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YY/T 1292.1-2015医疗器械生殖和发育毒性试验 第1部分:筛选试验 YY/T 1292.2-2015医疗器械生殖和发育毒性试验 第2部分:胚胎发育毒性试验 YY/T 1292.3-2016医疗器械生殖和发育毒性试验 第3部分:一代生殖毒性试验 YY/T 1292.4-2017医疗器械生殖和发育毒性试验 第4部分:两代生殖毒性试验 查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2022年04月19日
检测项:高温 检测样品:电工电子产品与军用设备 标准:GB/T 28046.4-2011 道路车辆-电气及电子设备的环境条件和试验 第4部分:气候负荷 5.1.1低温试验
检测项:高温 检测样品:电工电子产品与军用设备 标准:GB/T 28046.4-2011 道路车辆-电气及电子设备的环境条件和试验 第4部分:气候负荷 5.1.2高温试验
检测项:交变 湿热 检测样品:电工电子产品与军用设备 标准:GB/T 28046.4-2011 道路车辆-电气及电子设备的环境条件和试验 第4部分:气候负荷 5.7稳态湿热
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:低温贮存(仅对非固体电解质电容器) 检测样品:固体和非固体电解质铝电容器 标准:电子设备用固定电容器第四部分:分规范:固体和非固体电解质铝电容器 GB/T 5993-2003 IEC 60384-4(1985) QC 300300
检测项:高温贮存 检测样品:固体和非固体电解质铝电容器 标准:电子设备用固定电容器第四部分:分规范:固体和非固体电解质铝电容器 GB/T 5993-2003 IEC 60384-4(1985) QC 300300
机构所在地:江苏省常州市 更多相关信息>>
检测项:高温 检测样品:光学仪器 标准:GB/T25480-2010 《仪器仪表运输、贮存基本环境条件及试验方法》 GB12085.2-2010 《光学和光学仪器 环境试验方法 第2部分:低温、高温、湿热》 GB12085.13-2010 《光学和光学仪器 环境试验方法 第13部分: 冲击、碰撞
检测项:低温 检测样品: 标准:
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:低温贮存 检测样品:电容器 标准:电子设备用固定电容器 第1部分:总规范 GB/T 2693-2001 电子设备用固定电容器第4部分:分规范固体和非固体电解质铝电容器 GB/T 5993-2003
检测项:低温贮存试验 检测样品:通信用直流-直流模块电源 标准:电子组件的可接受性IPC-A-610E-2010
机构所在地:广东省深圳市 更多相关信息>>
检测项:温度贮存 检测样品:电子和电气产品 标准:GJB150.4A-2009军用设备环境试验方法 低温试验;
检测项:温度贮存 检测样品:电子和电气产品 标准:GJB150.3A -2009军用设备环境试验方法 高温试验;
检测项:温度贮存 检测样品:电子和电气产品 标准:GJB74A-1998军用地面雷达通用规范;
机构所在地:江苏省南京市 更多相关信息>>
检测项:低温试验 检测样品:电工电子产品 标准:GJB4.4-1983《船舶电子设备环境试验》低温贮存试验
检测项:高温贮存 检测样品:军用设备和分系统 标准:GJB128A-1997 半导体分立器件试验方法 方法1031
检测项:低温试验 检测样品:军工及民用电子、通讯、机械类设备 标准:舰船电子设备环境试验 低温贮存试验 GJB4.4-1983
检测项:低温试验 检测样品:军工及民用电子、通讯、机械类设备 标准:舰船电子设备环境试验 低温试验 GJB4.3-1983
机构所在地:陕西省西安市 更多相关信息>>
检测项:低温贮存 检测样品:电容器 标准:功率型线绕固定电阻器总规范GJB2828-1997
检测项:低温贮存 检测样品:二极管 标准:有可靠性指标的铝电解电容器总规范 GJB603-1988
检测项:高温贮存 检测样品:二极管 标准:有可靠性指标的铝电解电容器总规范 GJB603-1988
检测项:低温试验 检测样品:军用及民用机械、电子类产品 标准:舰船电子设备环境试验 低温贮存试验 GJB4.4-1983
检测项:低温试验 检测样品:军用及民用机械、电子类产品 标准:微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法1008.1
检测项:低温试验 检测样品:军用及民用机械、电子类产品 标准:军用设备环境试验方法 低温试验 GJB150.4-1986
机构所在地:重庆市 更多相关信息>>
检测项:低温 试验 检测样品:机电设备及电子电工产品 标准:舰船电子设备环境试验 低温贮存试验 GJB 4.4-1983
检测项:低温 试验 检测样品:机电设备及电子电工产品 标准:军用设备环境试验方法 低温试验 GJB 150.4-1986
检测项:低温 试验 检测样品:机电设备及电子电工产品 标准:舰船电子设备环境试验 低温试验 GJB 4.3-1983