官方微信
您当前的位置:首页 > 半双工射频标签
射频浅表治疗设备产品描述:通常由射频发生器、温度测量装置、治疗电极、电缆、中性电极(若有)等组成。通过治疗电极将射频能量(一般以电流的形式)作用于人体皮肤及皮下组织,使人体组织、细胞发生病理/生理学改变。 射频浅表治疗设备预期用途:用于治疗皮肤松弛,减轻皮肤皱纹,收缩毛孔,紧致、提升皮肤组织等。 射频浅表治疗设备品名举例:射频治疗仪、射频皮肤治疗仪 射频...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年03月27日
检测项:集电极-基极截止电流ICBO 检测样品:双极型晶体管 标准:GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第七部分:双极型晶体管
检测项:电流传输比hF(ctr) 检测样品:双极型晶体管 标准:GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第七部分:双极型晶体管
机构所在地:河北省石家庄市 更多相关信息>>
检测项:第一位特征数字所表示的防止固体异物进入试验 检测样品:双极型晶体管 标准:半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管 GB/T 4587-1994
检测项:第二位特征数字所表示的防止水进入的试验 检测样品:双极型晶体管 标准:半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管 GB/T 4587-1994
检测项:共发射极正向电流传输比静态值 检测样品:双极型晶体管 标准:半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管 GB/T 4587-1994
机构所在地:广东省广州市 更多相关信息>>
检测项:VFM: 正向峰值電壓 检测样品:双极型晶体管 标准:半导体器件 分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管 IEC 60747-7(第三版 2010-12)
检测项:IR: 反向电流 检测样品:双极型晶体管 标准:半导体器件 分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管 IEC 60747-7(第三版 2010-12)
检测项:VCBO: 集电极与基极间反向击穿电压 检测样品:双极型晶体管 标准:半导体器件 分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管 IEC 60747-7(第三版 2010-12)
机构所在地: 更多相关信息>>
检测项:反向峰值电流 检测样品:双极型晶体管 标准:GB/T4587-1994半导体器件分立器件和集成电路第7部分双极型晶体管
检测项:维持电流 检测样品:双极型晶体管 标准:GB/T4587-1994半导体器件分立器件和集成电路第7部分双极型晶体管
检测项:控制极触发电压 检测样品:双极型晶体管 标准:GB/T4587-1994半导体器件分立器件和集成电路第7部分双极型晶体管
机构所在地:江苏省南京市 更多相关信息>>
检测项:集电极-发射极饱和电压Vces 检测样品:双极型晶体管 标准:半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管 GB/T 4587-1994
检测项:基极-发射极饱和电压Vbes 检测样品:双极型晶体管 标准:半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法3011
检测项:放大倍数HFE 检测样品:双极型晶体管 标准:半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法3011
机构所在地:重庆市 更多相关信息>>
检测项:共发射正向电流传输比 检测样品:双极型 晶体管 标准:半导体器件分立器第7部分双极型晶体管 GB/T4587-1994
检测项:温度冲击试验 检测样品:热处理炉 标准:有和无可靠性指标的模制射频固定电感器通用规范GJB675A-2002 3.4
检测项:输入失调电压 检测样品:集成运放 电路 标准:半导体器件集成电路;第3部分:模拟集成电路 GB/T17940-2000
机构所在地:甘肃省兰州市 更多相关信息>>
检测项:*部分项目 检测样品:半柔软同轴电缆组件 标准:射频同轴电缆组件 第3部分半柔软同轴电缆组件分规范GB/T 16531-1996
检测项:*全部项目 检测样品:实芯聚乙烯绝缘射频电缆 标准:实芯聚乙烯绝缘射频电缆 GB/T 14864-1993
检测项:*全部项目 检测样品:通信设备用射频连接器 标准:通信设备用射频连接器技术要求及检测方法 YD/T 640-2012
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:反向漏电流 检测样品:半导体 晶体三极管 标准:半导体分立器件和集成电路 第七部分第4章:双极型晶体管GB/T4587-1994
检测项:二极管特性曲线 检测样品:半导体 晶体三极管 标准:半导体分立器件和集成电路 第七部分第4章:双极型晶体管GB/T4587-1994
检测项:稳定性烘焙 检测样品:半导体 晶体三极管 标准:半导体分立器件和集成电路 第七部分第4章:双极型晶体管GB/T4587-1994
机构所在地:陕西省西安市 更多相关信息>>
检测项:正向压降 检测样品:双极型晶体管 标准:半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管 GB/T 4586-1994 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997
检测项:反向电流 检测样品:双极型晶体管 标准:半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管 GB/T 4586-1994 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997
检测项:发射极-基极截止电流 检测样品:双极型晶体管 标准:半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管 GB/T 4586-1994 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997
机构所在地:四川省成都市 更多相关信息>>
检测项:动态电阻 检测样品:半导体三极管 标准:半导体分立器件和集成电路 第七部分:双极型晶体管GB/T 4587-1994
检测项:反向电流 检测样品:半导体三极管 标准:半导体分立器件和集成电路 第七部分:双极型晶体管GB/T 4587-1994
检测项:正向压降 检测样品:半导体三极管 标准:半导体分立器件和集成电路 第七部分:双极型晶体管GB/T 4587-1994
机构所在地:北京市 更多相关信息>>