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YY/T 1292.1-2015医疗器械生殖和发育毒性试验 第1部分:筛选试验 YY/T 1292.2-2015医疗器械生殖和发育毒性试验 第2部分:胚胎发育毒性试验 YY/T 1292.3-2016医疗器械生殖和发育毒性试验 第3部分:一代生殖毒性试验 YY/T 1292.4-2017医疗器械生殖和发育毒性试验 第4部分:两代生殖毒性试验 查看详情>>
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检测项:安全 检测样品:电信终端 标准:YD/T 965-1998电信终端设备的安全要求和试验方法
检测项:全部项目 检测样品:网桥/路由器设备 标准:YD/T 1344-2005 IPv6地址结构协议——IPv6无状态地址自动配置
检测项:全部项目 检测样品:SDH 设备及光交换传送设备 标准:ITU-T G.8080/807自动交换光网络的结构/自动交换传送网络的需求
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:元器件和组件 检测样品:安防工程 标准:安全防范工程技术规范 GB50348-2004
检测项:网电源部分元器件和布线 检测样品:安防工程 标准:安全防范工程技术规范 GB50348-2004
检测项:外观和结构 检测样品:汽车收、放、扩音机 标准:汽车收、放、扩音机 测量方法 SJ/T10448-1993
机构所在地:河南省郑州市 更多相关信息>>
检测项:X射线检查 检测样品:无键合引线轴向引线玻璃外壳和玻璃钝化封装二极管 标准:GJB 4027A-2006 《军用电子元器件破坏性物理分析方法 》
检测项:密封 检测样品:无键合引线轴向引线玻璃外壳和玻璃钝化封装二极管 标准:GJB 4027A-2006 《军用电子元器件破坏性物理分析方法 》
检测项:内部气体成份分析 检测样品:无键合引线轴向引线玻璃外壳和玻璃钝化封装二极管 标准:GJB 4027A-2006 《军用电子元器件破坏性物理分析方法 》
机构所在地:四川省绵阳市 更多相关信息>>
检测项:高低温测试 检测样品:电子元器件试验 标准:微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法5004.2筛选程序
检测项:静态参数 检测样品:电子元器件试验 标准:微电子器件试验方法和程序方法 GJB 548B-2005 2009.1 外部目检;半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997方法2071外观及机械检查
检测项:动态参数 检测样品:电子元器件试验 标准:微电子器件试验方法和程序方法 GJB 548B-2005 2009.1 外部目检;半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997方法2071外观及机械检查
机构所在地:湖北省孝感市 更多相关信息>>
检测项:输入失调电流 检测样品:电子元器件 标准:微电路试验方法和程序GJB 548B-2005
检测项:输入偏置电流 检测样品:电子元器件 标准:微电路试验方法和程序GJB 548B-2005
检测项:静态功耗 检测样品:电子元器件 标准:微电路试验方法和程序GJB 548B-2005
机构所在地:四川省成都市 更多相关信息>>
检测项:耐湿 (交变) 检测样品:电子元器件 标准:微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法1004.1
检测项:温度冲击 (气体介质) 检测样品:电子元器件 标准:微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法1010.1
检测项:盐雾 (腐蚀) 检测样品:电子元器件 标准:微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法1011.1
机构所在地:江苏省无锡市 更多相关信息>>
检测项:稳态湿热 检测样品:电子元器件 标准:微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005方法1004.1
检测项:热冲击(液体介质) 检测样品:电子元器件 标准:微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996方法1011A
检测项:盐雾(腐蚀) 检测样品:电子元器件 标准:微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005方法1011.1
机构所在地:安徽省蚌埠市 更多相关信息>>
检测项:特定偶氮化合物 检测样品:电子电器产品(聚合物、金属、电子元器件)中有害物质 标准:GB/T 19942-2005 皮革和毛皮偶氮的测定
检测项:总铅 检测样品:电子电器产品(聚合物、金属、电子元器件)中有害物质 标准:US EPA 3052:1996 硅土和有机质的微波辅助酸消解
检测项:总汞 检测样品:电子电器产品(聚合物、金属、电子元器件)中有害物质 标准:US EPA 3052:1996 硅土和有机质的微波辅助酸消解
机构所在地:广东省东莞市 更多相关信息>>
检测项:外部目检 检测样品:微电子器件 标准:微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005
检测项:输出电流(IO) 检测样品:二极管 标准:半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分:整流二极管 GB/T4023-1997 半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管 GB/T6571-1995
检测项:输出纹波电压(VRIP) 检测样品:二极管 标准:半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分:整流二极管 GB/T4023-1997 半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管 GB/T6571-1995
机构所在地:陕西省西安市 更多相关信息>>
检测项:声压 检测样品:电子电气产品中的聚合物/其它元器件 标准:声学 信息技术设备和通信设备空气噪声的测量 GB/T 18313-2001
检测项:卤素 (溴、氯) 检测样品:电子电气产品中的聚合物/其它元器件 标准:BS EN 14582:2007 废弃物特性描述 - 卤素和硫含量 - 密闭系统内氧气燃烧法和测定方法
检测项:声功率 检测样品:电子电气产品中的聚合物/其它元器件 标准:声学 信息技术设备和电信设备发出的空气噪声的测量 第三版ISO 7779:2010
机构所在地:广东省深圳市 更多相关信息>>