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血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述:通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。 血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途:与适配试剂配合使用,用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。 血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例:血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年08月07日
检测项:燃烧测试 检测样品:纺织品 标准:织物 耐燃性 垂直定向样品延燃性的测定 ISO 6941:2003
检测项:洗涤尺寸稳定性 检测样品:纺织品 标准:机织物和针织物在家庭洗涤时的尺寸变化 AATCC 135-2012
检测项:燃烧测试 检测样品:纺织品 标准:儿童睡衣燃烧性能测试标准 CPSC 16 CFR 1615/1616-2013
机构所在地:广东省东莞市 更多相关信息>>
检测项:输出高阻态时高电平电流 检测样品:ECL电路 标准:半导体集成电路ECL电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10737-1996
检测项:输出低阻态时低电平电流 检测样品:ECL电路 标准:半导体集成电路ECL电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10737-1996
检测项:输出高阻态时高电平电流 检测样品:TTL电路 标准:半导体集成电路TTL电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10735-1996
机构所在地:湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项:单向多次调焦时仪器示值的变化 检测样品:投影仪 标准:投影仪 JB/T 6830-1993
检测项:最大负载和偏载时的径向误差 检测样品:电感测微仪 标准:数显电感测微仪 JB/T 10014-1999 电感式测微仪 JB/T 10036-1999
检测项:温度变化1℃时,i角变化 检测样品:气动量仪 标准:浮标式气动量仪 JB/T 3760-2008
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:栅源短路时的漏极电流 检测样品:晶体管 标准:半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管 GB/T4587-1994
检测项:电流传输比 检测样品:光电耦合器 标准:半导体器件 分立器件和集成电路 第5部分 光电子器件 GB/T15651-1995 半导体器件分立器件和集成电路 第2部分 整流二极管 GB/T4023-1997 半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管 GB/T4587-1994
检测项:延迟时间 检测样品:混频器 标准:微波元器件性能测试方法 GJB 2650-1996
检测项:*断电时的停车能力 检测样品:电动轮椅车控制系统 标准:ISO7176-14:2008 电动轮椅车动力和控制系统-要求和测试方法
检测项:*电源接通时控制信号 检测样品:电动轮椅车控制系统 标准:ISO7176-14:2008 电动轮椅车动力和控制系统-要求和测试方法
检测项:*充电时抑制行驶 检测样品:轮椅车 标准:GB/T 18029.9-2008 ISO 7176.9:2009 电动轮椅车的气候试验方法
检测项:输入电压跃变时的输出响应 检测样品:混合集成电路 标准:混合集成电路DC/DC变换器 测试方法 SJ20646-1997
检测项:负载跃变时的输出响应 检测样品:混合集成电路 标准:混合集成电路DC/DC变换器 测试方法 SJ20646-1997
检测项:负载阶跃时的恢复时间 检测样品:混合集成电路 标准:混合集成电路DC/DC变换器 测试方法 SJ20646-1997
机构所在地:重庆市 更多相关信息>>
检测项:输入电压跃变时的输出响应VVOR 检测样品:DC/DC变换器 标准:SJ 20646-1997《混合集成电路DC/DC变换器测试方法》
检测项:输出高阻态时高电平电流IOZH 检测样品:半导体集成电路CMOS电路 标准:SJ/T10741-2000《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》
检测项:输出高阻态时低电平电流IOZL 检测样品:半导体集成电路CMOS电路 标准:SJ/T10741-2000《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》
检测项:尺寸变化率 检测样品:纺织品及服装 标准:机织物及针织物在家庭水洗时尺寸稳定性测试 AATCC135-2010
检测项:尺寸变化率 检测样品:纺织品及服装 标准:服装自动家洗时尺寸的变化 AATCC 150-2010
机构所在地:广东省佛山市 更多相关信息>>
检测项:输出高阻态时高电平电流 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项:输出高阻态时低电平电流 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
机构所在地:四川省成都市 更多相关信息>>
检测项:输出高阻态时高电平电流IOZH 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
检测项:输出高阻态时低电平电流IOZL 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
检测项:输出高阻态时低电平电流IOZL 检测样品:半导体集成 电路 (TTL) 标准:半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996