共模、串模抗扰度试验检测实验

血糖及血糖相关参数分析仪器

简介

血糖及血糖相关参数分析仪器

简介

血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述：通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。

血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途：与适配试剂配合使用，用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。

血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例：血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血脂监测仪、血糖血酮仪、血酮体测试仪、葡萄糖/乳酸分析仪、尿酸/血糖分析仪、血脂/血糖分析仪、血糖/胆固醇两用检测仪、血糖/胆固醇/甘油三酯/乳酸分析仪、血脂分析仪

血糖及血糖相关参数分析仪器管理类别：Ⅱ

血糖及血糖相关参数分析仪器相关指导原则：
1、血糖仪注册技术审查指导原则
2、自测用血糖监测系统注册申报资料指导原则

血糖及血糖相关参数分析仪器相关标准：
1、YY/T 1549-2017 生化分析仪用校准物下载2、YY/T 1662-2019 生化分析仪用质控物

血糖及血糖相关参数分析仪器相关检测项目：
1 . 外观《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
2 . 血糖仪和血糖试条测量重复性《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
3 . 血糖仪和血糖试条系统准确度《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
4 . 红细胞压积《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
5 . 血糖试条批间差《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
6 . 质控物质《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
7 . 血糖仪环境试验《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
8 . 血糖仪安全要求《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》

收起百科↑ 最近更新：2023年08月07日

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湖北航天技术研究院计量测试技术研究所

检测项：部分参数检测样品：运算（电压）放大器标准：半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996

检测项：部分参数检测样品：电压比较器标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 J/T 10805-2000

检测项：功能检测样品：模拟开关标准：半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理 GB/T 14028-1992 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000；

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北京无线电计量测试研究所

检测项：串模干扰抑制能力试验检测样品：多功能校准器标准：数字多用表校准仪通用技术条件 GB/T15637-1995

检测项：共模干扰抑制能力试验检测样品：多功能校准器标准：数字多用表校准仪通用技术条件 GB/T15637-1995

检测项：浪涌抗扰度检测样品：电子和电气产品、信息设备、军用设备标准：电磁兼容试验和测量技术浪涌（冲击）抗扰度试验 GB/T17626.5-2008/ IEC-61000-4-5：2005

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西南技术物理研究所检测校准中心实验室

检测项：共模抑制比检测样品：电子元器件标准：微电路试验方法和程序GJB 548B-2005

检测项：共模抑制比检测样品：时基电路标准：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T 14030-1992

检测项：平面度检测样品：标准：

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中国电子科技集团公司第十四研究所检测/试验中心

检测项：共模抑制比检测样品：电压比较器标准：SJ/T10805-2000半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理

检测项：共模抑制比检测样品：运算放大器标准：SJ/T10738-1996半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理

检测项：共发射极正向电流传输比检测样品：双极型晶体管标准：GB/T4587-1994半导体器件分立器件和集成电路第7部分双极型晶体管

机构所在地：江苏省南京市更多相关信息>>

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国营长风机器厂环境试验检测计量中心

检测项：共模抑制比检测样品：数字集成电路标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000

检测项：共发射正向电流传输比检测样品：双极型晶体管标准：半导体器件分立器第7部分双极型晶体管 GB/T4587-1994

检测项：碰撞试验检测样品：电子产品标准：军用设备环境试验方法冲击试验GJB150.18-1986

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南京费迪电气检测技术有限公司

检测项：串模干扰检测样品：过程测量和控制装置标准：过程测量和控制装置通用性能评定方法和程序第3部分：影响量影响的试验 GB/T 18271.3-2000 IEC 61298-3:2008

检测项：共模干扰检测样品：过程测量和控制装置标准：过程测量和控制装置通用性能评定方法和程序第3部分：影响量影响的试验 GB/T 18271.3-2000 IEC 61298-3:2008

检测项：阻尼振荡磁场抗扰度试验检测样品：继电器及继电保护装置标准：电磁兼容试验和测量技术阻尼振荡磁场抗扰度试验 GB/T 17626.10-1998 IEC 61000-4-10:2001

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深圳市摩尔环宇通信技术有限公司摩尔实验室

检测项：EFT电快速脉冲串抗扰测试检测样品：电气和电子设备标准：电磁兼容试验和测量技术电快速瞬变脉冲群抗扰度试验 GB/T17626.4-2008； IEC 61000-4-4:2012； EN 61000-4-4:2004+A1:2010

检测项：EFT电快速脉冲串抗扰测试检测样品：电气和电子设备标准：电磁兼容通用标准居住、商业和轻工业环境中的抗扰度试验 GB/T 17799.1-1999； IEC 61000-6-1:2005； EN 61000-6-1: 2007

检测项：EFT电快速脉冲串抗扰测试检测样品：电气和电子设备标准：电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验 GB/T17626.2-2006； IEC 61000-4-2:2008； EN 61000-4-2:2009

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中国船舶重工集团公司第七一六研究所机电设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：共模抑制比检测样品：半导体集成电路电压比较器标准：GB/T6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理

检测项：共模抑制比检测样品：半导体集成电路电压比较器标准：GB/T6798-1996 《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》

检测项：共发射极正向电流传输比检测样品：场效应管标准：GB/T4586-1994 半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管

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今皓光电（昆山）有限公司检测中心

检测项：线材特性阻抗检测检测样品：电线电缆标准：电子连接器,线组,内部连接系统使用TDR(时域分析仪)测试阻抗,共模反射,回复讯号损失的试验程序 EIA 364-108:2007

检测项：低温试验检测样品：电线电缆标准：电工电子产品环境试验第2部分：试验方法　试验A：低温 GB/T 2423.1-2008

检测项：抗拉强度及延伸率试验检测样品：电线电缆标准：电缆绝缘和护套材料的通用试验方法:第1部分通用试验方法第1节:厚度与外形尺寸测量---机械性能试验 IEC 60811-1-1: 2001 Clause 9

机构所在地：江苏省昆山市更多相关信息>>

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西安东风仪表厂可靠性试验检测中心

检测项：共模抑制比检测样品：半导体集成电路运算放大器标准：半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理SJ/T10738-1996

检测项：共模抑制比检测样品：半导体集成电路运算放大器标准：半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理SJ/T10738-1996

检测项：共模抑制比检测样品：半导体集成电路运算放大器标准：半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理SJ/T10738-1996

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血糖及血糖相关参数分析仪器

简介

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