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激光扫描检眼镜产品描述:通常由激光光源、激光传输装置和控制装置等部分组成。发生强激光(GB 7247标准的3B、4),并应用光学断层扫描、共焦激光扫描等技术进行检查诊断的设备。 激光扫描检眼镜预期用途:用于眼功能和眼部疾患的检查诊断。 激光扫描检眼镜品名举例:激光扫描检眼镜、共焦激光扫描检眼镜、激光眼科诊断仪、共焦激光断层扫描仪、激光间接检眼镜 激光扫描...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年04月23日
检测项:共模抑制比KCMR 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996《半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理》
检测项:短路保护试验 检测样品:滤波器 标准:GB7343-1987《10kHz~30MHz无源无线电干扰滤波器和抑制元件抑制特性的测量方法》
机构所在地:湖北省武汉市
检测项:纹波抑制比 检测样品:光电器件 标准:《半导体器件分立器件和集成电路 第5部分-3 光电子器件测试方法》GB/T15651.3-2003
检测项:共发射极正向电流传输比 检测样品:场效应管 标准:《半导体器件 分立器件第8部分:场效应晶体管》GB/T4586-1994
机构所在地:江苏省扬州市
检测项:杂波抑制度Rfs 检测样品:微电路模块 标准:1、SJ 20668-1998 微电路模块总规范 2、SJ 20645-1997 微波电路放大器测试方法
机构所在地:河北省石家庄市
检测项:共摸抑制比KCMR 检测样品:混合集成电路A/D、D/A变换器 标准:SJ 20961-2006集成电路A/D、D/A转换器测试方法的基本原理
机构所在地:河南省洛阳市
机构所在地:北京市
检测项:共发射极正向电流传输比 检测样品:场效应管 标准:GJB 33A-1997 半导体分立器件总规范 GB/T 4586-1994 半导体器件 分立器件第8部分:场效应晶体管
机构所在地:上海市