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激光扫描检眼镜产品描述：通常由激光光源、激光传输装置和控制装置等部分组成。发生强激光（GB 7247标准的3B、4），并应用光学断层扫描、共焦激光扫描等技术进行检查诊断的设备。 激光扫描检眼镜预期用途：用于眼功能和眼部疾患的检查诊断。 激光扫描检眼镜品名举例：激光扫描检眼镜、共焦激光扫描检眼镜、激光眼科诊断仪、共焦激光断层扫描仪、激光间接检眼镜 激光扫描...查看详情>>
激光扫描检眼镜产品描述：通常由激光光源、激光传输装置和控制装置等部分组成。发生强激光（GB 7247标准的3B、4），并应用光学断层扫描、共焦激光扫描等技术进行检查诊断的设备。收起百科↑ 最近更新：2023年04月23日
检测项：共模抑制比 检测样品：数字集成 电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
检测项：共发射正向电流传输比 检测样品：双极型 晶体管 标准：半导体器件分立器第7部分双极型晶体管 GB/T4587-1994
机构所在地：甘肃省兰州市
检测项：共模抑制比 检测样品：半导体集成电路电压比较器 标准：GB/T6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
检测项：共模抑制比 检测样品：半导体集成电路电压比较器 标准：GB/T6798-1996 《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》
检测项：共发射极正向电流传输比 检测样品：场效应管 标准：GB/T4586-1994 半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管
机构所在地：江苏省连云港市
检测项：共摸抑制比KCMR 检测样品：晶体三极管 标准：GB/T4587-1994 《半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管》
机构所在地：北京市
检测项：射频共模 检测样品：电子、电气设备 标准：电磁兼容 通用标准 居住、商业和轻工业环境中的发射标准 GB 17799.3-2001 IEC 61000-6-3：1996
检测项：共模抑制比 检测样品：时基 电路 标准：半导体集成电路 时基电路 测试方法的基本原理GB/T14030-1992 第2.1、2.2、2.3、2.4、2.6、2.7、2.8条
检测项：射频共模 检测样品：电子、电气设备 标准：电磁兼容 通用标准 居住、商业和轻工业环境中的抗扰度试验 GB/T 17799.1-1999 IEC 61000-6-1：1997 电磁兼容 通
机构所在地：四川省成都市
检测项：共模抑制比KCMR 检测样品：A/D、D/A转换器 标准：半导体集成非线性电路数字/模拟转换器和模拟/数字转换器测试方法的基本原理 SJ/T10818-1996
机构所在地：北京市
