宁波市信测检测技术有限公司

检测项：浪涌（冲击）抗扰度 检测样品：在工业环境中工作的电气电子设备 标准：电磁兼容 通用标准居住、商业和轻工业环境中的抗扰度试验 GB/T 17799.1-1999 IEC

检测项：静电放电抗扰度 检测样品：在居住、商业和轻工业环境中工作的电气电子设备 标准：电磁兼容 通用标准居住、商业和轻工业环境中的抗扰度试验 GB/T 17799.1-1999 IEC

检测项：电快速瞬变脉冲群抗扰度(EMC) 检测样品：电子电器设备 标准：电磁兼容 试验和测量技术 电快速瞬变脉冲群抗扰度试验 GB/T 17626.4-2008 EN 61000-4-4:2012 IEC 61000-4-4:2012

机构所在地：浙江省宁波市 更多相关信息>>

中国质量认证中心华南实验室

检测项：射频电磁场辐射抗扰度 检测样品：电子电气设备 标准：射频电磁场辐射抗扰度试验 GB/T17626.3-2006 IEC61000-4-3:2008 EN 61000-4-3:2006

检测项：浪涌（冲击）抗扰度 检测样品：电子电气设备 标准：浪涌（冲击）抗扰度试验 GB/T17626.5-2008 IEC61000-4-5:2005 EN61000-4-5:2006

检测项：谐波、谐间波及电网信号的低频抗扰度 检测样品：电子电气设备 标准：电磁兼容 试验和测量技术 交流电源端口谐波、谐间波及电网信号的低频抗扰度试验 GB/T17626.13-2006 IEC61000-4-13:2002 EN 61000-4-13:2002

机构所在地：广东省中山市 更多相关信息>>

东莞市信测科技有限公司

检测项：浪涌（冲击）抗扰度 检测样品：电子电器设备 标准：GB/T 17626.5-2008 IEC 61000-4-5 :2005 EN 61000-4-5 :2006 浪涌（冲击）抗扰度试验

检测项：电磁兼容抗扰度 检测样品：电子电器设备 标准：GB/T 17799.1-1999 IEC 61000-6-1:2005 EN 61000-6-1:2007 电磁兼容 通用标准 居住、商业和轻工业环境中的抗扰度试验

检测项：无线电骚扰特性 检测样品：电子电器设备 标准：GB/T 17799.2-2003 IEC 61000-6-2:2005 EN 61000-6-2:2005 电磁兼容通用标准 工业环境中的抗扰度试验

机构所在地：广东省东莞市 更多相关信息>>

深圳市北测检测技术有限公司

检测项：电快速瞬变脉冲群抗扰度试验 检测样品：信息技术设备 标准：信息技术设备抗扰度限值和测量方法 GB/T 17618-1998 CISPR 24:2010 EN 55024:2010

检测项：浪涌（冲击）抗扰度试验 检测样品：信息技术设备 标准：信息技术设备抗扰度限值和测量方法 GB/T 17618-1998 CISPR 24:2010 EN 55024:2010

检测项：浪涌（冲击）抗扰度试验 检测样品：信息技术设备 标准：信息技术设备抗扰度限值和测量方法 GB/T 17618-1998 CISPR 24:2010 EN 55024:2010

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十三研究所检测中心

检测项：共模抑制比CMRR 检测样品：半导体集成电路 （运算放大器、电压比较器） 标准：1、GB/T 4589.1-2006 半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范 2、GB/T 16464-1996 半导体器件 集成电路 第1部分 总则

检测项：共模抑制比CMRR 检测样品：半导体集成电路 （运算放大器、电压比较器） 标准：1、GB/T 4589.1-2006 半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范 2、GB/T 16464-1996 半导体器件 集成电路 第1部分 总则

检测项：安全试验 检测样品：LED 照明产品 标准：1、LB/T 001-2009 整体式LED路灯的测量方法（第二版） 2、GB 7000.1-2007灯具 第1部分：一般要求与试验 3、GB/T 9468-2008 灯具分布光度测量的一般方法 4、GB/T 19658-2005 反射灯中心光强和

