元器件和组装检测实验

生殖和发育毒性

简介

YY/T 1292.1-2015医疗器械生殖和发育毒性试验第1部分：筛选试验 YY/T 1292.2-2015医疗器械生殖和发育毒性试验第2部分：胚胎发育毒性试验 YY/T 1292.3-2016医疗器械生殖和发育毒性试验第3部分：一代生殖毒性试验 YY/T 1292.4-2017医疗器械生殖和发育毒性试验第4部分：两代生殖毒性试验查看详情>>

生殖和发育毒性

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YY/T 1292.1-2015医疗器械生殖和发育毒性试验第1部分：筛选试验
YY/T 1292.2-2015医疗器械生殖和发育毒性试验第2部分：胚胎发育毒性试验
YY/T 1292.3-2016医疗器械生殖和发育毒性试验第3部分：一代生殖毒性试验
YY/T 1292.4-2017医疗器械生殖和发育毒性试验第4部分：两代生殖毒性试验

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收起百科↑ 最近更新：2022年04月19日

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中国工程物理研究院计量测试中心

检测项：X射线检查检测样品：无键合引线轴向引线玻璃外壳和玻璃钝化封装二极管标准：GJB 4027A-2006 《军用电子元器件破坏性物理分析方法》

检测项：密封检测样品：无键合引线轴向引线玻璃外壳和玻璃钝化封装二极管标准：GJB 4027A-2006 《军用电子元器件破坏性物理分析方法》

检测项：内部气体成份分析检测样品：无键合引线轴向引线玻璃外壳和玻璃钝化封装二极管标准：GJB 4027A-2006 《军用电子元器件破坏性物理分析方法》

机构所在地：四川省绵阳市更多相关信息>>

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湖北航天技术研究院计量测试技术研究所

检测项：高低温测试检测样品：电子元器件试验标准：微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法5004.2筛选程序

检测项：静态参数检测样品：电子元器件试验标准：微电子器件试验方法和程序方法 GJB 548B-2005 2009.1 外部目检；半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997方法2071外观及机械检查

检测项：动态参数检测样品：电子元器件试验标准：微电子器件试验方法和程序方法 GJB 548B-2005 2009.1 外部目检；半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997方法2071外观及机械检查

机构所在地：湖北省孝感市更多相关信息>>

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西南技术物理研究所检测校准中心实验室

检测项：输入失调电流检测样品：电子元器件标准：微电路试验方法和程序GJB 548B-2005

检测项：输入偏置电流检测样品：电子元器件标准：微电路试验方法和程序GJB 548B-2005

检测项：静态功耗检测样品：电子元器件标准：微电路试验方法和程序GJB 548B-2005

机构所在地：四川省成都市更多相关信息>>

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中国电子科技集团公司第五十八研究所检测中心

检测项：耐湿（交变）检测样品：电子元器件标准：微电子器件试验方法和程序　GJB548B-2005 方法1004.1

检测项：温度冲击（气体介质）检测样品：电子元器件标准：微电子器件试验方法和程序　GJB548B-2005 方法1010.1

检测项：盐雾（腐蚀）检测样品：电子元器件标准：微电子器件试验方法和程序　GJB548B-2005 方法1011.1

机构所在地：江苏省无锡市更多相关信息>>

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华东光电集成器件研究所计量测试中心

检测项：稳态湿热检测样品：电子元器件标准：微电子器件试验方法和程序　GJB548B-2005方法1004.1

检测项：热冲击（液体介质）检测样品：电子元器件标准：微电子器件试验方法和程序　 GJB548A-1996方法1011A

检测项：盐雾（腐蚀）检测样品：电子元器件标准：微电子器件试验方法和程序　 GJB548B-2005方法1011.1

机构所在地：安徽省蚌埠市更多相关信息>>

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东莞市安瑞环保科技有限公司

检测项：特定偶氮化合物检测样品：电子电器产品(聚合物、金属、电子元器件）中有害物质标准：GB/T 19942-2005 皮革和毛皮偶氮的测定

检测项：总铅检测样品：电子电器产品(聚合物、金属、电子元器件）中有害物质标准：US EPA 3052:1996 硅土和有机质的微波辅助酸消解

检测项：总汞检测样品：电子电器产品(聚合物、金属、电子元器件）中有害物质标准：US EPA 3052:1996 硅土和有机质的微波辅助酸消解

机构所在地：广东省东莞市更多相关信息>>

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陕西省电子技术研究所电子元器件检测筛选中心

检测项：外部目检检测样品：微电子器件标准：微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005

检测项：输出电流（IO）检测样品：二极管标准：半导体器件分立器件和集成电路第2部分：整流二极管　 GB/T4023-1997 半导体器件分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管 GB/T6571-1995

检测项：输出纹波电压（VRIP）检测样品：二极管标准：半导体器件分立器件和集成电路第2部分：整流二极管　 GB/T4023-1997 半导体器件分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管 GB/T6571-1995

机构所在地：陕西省西安市更多相关信息>>

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奇宏电子（深圳）有限公司实验室

检测项：声压检测样品：电子电气产品中的聚合物/其它元器件标准：声学信息技术设备和通信设备空气噪声的测量 GB/T 18313-2001

检测项：卤素（溴、氯）检测样品：电子电气产品中的聚合物/其它元器件标准：BS EN 14582:2007 废弃物特性描述 - 卤素和硫含量 - 密闭系统内氧气燃烧法和测定方法

检测项：声功率检测样品：电子电气产品中的聚合物/其它元器件标准：声学信息技术设备和电信设备发出的空气噪声的测量第三版ISO 7779:2010

机构所在地：广东省深圳市更多相关信息>>

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中国空空导弹研究院元器件检测中心

检测项：基准输出电压VRO 检测样品：晶体三极管标准：GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路第7部分:双极型晶体管

检测项：输入偏置电流IIB 检测样品：晶体三极管标准：GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路第7部分:双极型晶体管

检测项：输入失调电流IIO 检测样品：晶体三极管标准：GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路第7部分:双极型晶体管

机构所在地：河南省洛阳市更多相关信息>>

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上海无线电设备研究所环境与检测实验室

检测项：老炼试验检测样品：元器件筛选标准：《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548B-2005

检测项：温度循环检测样品：元器件筛选标准：《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548B-2005

检测项：密封试验检测样品：元器件筛选标准：《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548B-2005

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