BRCA基因突变检测试剂盒及数据库通用技术要求（高通量测序法）中全项目的检测

检测项：全项目 检测样品：BRCA基因突变检测试剂盒及数据库通用技术要求（高通量测序法） 标准：YY/T1865-2022 BRCA基因突变检测试剂盒及数据库通用技术要求（高通量测序法）

检测机构：国家食品质量监督检验中心 更多相关信息>>

艾默生网络能源（西安）有限公司测试部实验室

检测项：SELV电路稳定性测试包括危险电压测试 检测样品：信息技术设 备（安全） 标准：GB4943-2011 IEC 60950-1:2009 EN 60950-1:2011 CAN/CSA-C22.2 No. 60950-1-07/UL 60950-1：2011 信息技术设备-安全-第一部分：通用要求

检测项：SELV 稳定性测试 检测样品：不间断电源UPS（安全） 标准：GB7260.1:2008 EN/IEC62040-1:2008不间断电源设备 第1-1部分: 操作人员触及区使用的UPS的一般规定和安全要求 ； UL1778-4th/CSA C22.2 NO.107.3-05 不间断电源安全;IEC 6095

检测项：直流电压跌落试验 检测样品：信息技术类设备，通信网络设备（EMC） 标准：IEC 61000-4-29：2000 电磁兼容 试验和测量技术 直流电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验

机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>

国网计量中心

检测项：动作电压测试 检测样品：集成电路 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 半导体集成电路分规范（不包括混合电路） GB/12750-2006

检测项：返回电压测试 检测样品：集成电路 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 半导体集成电路分规范（不包括混合电路） GB/12750-2006

检测项：动作时间测试 检测样品：集成电路 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 半导体集成电路分规范（不包括混合电路） GB/12750-2006

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

上海华东电信研究院

检测项：SELV电路 检测样品：信息技术设备(安全)信息技术设备(安全) 标准：GB4943.1-2011 《信息技术设备的安全》

检测项：SELV电路 检测样品：信息技术设备(安全) 标准：EN 60950-1:2006/AC:2011 《信息技术设备的安全 第1部分：通用要求》 AS/NZS 60950.1:2011 including amendments 1,2 & 3 《信息技术设备的安全 第1部分：通用要求》

检测项：设备稳定性试验 检测样品：电信终端设备(安全) 标准：YD/T 965-1998《电信终端设备的安全要求和试验方法》

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

上海华岭集成电路技术股份有限公司检测中心

检测项：输出电压长期稳定性 检测样品：半导体集成电路电压调整器 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理　 GB/T 4377-1996

检测项：电压调整率和电压稳定系数 检测样品：半导体集成电路电压调整器 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理　 GB/T 4377-1996

检测项：开环电压增益 检测样品：时基电路 标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 SJ/T 10805-2000

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

贵州航天计量测试技术研究所

检测项：频率温度稳定性 检测样品：电压调整器（三端稳压电源） 标准：《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》GB/T 4377-1996

检测项：介质耐电压 检测样品：二极管 标准：《半导体器件分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管》GB/T 6571-1995 《半导体器件分立器件和集成电路第2部分： 整流二极管》GB/T 4023-1997

检测项：输入钳位电压VIK 检测样品：TTL电路 标准：《半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理》SJ/T 10735-1996

机构所在地：贵州省贵阳市 更多相关信息>>

湖北航天技术研究院计量测试技术研究所

检测项：部分参数 检测样品：电压调整器 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996

检测项：耐电压 检测样品：二极管 标准：半导体器件分立器件 第3部分：信号（包括开关）和调整二极管 GB/T 6571-1995 半导体器件分立器件和集成电路 第2部分： 整流二极管 GB/T 4023-1997 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997

检测项：静态参数 检测样品：运算（电压）放大器 标准：半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996

机构所在地：湖北省孝感市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第二十四研究所质检中心

检测项：输出电压长期稳定性 检测样品：半导体集成电路电压调整器 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理　 GB/T4377-1996

检测项：V/F电源电压灵敏度 检测样品：半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器 标准：半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理　GB/T14114-1993

检测项：电源电压抑制比 检测样品：时基电路 标准：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T14030-1992

机构所在地：重庆市 更多相关信息>>

西南计算机有限责任公司检测计量与软件测评中心

检测项：稳压管工作电压 检测样品：二极管 标准：半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管 GB/T6571-1995 Ⅳ章 测试方法

检测项：输入钳位电压 检测样品：TTL集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路 测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996

检测项：输入高电平 电压 检测样品：CMOS集成电路 标准：半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000

机构所在地：重庆市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团公司第七二二研究所计量检测中心

检测项：稳定性烘焙 检测样品：电压比较器 标准：GB/T6798-1996《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》

检测项：开环电压增益AVD 检测样品：半导体集成电路TTL电路 标准：SJ/T10735-1996《半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理》

检测项：电源电压抑制比KSVR 检测样品：半导体集成电路TTL电路 标准：SJ/T10735-1996《半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理》

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>