光电探测器检测实验

X射线探测器

简介

X射线平板探测器，X射线CCD探测器，X射线动态平板探测器，数字化X射线成像系统，牙科数字化X射线成像系统，口腔数字化X射线成像

X射线探测器

简介

X射线探测器产品描述：X射线探测器（包括平板探测器或光电耦合器（CCD）探测器等）采用特定的光电转换介质将穿过人体的X射线信号转化为数字信号。影像系统一般包括图像传输，处理和显示系统。

X射线探测器预期用途：装配于或配合诊断X射线机，用于将X射线信号转化为数字信号。

X射线探测器品名举例：X射线平板探测器、X射线CCD探测器、X射线动态平板探测器

X射线探测器管理类别：Ⅱ

数字化X射线成像系统产品描述：暂无内容

数字化X射线成像系统预期用途：暂无内容

数字化X射线成像系统品名举例：数字化X射线成像系统、牙科数字化X射线成像系统、口腔数字化X射线成像系统、X射线平板探测器及其影像系统

数字化X射线成像系统管理类别：Ⅱ

X射线探测器相关指导原则：
1、含儿科应用的医用诊断X射线设备注册审查指导原则
2、医用诊断X射线管组件注册技术审查指导原则

X射线探测器相关标准：
1、GB/T 17006.6-2003 医用成像部门的评价及例行试验第2-4部分：硬拷贝照相机稳定性试验
2、GB/T 17006.11-2015 医用成像部门的评价及例行试验第2-6部分：X射线计算机体层摄影设备成像性能稳定性试验下
3、GB/T 17006.8-2003 医用成像部门的评价及例行试验第2-9部分：稳定性试验间接透视和间接摄影X射线设备

收起百科↑ 最近更新：2023年03月09日

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国光电器股份有限公司检测中心

检测项：故障条件检测样品：标准：

检测项：电气间隙和爬电距离检测样品：标准：

检测项：额定噪声电压检测样品：扬声器及扬声器系统环境试验标准：EIA-426-B-1998扬声器，最佳功放功率

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常州亿晶光电科技有限公司组件测试实验室

检测项：可接触性试验检测样品：标准：

检测项：抗划伤试验检测样品：标准：

检测项：接地连续性试验检测样品：标准：

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厦门立达信光电有限公司照明实验室

检测项：保护接地装置检测样品：标准：

检测项：防潮与绝缘检测样品：标准：

检测项：介电强度检测样品：标准：

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广州市鸿利光电股份有限公司实验室

检测项：色温检测样品：标准：

检测项：正向电压检测样品：标准：

检测项：反向电流检测样品：标准：

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武汉中原电子集团有限公司计量检测中心

检测项：正向电压VF 检测样品：光电耦合器标准：半导体分立器件和集成电路第5-2部分：光电子器件基本额定值和特性 GB/T 15651.2-2003

检测项：工作电压VZ 检测样品：光电耦合器标准：半导体分立器件和集成电路第5-2部分：光电子器件基本额定值和特性 GB/T 15651.2-2003

检测项：正向电压VF 检测样品：光电耦合器标准：半导体分立器件和集成电路第5-2部分：光电子器件基本额定值和特性 GB/T 15651.2-2003

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天津汽车检测中心

检测项：部分项目检测样品：光源标准：76/761/EEC 在机动车辆远光和/或近光前照灯以及在已批准的灯具中装用的光源（白炽灯泡和其它）方面协调统一各成员国法律的理事会指令

检测项：部分项目检测样品：光源标准：76/761/EEC 在机动车辆远光和/或近光前照灯以及在已批准的灯具中装用的光源（白炽灯泡和其它）方面协调统一各成员国法律的理事会指令

检测项：*全部项目检测样品：倒车灯标准：GB 15766.1-2008 道路机动车辆灯泡尺寸、光电性能要求 GB/T 15766.2-2007 道路机动车辆灯泡性能要求

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中国船舶重工集团公司第723研究所电工电子设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：电压调整率检测样品：光电器件标准：《半导体器件分立器件和集成电路第5部分-3 光电子器件测试方法》GB/T15651.3-2003

检测项：电流调整率检测样品：光电器件标准：《半导体器件分立器件和集成电路第5部分-3 光电子器件测试方法》GB/T15651.3-2003

检测项：静态电流检测样品：光电器件标准：《半导体器件分立器件和集成电路第5部分-3 光电子器件测试方法》GB/T15651.3-2003

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贵州航天计量测试技术研究所

检测项：正向电压VF 检测样品：光电耦合器标准：《半导体器件分立器件和集成电路第5部分：光电子器件》GB/T 15651-1995 《半导体分立器件试验方法》GJB 128A-1997

检测项：击穿电压V(BR) 检测样品：光电耦合器标准：《半导体器件分立器件和集成电路第5部分：光电子器件》GB/T 15651-1995 《半导体分立器件试验方法》GJB 128A-1997

检测项：工作电压VZ 检测样品：光电耦合器标准：《半导体器件分立器件和集成电路第5部分：光电子器件》GB/T 15651-1995 《半导体分立器件试验方法》GJB 128A-1997

机构所在地：贵州省贵阳市更多相关信息>>

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上海宝钢化工有限公司宝山分公司化验室

检测项：Al、As、C、Co、Cr、Cu、Mn、Mo、Ni、P、S、Si、Sn、Ti、V、W 检测样品：不锈钢的光电发射光谱分析标准：《不锈钢的光电发射光谱分析方法》 GB/T11170-2008

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萧山区质量计量监测中心

检测项：Al、As、C、Co、Cr、Cu、Mn、Mo、Ni、P、Pb、S、Sb、Si、Sn、Ti、V、W 检测样品：不锈钢的光电发射光谱分析标准：《不锈钢的光电发射光谱分析方法》 GB/T11170-2008

检测项：Al、As、C、Co、Cr、Cu、Mn、Mo、Ni、P、S、Si、Sn、Ti、V、W 检测样品：不锈钢的光电发射光谱分析标准：《不锈钢的光电发射光谱分析方法》 GB/T11170-2008

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