侧面碰撞乘员保护检测实验

防龋材料

简介

防龋材料

简介

防龋材料产品描述：一般采用树脂基材料或含氟材料制成。

防龋材料预期用途：用于预防龋齿，封闭牙齿窝沟点隙，阻断细菌进入，或提高牙齿釉质的耐酸蚀性。

防龋材料品名举例：氟保护剂、氟保护漆、氟化泡沫、氟防龋材料、防龋凝胶、光固化窝沟封闭剂、窝沟封闭剂、牙科树脂基窝沟封闭剂

防龋材料管理类别：Ⅱ

防龋材料相关指导原则：
1、窝沟封闭剂产品注册审查指导原则

防龋材料相关标准：
1、YY/T 0632-2008 《牙齿漂白材料过氧化物含量的测定方法》
2、YY/T 0623-2008 《牙科材料可溶出氟的测定方法》

防龋材料相关检测项目：
1 . pH值《牙科氟化物防龋材料： YY/T 0823-2020》
2 . 可溶出氟含量《牙科氟化物防龋材料： YY/T 0823-2020》《牙科材料可溶出氟的测定方法： YY/T 0623-2008》
3 . 总氟含量《牙科氟化物防龋材料： YY/T 0823-2020》
4 . 重金属总含量《牙科氟化物防龋材料： YY/T 0823-2020》
5 . 砷含量《牙科氟化物防龋材料： YY/T 0823-2020》
6 . 微生物限度《牙科氟化物防龋材料： YY/T 0823-2020》

收起百科↑ 最近更新：2023年06月12日

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检测项：电动汽车专用部分检测样品：变速器标准：GB/T18384.1-2001电动汽车安全要求第1部分：车载储能装置

检测项：电磁兼容性检测样品：汽车标准：GB 14023-2011车辆、船和内燃机无线电骚扰特性用于保护车外接收机的限值和测量方法

检测项：电磁兼容性检测样品：汽车标准：GB/T18655-2010车辆、船和内燃机无线电骚扰特性用于保护车载接收机的限值和测量方法

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陕西千山航空电子有限责任公司检测中心

检测项：粒子碰撞噪声检测检测样品：固定电阻器标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005 中方法1015A

检测项：粒子碰撞噪声检测检测样品：固定电阻器标准：微电子器件试验方法和程序GJB548A-96中方法2020A

检测项：颗粒碰撞噪声检测检测样品：半导体分立器件标准：半导体分立器件试验方法GJB128A-97中方法2052

机构所在地：陕西省西安市更多相关信息>>

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上海出入境检验检疫局工业品与原材料检测技术中心

检测项：碰撞检测样品：锂二次电池标准：蜂窝电话用锂离子电池总规范

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上海电缆研究所检测中心

检测项：部分项目检测样品：射频电缆标准：射频同轴电缆组件第2-1部分：柔软同轴电缆组件分规范 GB/T15866-1995 IEC 966-2-1:1991

检测项：部分项目检测样品：射频电缆标准：射频同轴电缆组件第4部分：半硬同轴电缆组件分规范 GB/T15867-1995 IEC 966-4:1991

检测项：部分项目检测样品：射频电缆标准：射频同轴电缆组件第3部分：半柔软同轴电缆组件分规范 GB/T 16531-1996 IEC 966-3:1993

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中国航空综合技术研究所航空综合环境航空科技重点实验室

检测项：颗粒碰撞噪声检测检测样品：电子元器件标准：GJB128A-1997 《半导体分立器件试验方法》

检测项：颗粒碰撞噪声检测检测样品：电子元器件标准：GJB4027A-2006《军用电子元器件破坏物理分析方法》

检测项：颗粒碰撞噪声检测检测样品：电子元器件标准：GJB548B-2005《微电子器件试验方法和程序》

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贵州航天计量测试技术研究所

检测项：微粒碰撞噪声检测检测样品：半导体分立器件标准：《半导体分立器件试验方法》GJB128A-1997

检测项：粒子碰撞噪声检测检测样品：半导体分立器件标准：《半导体分立器件试验方法》GJB128A-1997

检测项：粒子碰撞噪声检测检测样品：微电子器件标准：《微电子器件试验方法和程序》GJB548B-2005

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天津市检测技术研究所

检测项：弯曲性能检测样品：金属材料及金属制品标准：金属材料焊接的破坏性试验碰撞试验试验样品的位置、切口的朝向和检查 ISO 9016-2012

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检测项：碰撞试验检测样品：锂电池标准：锂离子蓄电池总规范 QB/T 2502-2000

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湖北出入境检验检疫局检验检疫技术中心（湖北中检检测有限公司）

检测项：碰撞检测样品：蜂窝电话用镉镍电池标准：蜂窝电话用镉镍电池总规范 GB/T 18289-2000

检测项：碰撞检测样品：蜂窝电话用镉镍电池标准：蜂窝电话用镉镍电池总规范 GB/T 18289-2000

检测项：碰撞试验检测样品：原电池标准：原电池第1部分 GB/T 8897.1-2008 总则原电池第2部分：外形尺寸和技术要素 GB/T 8897.2-2008

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中国电子科技集团公司第十三研究所检测中心

检测项：颗粒碰撞噪声检测检测样品：半导体分立器件失效分析标准：GJB 3157-1998 半导体分立器件失效分析方法和程序

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检测项：粒子碰撞噪声检测检测样品：军用电子元器件破坏性物理分析标准：1、GJB 4027A-2006 军用电子元器件破坏性物理分析方法 2、GJB 5914-2006 各种质量等级军用半导体器件破坏性物理分析方法 3、GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 4、GJB 360A-1996 电子及

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