您当前的位置:首页 > SPECT设备性能检测(CT低对比可探测能力)
血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述:通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。 血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途:与适配试剂配合使用,用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。 血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例:血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年08月07日
检测项:抗破碎能力 检测样品:酸化用缓蚀剂 标准:SY/T5405-1996 酸化用缓蚀剂性能试验方法及评价指标
检测项:压裂液耐温能力 检测样品:水基压裂液 标准:SY/T 5107-2005 水基压裂液性能评价方法
检测项:压裂液耐温耐剪切能力 检测样品:水基压裂液 标准:SY/T 5107-2005 水基压裂液性能评价方法
机构所在地:新疆维吾尔自治区克拉玛依市
检测项:抗破碎能力 检测样品:压裂用破胶剂 标准:压裂用破胶剂性能试验方法 SY/T 6380-2008
检测项:耐温能力 检测样品:水基压裂液 标准:水基压裂液性能评价 SY/T 5107-2005
检测项:耐温耐剪切能力 检测样品:水基压裂液 标准:水基压裂液性能评价 SY/T 5107-2005
机构所在地:吉林省长春市
检测项:镭-226 检测样品:锰矿石 标准:用半导体γ谱仪分析低比活度γ放射性样品的标准方法GB/T11713-1989
检测项:铀-238 检测样品:土壤 标准:用半导体γ谱仪分析低比活度γ放射性样品的标准方法GB/T11713-1989
检测项:铯-137 检测样品:金属与合金 标准:用半导体γ谱仪分析低比活度γ放射性样品的标准方法GB/T11713-1989
机构所在地:山东省烟台市
检测项:可焊性 检测样品:通信连接器 标准:电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 元器件引线、端子、焊片、接线柱和导线的可焊性测试IPC/ECA J-STD-002C
机构所在地:广东省深圳市
检测项:低温试验 检测样品:电工电子产品 标准:GJB5457-2005发烟器材通用规范 第4.6.6.1条高温
检测项:湿热试验 检测样品:电工电子产品 标准:GJB5457-2005发烟器材通用规范 第4.6.6.3条高温高湿
检测项:湿热试验 检测样品:电工电子产品 标准:GB/T9535-1998地面用晶体硅光伏组件设计鉴定和定型 第10.11条热循环试验
机构所在地:湖北省宜昌市