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表观密度(Apparentdensity) 曾称为堆密度、松密度、假密度、貌视密度,表示单位体积(包括空隙在内)物质的质量。 表观密度 测试仪器:表观密度测定仪 查看详情>>
表观密度(Apparentdensity)
曾称为堆密度、松密度、假密度、貌视密度,表示单位体积(包括空隙在内)物质的质量。
表观密度测试仪器:表观密度测定仪
收起百科↑ 最近更新:2017年04月13日
检测项:低温 检测样品:电子和电气产品 标准:GJB150.4A-2009军用装备实验室环境试验方法 第4部分: 低温试验;
检测项:低温 检测样品:电子和电气产品 标准:GJB74A-1998军用地面雷达通用规范。
检测项:温度贮存 检测样品:电子和电气产品 标准:GJB150.4A-2009军用设备环境试验方法 低温试验;
机构所在地:江苏省南京市 更多相关信息>>
检测项:低气压偏差 检测样品:高低温低气压试验设备 标准:电工电子产品环境试验设备检验方法 高低温低气压试验设备 GB/T 5170.10-2008
检测项:气压指示误差 检测样品:低温/低气压/湿热综合顺序试验设备 标准:电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法 低温/低气压/湿热综合顺序试验设备GB/T 5170.17-2005
检测项:温度偏差 检测样品:低温/低气压/湿热综合顺序试验设备 标准:电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法 低温/低气压/湿热综合顺序试验设备GB/T 5170.17-2005
机构所在地:江苏省苏州市 更多相关信息>>
检测项:低温试验 检测样品:电工电子产品、军用设备 标准:GJB150.4-1986 军用设备环境试验方法 低温试验
检测项:低温试验 检测样品:电工电子产品、军用设备 标准:GJB360B-2009 电子及电气元件试验方法 方法108 高温寿命试验
检测项:低温试验 检测样品:电工电子产品、军用设备 标准:GB/T2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温
机构所在地:河南省洛阳市 更多相关信息>>
检测项:低温 检测样品:电工电子产品与军用设备 标准:GJB 4.4-1983 舰船电子设备环境试验方法 低温贮存试验.
检测项:高温 检测样品:电工电子产品与军用设备 标准:GJB 150.4-1986 军用设备环境试验方法 低温试验
检测项:高温 检测样品:电工电子产品与军用设备 标准:GJB 150.4A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第4部分:低温试验
检测项:低温试验 检测样品:电工电子产品 标准:电工电子产品环境试验 第2部份:试验方法 试验A:低温 GB/T 2423.1-2008
机构所在地:浙江省杭州市 更多相关信息>>
检测项:低温试验 检测样品: 标准:环境试验方法 第2-1部分 试验A:低温 IEC 60068-2-1:2007
检测项:低温试验 检测样品:食品 标准:环境试验方法 第2-1部分 试验A:低温 IEC 60068-2-1:2007
机构所在地:湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项:环境试验- 低温 检测样品:金属及塑料零部件 标准:《电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法试验A:低温》GB/T2423.1–2008
机构所在地:湖北省襄阳市 更多相关信息>>
检测项:低温 检测样品:电子、 电工产品 标准:《电工电子产品环境试验 第2部份:试验方法 试验A: 低温》 GB/T2423.1-2008
检测项:高温 检测样品:电子、 电工产品 标准:《军用装备实验室环境试验方法 第4部分 低温试验》GJB150.4A-2009
检测项:高温 检测样品:电子、 电工产品 标准:《军用设备环境试验方法 低温试验》 GJB150.4-1986
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:低温试验 检测样品:机电产品 标准:电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温 GB/T 2423.1-2008
检测项:低温试验 检测样品:机电产品 标准:军用装备实验室环境试验方法 第3部分:高温试验 GJB 150.3A-2009
检测项:温度-高度 检测样品:机电产品 标准:舰船电子设备环境试验 低温试验 GJB 4.3-1983
机构所在地: 更多相关信息>>
检测项:低温 检测样品:电子电工产品 标准:电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温 GB/T 2423.1-2008
检测项:低温 检测样品:电子电工产品 标准:电工电子产品 6种管制物质(铅、汞、镉、六价铬、多溴联苯、多溴二苯醚)水平的测定 IEC 62321-2008 第六部分
机构所在地:湖南省长沙市 更多相关信息>>