机构所在地：河北省石家庄市 更多相关信息>>

中国空空导弹研究院元器件检测中心

检测项：共模输入电压Vicm 检测样品：模拟/混合集成电路 标准：GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 17940-2000半导体器件集成电路 第3部分 模拟集成电路 GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 14028-199

检测项：共模抑制比CMRR 检测样品：模拟/混合集成电路 标准：GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 17940-2000半导体器件集成电路 第3部分 模拟集成电路 GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 14028-199

检测项：共摸抑制比KCMR 检测样品：混合集成电路A/D、D/A变换器 标准：SJ 20961-2006集成电路A/D、D/A转换器测试方法的基本原理

机构所在地：河南省洛阳市 更多相关信息>>

施耐德电气(中国)有限公司上海分公司电力实验室

检测项：低于150kHz频率范围内的共模传导骚扰 检测样品：家用和类似用途的带过电流保护的剩余电流动作断路器（RCBO） 标准：家用和类似用途的带过电流保护的剩余电流动作断路器（RCBO） 第1部分：一般规则 GB 16917.1-2003 (A1:2010) IEC 61009-1:2010

检测项：低于150kHz频率范围内的共模传导骚扰 检测样品：家用和类似用途的带过电流保护的剩余电流动作断路器（RCBO） 标准：家用和类似用途的带过电流保护的剩余电流动作断路器（RCBO） 第1部分：一般规则 GB 16917.1-2003 (A1:2010) IEC 61009-1:2010

检测项：低于150kHz频率范围内的共模传导骚扰 检测样品：低压开关设备和控制设备 断路器 标准：低压开关设备和控制设备 第二部分：断路器 GB 14048.2-2008 IEC 60947-2:2006 +A1:2009+A2:2013

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司

检测项：共模抑制比KCMR 检测样品：半导体集成电路（稳压器） 标准：1.GB/T 4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法基本原理 2.GB/T 4589.1-2006半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范

检测项：共模抑制比KCMR 检测样品：半导体集成电路（运算放大器） 标准：1.SJ/T10738-1996半导体集成电路 运算（电压）放大器测试方法的基本原理 2.GB/T 4589.1-2006半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范 3.GB/T 16464-1996半导体器件

检测项：低温试验 检测样品：电子元器件(气候试验) 标准：1.GJB150.4A-2009军用设备实验室环境试验方法，第4部分 2.GB/T2423.1-2008电工电子产品环境试验，第2部分 试验A

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

东莞市凯威检测技术有限公司

检测项：射频共模 检测样品：工业环境中的电气和电子设备 标准：电磁兼容 通用标准 工业环境中的发射标准 GB 17799.4-2001 IEC 61000-6-4:2006 EN 61000-6-4:2007 AS/NZS 61000.6.4:2007 FCC Part 15:2010

检测项：射频共模 检测样品：工业、科学、医疗设备 标准：工业、科学和医疗（ISM）射频设备电磁骚扰特性的测量方法和限值 GB 4824-2004 CISPR 11:2009+A1:2010 EN 55011:2009+A1:2010 AS/NZS CISPR 11:2011

检测项：射频共模 检测样品：信息技术设备 标准：信息技术设备 安全 第1部分:通用要求 GB 4943.1-2011 IEC 60950-1:2005+A1:2012 EN 60950-1:2006+A1:2010+A11:2009+A12:2011 UL 60950-1

机构所在地：广东省东莞市 更多相关信息>>

中国质量认证中心华东实验室

检测项：电信端口的传导共模骚扰 检测样品：信息技术设备及声音和电视广播接收机及有关设备 标准：电磁兼容 限值 谐波电流发射限值（设备每相输入电流≤16A） GB/T 17625.1-2012 IEC 61000-3-2-A2:2009

检测项：抗电强度 检测样品：单路输出式交流-直流和交流-交流外部电源 标准：单路输出式交流-直流和交流-交流外部电源能效限定值及节能评价值 GB 20943-2013

机构所在地：上海市 更多相关信息>>