内部容性电路放电测试检测实验

血糖及血糖相关参数分析仪器

简介

血糖及血糖相关参数分析仪器

简介

血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述：通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。

血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途：与适配试剂配合使用，用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。

血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例：血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血脂监测仪、血糖血酮仪、血酮体测试仪、葡萄糖/乳酸分析仪、尿酸/血糖分析仪、血脂/血糖分析仪、血糖/胆固醇两用检测仪、血糖/胆固醇/甘油三酯/乳酸分析仪、血脂分析仪

血糖及血糖相关参数分析仪器管理类别：Ⅱ

血糖及血糖相关参数分析仪器相关指导原则：
1、血糖仪注册技术审查指导原则
2、自测用血糖监测系统注册申报资料指导原则

血糖及血糖相关参数分析仪器相关标准：
1、YY/T 1549-2017 生化分析仪用校准物下载2、YY/T 1662-2019 生化分析仪用质控物

血糖及血糖相关参数分析仪器相关检测项目：
1 . 外观《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
2 . 血糖仪和血糖试条测量重复性《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
3 . 血糖仪和血糖试条系统准确度《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
4 . 红细胞压积《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
5 . 血糖试条批间差《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
6 . 质控物质《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
7 . 血糖仪环境试验《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
8 . 血糖仪安全要求《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》

收起百科↑ 最近更新：2023年08月07日

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北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司中心实验室

检测项：筛选试验检测样品：微电路及器件标准：1、《微电路模块总规范》SJ 20668-1998 2、《混合集成电路总规范》 GJB 2438A-2002 3、《集成电路应力试验评价》AEC Q100-2007 4、《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996 5、《半导体器件第1部分：半导体分

检测项：引线牢固性检测样品：电气电子产品标准：《半导体集成电路机械和气候试验方法》SJ/T10745-1996 第2.5、2.6条

检测项：引线牢固性检测样品：电气电子产品标准：《可焊性测试方法》EIA/JESD22-B102E：2007

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英华达（南京）科技有限公司测试中心

检测项：静电放电检测样品：通讯产品、IT产品（电磁兼容试验）标准：电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验 GB/T 17626.2-2006

检测项：静电放电检测样品：通讯产品、IT产品（电磁兼容试验）标准：电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验 IEC 61000-4-2:2008

检测项：静电放电检测样品：通讯产品、IT产品（电磁兼容试验）标准：2GHz WCDMA 数字蜂窝移动通信系统电磁兼容性要求和测量方法第1部分：用户设备及其辅助设备 YD/T 1595.1: 2007

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武汉中原电子集团有限公司计量检测中心

检测项：输入失调电流检测样品：CMOS电路标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

检测项：输入偏置电流检测样品：CMOS电路标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

检测项：开环电压增益检测样品：CMOS电路标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

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西南技术物理研究所检测校准中心实验室

检测项：电压调整率检测样品：TTL电路标准：半导体集成电路TTL电路测试方法 SJ/T 10735-1996

检测项：电流调整率检测样品：TTL电路标准：半导体集成电路TTL电路测试方法 SJ/T 10735-1996

检测项：消耗电流检测样品：TTL电路标准：半导体集成电路TTL电路测试方法 SJ/T 10735-1996

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北京青云航空仪表有限公司理化计量中心

检测项：输入低电平电压VIL 检测样品：半导体集成电路 (CMOS) 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000

检测项：输入正向阈值电压VIT+ 检测样品：半导体集成电路 (CMOS) 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000

检测项：输出高电平电压VOH 检测样品：半导体集成电路 (CMOS) 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000

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云南昆船电子设备有限公司蓝海综合实验中心

检测项：输入失调电流检测样品：TTL电路标准：SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

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中国电子科技集团公司第十四研究所检测/试验中心

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国营长风机器厂环境试验检测计量中心

检测项：输入失调电流检测样品：数字集成电路标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000

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北京尊冠科技有限公司

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合肥航太电物理技术有限公司飞行器雷电防护实验室

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