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血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述:通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。 血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途:与适配试剂配合使用,用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。 血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例:血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年08月07日
检测项:协议测试 检测样品:以太网交换机(三层) 标准:YD/T 1341-2005 IPv6基本协议——IPv6协议
检测项:协议测试 检测样品:高端路由器 标准:YD/T 1343-2005 IPv6邻居发现协议--基于IPv6的邻居发现协议 YD/T 1341-2005 IPv6基本协议——IPv6协议
检测项:2048kbit/s接口基本要求及输出口电气特性 检测样品:ADSL2/ADSL2Plus设备 标准:YDN 059-1997高比特率数字用户线(HDSL)设备测试方法
机构所在地:湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项:输出高电平电压 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项:输出低电平电压 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项:输入电流 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
机构所在地:四川省成都市 更多相关信息>>
检测项:输出频率测试 检测样品:并网光伏系统 标准:并网光伏发电系统工程验收基本要求 CGC/GF003. 1:2009
检测项:噪声的测试 检测样品:并网光伏系统 标准:并网光伏发电系统工程验收基本要求 CGC/GF003. 1:2009
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:输入低电平电压VIL 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
检测项:输入正向阈值电压VIT+ 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
检测项:输出高电平电压VOH 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
检测项:木材中甲醛 检测样品:家具物料 标准:用基本火源测试床垫、软垫长沙发椅、软垫床底座阻燃性的方法 BS 6807:2006
检测项:在去离子水中最大迁移量测试 在50%乙醇中最大迁移量测试 在正庚烷中最大迁移量测试 检测样品:食品接触材料 标准:与食品接触的纸和纸板的标准测试方法 FDA 21 CFR 176.170
检测项:玩具使用说明 检测样品:玩具及儿童产品 标准:玩具安全标准消费者安全规范 ASTM F963-11 条款 4.2 燃烧性能 A5固体和毛绒玩具的燃烧测试程序 A6布料的燃烧测试程序
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:静载荷堆码 检测样品:运输包装件(纸箱) 标准:包装.运输包装件基本试验.第3部分:静载荷堆码试验方法 GB/T 4857.3-2008
检测项:压力试验 检测样品:运输包装件(纸箱) 标准:包装.运输包装件基本试验.第4部分:采用压力试验机进行的抗压和堆码试验方法 GB/T 4857.4-2008
检测项:低气压试验 检测样品:木材 标准:包装 运输包装件基本试验 第13部分:低气压试验方法 GB/T 4857.13-2005
检测项:零点误差 检测样品:光电耦合器 标准:SJ 20961-2006 集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理
检测项:失调误差 检测样品:光电耦合器 标准:SJ 20961-2006 集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理
检测项:零点误差 检测样品:光电耦合器 标准:SJ/T 10818-1996 半导体集成非线性电路数字/模拟转换器和模拟/数字转换器测试方法的基本原理
检测项:振动试验 检测样品:电子元器件 标准:电工电子产品基本环境试验规程GB/T2423.5-1995试验Ea
检测项: 检测样品: 标准:混合膜集成电路外壳总规范 GJB2440-1995
机构所在地:安徽省蚌埠市 更多相关信息>>
检测项:光学特牲 检测样品: 标准:飞机座舱照明基本技术要求及测试方法 GJB455-1988
检测项:温度冲击 检测样品:军工及民用电气、电子和机械类产品 标准:电工电子产品基本环境试验规程 试验A:低温试验方法 GB/T2423.1-2008
检测项:静态功耗 检测样品:时基电路 标准:半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 SJ/T 10805-2000
检测项:开环电压增益 检测样品:时基电路 标准:半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 SJ/T 10805-2000
检测项:共模抑制比 检测样品:时基电路 标准:半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 SJ/T 10805-2000