪管理类别：Ⅲ

眼科B型超声诊断仪产品描述：通常由探头、超声波发射/接收电路、信号处理、图像显示等部分组成。利用超声脉冲回波原理，完成眼科诊断信息采集、显示、测量的专用的适用于《YY∕T 0107 眼科A型超声测量仪》标准的眼科A型超声测量仪和适用于《YY 0773 眼科B型超声诊断仪通用技术条件》标准的眼科B型超声诊断仪。

眼科B型超声诊断仪预期用途：专用于眼科的超声诊断设备。实现眼球及眼眶的超声成像、角膜厚度测量、眼轴长度测量等功能。

眼科B型超声诊断仪品名举例：眼科B型超声诊断仪、超声角膜测厚仪、眼科A型超声测量仪、眼科AB型超声诊断仪

眼科B型超声诊断仪管理类别：Ⅱ

眼科超声诊断设备相关指导原则：
1、眼科超声诊断设备注册技术审查指导原则
2、眼科高频超声诊断仪注册技术审查指导原则

眼科超声诊断设备相关标准：
1、YY/T 0718-2009 眼科仪器检影镜
2、YY/T 1080-2009 眼科仪器直接检眼镜
3、YY/T 0756-2009 光学和光学仪器激光和激光相关设备激光光束功率（能量）密度分布的试验方法
4、YY/T 0107-2015 眼科A型超声测量仪
5、YY/T 0773-2010 眼科B型超声诊断仪通用技术条件
6、YY/T 0787-2010 眼科仪器角膜地形图仪

眼科超声诊断设备相关检测项目：
眼科高频超声诊断仪1 . 要求《眼科高频超声诊断仪： YY/T 0849-2011》
2 . 工作条件《眼科高频超声诊断仪： YY/T 0849-2011》
3 . 性能《眼科高频超声诊断仪： YY/T 0849-2011》
4 . 功能《眼科高频超声诊断仪： YY/T 0849-2011》
5 . 安全《眼科高频超声诊断仪： YY/T 0849-2011》
6 . 外观和结构《眼科高频超声诊断仪： YY/T 0849-2011》
7 . 环境试验《眼科高频超声诊断仪： YY/T 0849-2011》
眼科B型超声诊断仪8 . 要求《眼科B型超声诊断仪通用技术条件： YY/T 0773-2010》
9 . 工作条件《眼科B型超声诊断仪通用技术条件： YY/T 0773-2010》
10 . 性能《眼科B型超声诊断仪通用技术条件： YY/T 0773-2010》
11 . 功能《眼科B型超声诊断仪通用技术条件： YY/T 0773-2010》
12 . 安全《眼科B型超声诊断仪通用技术条件： YY/T 0773-2010》
13 . 外观和结构《眼科B型超声诊断仪通用技术条件： YY/T 0773-2010》
14 . 环境试验《眼科B型超声诊断仪通用技术条件： YY/T 0773-2010》

收起百科↑ 最近更新：2023年04月23日

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北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司

检测项：粒子碰撞噪声检测检测样品：电子元器件（物理试验）标准：1.GJB548B-2005微电子器件试验方法和程序,方法2020.1 2.GJB128A-1997半导体分立器件试验方法，方法2052 3.GJB360B-2009电子及电气元件试验方法方法217

检测项：密封检测样品：电子元器件(气候试验) 标准：1.GJB548B-2005微电子器件试验方法和程序，方法1014.2 2.GJB128A-1997半导体分立器件试验方法，方法1071 3.GJB360B-2009电子及电气元件试验方法，方法112

检测项：可焊性检测样品：电子元器件(气候试验) 标准：1.GJB548B-2005微电子器件试验方法和程序，方法2003.1 2.GJB128A-1997半导体分立器件试验方法，方法2026 3.GJB360B-2009电子及电气元件试验方法，方法208

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北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司中心实验室

检测项：振动试验检测样品：电气电子产品标准：《微电子器件试验方法和程序》GJB548B-2005方法2005、2006、2007、2026.1

检测项：高温试验检测样品：电气电子产品标准：《微电子器件试验方法和程序》GJB548B-2005方法1008.1

检测项：湿热试验检测样品：电气电子产品标准：《微电子器件试验方法和程序》GJB548B-2005方法1004.1

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中国电子科技集团公司第十研究所天奥校准/检测实验室

检测项：恒定加速度试验检测样品：电子元器件标准：微电路试验方法和程序GJB548B-2005 方法1010.1

检测项：恒定加速度试验检测样品：电子元器件标准：微电路试验方法和程序GJB548B-2005 方法2001.1

检测项：恒定加速度试验检测样品：电子元器件标准：微电路试验方法和程序GJB548B-2005 方法1010.1

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检测项：振动检测样品：电工电子产品、电子测量仪器、军用设备标准：微电子器件试验方法和程序方法2005 振动疲劳 GJB 548B-2005

检测项：振动检测样品：电工电子产品、电子测量仪器、军用设备标准：微电子器件试验方法和程序方法2007 扫频振动 GJB 548B-2005

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中国科学院半导体研究所元器件检测中心

检测项：振动试验检测样品：电工电子产品、军用设备、电子及电气元件、半导体分立器件、微电子器件标准：微电子器件试验方法方法2007 扫频振动 GJB548B-2005

检测项：耐腐蚀试验检测样品：电工电子产品、军用设备、电子及电气元件、半导体分立器件、微电子器件标准：微电子器件试验方法方法2001.1恒定加速度GJB548B-2005

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中国船舶重工集团公司第七一六研究所机电设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：密封性检查检测样品：电子元器件标准：GJB548B-2005 《微电子器件试验方法和程序》方法1014.2密封

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检测项：盐雾试验检测样品：电工电子产品与军用设备标准：GJB 548B-2005《微电子器件试验方法和程序》

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台表科技（苏州）电子有限公司实验室

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