X射线粉末衍射分析检测实验

血糖及血糖相关参数分析仪器

简介

血糖及血糖相关参数分析仪器

简介

血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述：通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。

血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途：与适配试剂配合使用，用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。

血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例：血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血脂监测仪、血糖血酮仪、血酮体测试仪、葡萄糖/乳酸分析仪、尿酸/血糖分析仪、血脂/血糖分析仪、血糖/胆固醇两用检测仪、血糖/胆固醇/甘油三酯/乳酸分析仪、血脂分析仪

血糖及血糖相关参数分析仪器管理类别：Ⅱ

血糖及血糖相关参数分析仪器相关指导原则：
1、血糖仪注册技术审查指导原则
2、自测用血糖监测系统注册申报资料指导原则

血糖及血糖相关参数分析仪器相关标准：
1、YY/T 1549-2017 生化分析仪用校准物下载2、YY/T 1662-2019 生化分析仪用质控物

血糖及血糖相关参数分析仪器相关检测项目：
1 . 外观《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
2 . 血糖仪和血糖试条测量重复性《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
3 . 血糖仪和血糖试条系统准确度《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
4 . 红细胞压积《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
5 . 血糖试条批间差《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
6 . 质控物质《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
7 . 血糖仪环境试验《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
8 . 血糖仪安全要求《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》

收起百科↑ 最近更新：2023年08月07日

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瓦房店轴承集团有限责任公司检测试验中心

检测项：残余奥氏体测定检测样品：滚动轴承零件及金属材料标准：钢中残余奥氏体定量测定 X射线衍射仪法 YB/T5338-2006

检测项：残余奥氏体测定检测样品：滚动轴承零件及金属材料标准：钢中残余奥氏体定量测定 X射线衍射仪法 YB/T5338-2006

检测项：Zn、Sn、Pb、Fe、Sb、As、Ni、P、Mn、Si、Al 检测样品：标准：铜及铜合金分析方法光电发射光谱法 YS/T482-2005

机构所在地：辽宁省瓦房店市更多相关信息>>

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中国检验检疫科学研究院纳米材料与产品检测研究中心

检测项：石棉检测样品：化妆品标准：进出口化妆品中石棉的测定第1部分：X射线衍射光谱-扫描电子显微镜法 SN/T 2649.1-2010

检测项：微观形貌检测样品：纳米氧化锌标准：分析型扫描电子显微镜方法通则 JY/T 010-1996

检测项：碳酸钙含量检测样品：纳米二氧化钛标准：碳酸钙分析方法 GB/T 19281-2003

机构所在地：北京市更多相关信息>>

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中国铝业股份有限公司河南分公司分析检测中心

检测项：α氧化铝检测样品：铝电解用预焙阳极标准：砂状氧化铝物理性能测定方法 X衍射法测定α-氧化铝含量 YS/T 438.5-2001

检测项：镍检测样品：铝电解用预焙阳极标准：铝生产用碳素材料电极用生焦和煅烧焦 X射线荧光分析 ISO 12980：2000

检测项：钙检测样品：铝电解用预焙阳极标准：铝生产用碳素材料电极用生焦和煅烧焦 X射线荧光分析 ISO 12980：2000

机构所在地：河南省郑州市更多相关信息>>

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中国石油化工股份有限公司江苏油田分公司地质科学研究院勘探开发实验中心

检测项：沉积岩粘土矿物含量检测样品：岩石标准：沉积岩中黏土矿物和常见非黏土矿物X衍射分析方法 SY/T 5163-2010

检测项：沉积岩中粘土矿物总量和常见非粘土矿物含量检测样品：岩石标准：沉积岩中黏土矿物和常见非黏土矿物X衍射分析方法 SY/T 5163-2010

检测项：粒度 (粉末粒度、薄片粒度）检测样品：岩石标准：碎屑岩粒度分析方法 SY/T5434-2009

机构所在地：江苏省扬州市更多相关信息>>

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中兴通讯股份有限公司材料实验室

检测项：X射线检查检测样品：电子电工产品标准：电子探针和扫描电镜X射线能谱定量分析通则 GB/T 17359-1998

检测项：能谱分析检测样品：电子电工产品标准：电子探针和扫描电镜X射线能谱定量分析通则 GB/T 17359-1998

检测项：X射线检查检测样品：PCBA 标准：微束分析能谱法定量分析 GB/T 17359-2012

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深圳市华测检测技术股份有限公司

检测项：切片分析检测样品：固体材料标准：GB/T 16921-2005 金属覆盖层覆盖层厚度测量 X射线光谱方法

检测项：切片分析检测样品：固体材料标准：ISO 3497-2000 金属覆盖层镀层厚度的测量 X射线光谱法

检测项：成分定性、半定量分析检测样品：固体材料表面及界面标准：GB/T 17359-1998 电子探针和扫描电镜X射线能谱定量分析通则

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台达电子电源（东莞）有限公司分析实验室

检测项：X射线检查检测样品：印刷电路板&印刷电路板组装标准：GJB548 B-2005 微电子器件试验方法和程序

检测项：X射线检查检测样品：焊点标准：IPC-A-610E电子组件的可接受性

检测项：X射线照相检测样品：片式固定电阻器标准：①GJB 4027A-2006 军用电子元器件破坏性物理分析方法 ②IPC-TM-650-2007 试验方法手册

机构所在地：广东省东莞市更多相关信息>>

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台表科技（苏州）电子有限公司实验室

检测项：电子探针和X射线能谱定量分析元素含量实验检测样品：电子电气产品失效分析标准：电子探针和扫描电镜X射线能谱定量分析通则 GB/T 17359-1998

检测项：X射线照像检测样品：电子电气产品失效分析标准：微电子器件试验方法和程序方法 2012.1：X射线照相 GJB 548B-2005

检测项：电子探针和X射线能谱定量分析元素含量实验检测样品：电子电气产品失效分析标准：军用电子元器件破坏性物理分析方法工作项目 1103 GJB 4027A-2006

机构所在地：江苏省吴江市更多相关信息>>

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上海材料研究所检测中心

检测项：金相检验检测样品：金属材料标准：黄金制品的扫描电镜X射线能谱分析方法 GB/T 17362-2008

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检测项：能谱分析检测样品：金属材料标准：电子探针和扫描电镜X射线能谱定量分析通则 GB/T 17359-1998

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北京利尔高温材料股份有限公司检测中心

检测项：高铝质（Al2O3≥45%）检测样品：耐火材料 X射线荧光光谱化学分析标准：耐火材料 X射线荧光光谱化学分析熔铸玻璃片法 GB/T 21114-2007

检测项：硅质（SiO2≥93%）检测样品：耐火材料 X射线荧光光谱化学分析标准：耐火材料 X射线荧光光谱化学分析熔铸玻璃片法 GB/T 21114-2007

检测项：部分参数检测样品：普通磨料碳化硅标准：耐火材料 X射线荧光光谱化学分析熔铸玻璃片法 GB/T21114-2007

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血糖及血糖相关参数分析仪器

简介

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