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X射线管组件产品描述:通常由X射线管及管套组成。管套内装满高压绝缘油并密封,实现绝缘和热交换的目的。 X射线管组件预期用途:装配于诊断X射线机,将来自于高压发生器的高压加在X射线管组件上,产生X射线。 X射线管组件品名举例:X射线管组件、医用诊断X射线管组件 X射线管组件管理类别:Ⅱ X射线管组件相关指导原则: 1、含儿科应用的医用...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年03月08日
检测项:覆盖层厚度测量 检测样品:覆盖层厚度测量 标准:金属覆盖层 厚度测量 X射线光谱方法 GB/T 16921-2005
检测项:金、银、钯、铂含量分析 检测样品:金属成分分析 标准:首饰 贵金属含量的测定 X射线荧光光谱法 GB/T 18043-2008
检测项:铅、汞、镉、铬、溴的测定 检测样品:铅、汞、镉、铬、溴的测定 标准:电子电气产品中铅、汞、镉、铬、溴的测定 第1部分:X射线荧光光谱定性筛选法 SN/T 2003.1-2005
机构所在地:广东省深圳市 更多相关信息>>
检测项:SiO2、CaO、 MgO、TFe 、Al2O3 检测样品: 标准:炉渣X射线荧光光谱分析方法 YB/T4177-2008
机构所在地: 更多相关信息>>
检测项:硫含量 检测样品:石油产品 标准:石油和石油产品硫含量的测定 能量色散X射线荧光光谱法 GB/T 17040-2008
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:铅、汞、镉、总铬、总溴筛选 检测样品:玩具涂层 标准:使用X射线荧光光谱仪对电子产品中的铅、汞、镉、总铬、总溴进行筛选IEC 62321-3-1-2013
检测项:铅、汞、镉、总铬和溴的筛选 检测样品:电子电气产品涂层 标准:电子电气产品中铅、汞、铬、镉和溴的测定 第5部分:能量色散X射线荧光光谱定量筛选法SN/T 2003.5-2006(2010)
检测项:铅,汞,铬,镉,溴 检测样品:电子电器产品 标准:电子电气产品中限用物质铅、汞、铬、镉和溴的快速筛选 X射线荧光光谱法 GB/Z 21277-2007
检测项:可溶性元素 (砷,锑,钡,镉,铬,铅,汞,硒) 检测样品:玩具及儿童产品 标准:能量色散X-射线荧光光谱法测定油漆及类似表面涂层或基材中铅含量的标准操作程序 ASTM F2853-10e1
检测项:铅,汞,铬,镉,溴 检测样品:电子电器产品 标准:电子电气产品中铅、汞、铬、镉和溴的测定 第4部分:能量色散X射线荧光光谱定性筛选法 SN/T 2003.4-2006(2010)
检测项:硫含量 检测样品:铝土矿 标准:GB/T 17606-2009原油中硫含量的测定 能量色散X射线荧光光谱法
检测项:残炭 检测样品:铝土矿 标准:GB/T 17040-2008 石油和石油产品硫含量的测定 能量色散X射线荧光光谱法
机构所在地:山东省莱州市 更多相关信息>>
检测项:硫醇硫含量 检测样品:石油产品 标准:石油产品硫含量测定法(能量色散X射线荧光光谱法) GB/T 17040-2008
检测项:硫醇硫含量 检测样品:石油产品 标准:用能量色散X射线荧光光谱法测定石油和石油产品中硫的试验方法ASTM D4294-10
检测项:博士试验 检测样品:石油产品 标准:汽油、煤油、航空汽轮机燃料及馏出燃料中(硫醇态)硫含量的试验方法(电位法) ASTM D3227-04a(2010)
检测项:硅 检测样品:铁矿石 标准:GB/T 6730.62-2005 铁矿石 钙、硅、镁、钛、磷、锰、铝和钡含量的测定 波长色散X射线荧光谱法
检测项:硫 检测样品:硅钙合金 标准:GB/T 223.79-2007 钢铁 多元素含量的测定 X射线荧光光谱(常规法)
检测项:硅 检测样品:硅钙合金 标准:GB/T 223.79-2007 钢铁 多元素含量的测定 X射线荧光光谱(常规法)
机构所在地:湖南省衡阳市 更多相关信息>>
检测项:金属点阵常数 检测样品:涂层 标准:YB/T 5337-2006 金属点阵常数的测定方法-X射线衍射仪法
检测项:钢中残余奥氏体含量 检测样品:涂层 标准:YB/T 5338-2006 钢中残余奥氏体定量测定-X射线衍射仪法
检测项:覆盖层厚度 检测样品:涂层 标准:GB/T 16921-2005金属覆盖层 覆盖层厚度测量X射线光谱方法
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:贵金属含量 检测样品:金属和金属制品 标准:GB/T 18043-2013首饰 贵金属含量的测定 X射线荧光光谱法