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眼底照相机产品描述:通常由照明系统、观察系统、成像系统等组成。可与单独的查看软件配合使用,并实现附加功能。 眼底照相机预期用途:用于拍摄眼部图像,观察和诊断视网膜病变。 眼底照相机品名举例:眼底照相机、数字眼底照相机、免散瞳眼底照相机、免散瞳数码眼底照相机、手持式视网膜照相机、无散瞳数码眼底照相机、手持式免散瞳眼底照相机、眼底摄影机、眼用照相机 眼底照相...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年04月23日
检测项:衰减系数、波长附加衰减 检测样品:通信用室外光缆 标准:GB/T15972.40-2008 光纤试验方法规范 第40部分:传输特性和光学特性的测量方法和试验程序-衰减
检测项:衰减系数 检测样品:通信用光纤 标准:GB/T15972.40-2008 光纤试验方法规范 第40部分:传输特性和光学特性的测量方法和试验程序--衰减
检测项:衰减波长特性 检测样品:通信用光纤 标准:GB/T15972.40-2008 光纤试验方法规范 第40部分:传输特性和光学特性的测量方法和试验程序--衰减
机构所在地:江苏省南通市 更多相关信息>>
检测项:衰减 检测样品: 标准:
检测项:衰减串音比 检测样品: 标准:
检测项:衰减串音比功率和 检测样品: 标准:
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:光谱响应 检测样品:光伏电池 标准:光伏器件光谱响应的测量GB/T6495.8-2002光伏器件光谱响应的测量IEC 60904-8 1998
检测项:光谱响应 检测样品:光伏电池 标准:光伏器件光谱响应的测量GB/T6495.8-2002 IEC 60904-8:1998
检测项:电位诱发衰减(PID)试验 检测样品:光伏组件 标准:地面用晶体硅光伏组件环境适应性测试要求 第3部分:高寒气候条件CQC3305-2013
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:入侵响应 检测样品: 标准:
检测项:衰减 检测样品:数字通信用 实心聚烯烃 绝缘水平 对绞电缆 标准:数字通信用实心聚烯烃 绝缘水平对绞电缆 YD/T 1019-2001
检测项:等电平远端串音及等电平远端串音衰减功率和 检测样品:数字通信用 实心聚烯烃 绝缘水平 对绞电缆 标准:数字通信用实心聚烯烃 绝缘水平对绞电缆 YD/T 1019-2001
机构所在地:浙江省杭州市 更多相关信息>>
检测项:静电衰减时间 检测样品:非织造布 标准:非织造布静电衰减时间的测试方法 YY/T 0867-2011
检测项:全部项目 检测样品:医用X射线防护装置及用具 标准:医用诊断X射线辐射防护器具 第1部分:材料衰减性能的测定 YY 0292.1-1997/IEC 61331-1:1994
检测项:衰减 检测样品:衰减器(程控、步进) 标准:微波元器件性能测试方法 GJB2650-1996
检测项:衰减 检测样品:回转衰减器 标准:微波元器件性能测试方法 GJB2650-1996
检测项:衰减 检测样品:截止衰减器 标准:微波元器件性能测试方法 GJB2650-1996
检测项:部分项目 检测样品:数字通信用电缆 标准:数字通信用对绞或星绞多芯对称电缆 GB/T18015.5-2007/IEC 61156.5:2002
检测项:部分项目 检测样品:同轴通信电缆 标准:漏泄同轴电缆分规范 GB/T15285-1994
检测项:部分项目 检测样品:射频电缆 标准:射频电缆 第1部分:总规范 总则、定义、要求和试验方法 GB/T 17737.1-2000
检测项:声速和衰减 检测样品:超声材料 标准:GB/T18022-2000 《声学 1~10MHz频率范围内橡胶和塑料纵波声速与衰减系数的测量方法》
检测项:声学特性参数全项目 检测样品:水声材料和构件 标准:GB/T5266-2006 《声学 水声材料纵波声速和衰减系数的测量 脉冲管法》
检测项:声速和衰减 检测样品:超声材料 标准:GB/T15261-2008 《超声仿人体组织声学特性的测量方法》
机构所在地:浙江省富阳市 更多相关信息>>
检测项:衰减振荡波试验 检测样品:变电站综合自动化系统 标准:衰减振荡波GB/T17626.12-1998
检测项:绕组频率 响应 检测样品:电力变压器 标准:电力变压器绕组变形的频率响应分析法 DL/T911-2004
检测项:遥信、遥测响应时间测试 检测样品:变电站综合自动化系统 标准:交流采样远动终端技术条件 DL/T 630-1997
检测项:衰减器各控制机构 任意组合时 载波衰减的工作误差 检测样品:信号发生器 标准:GB/T 12115-1989 高频信号发生器测试方法
检测项:衰减器各控制机构 任意组合时 载波衰减的工作误差 检测样品:频谱分析仪 标准:GB 11462-1989 《频谱分析仪测试方法 》
检测项:插入损耗 检测样品:衰减器(程控、步进) 标准:GJB 2650-1996 微波元器件性能测试方法
机构所在地:四川省绵阳市 更多相关信息>>