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检测项：衰减 检测样品：电线电缆 标准：序列ATA规范 SATA 2.6-2007
检测项：衰减 检测样品：电线电缆 标准：序列ATA规范 SATA 3.2-2013 RC22b
机构所在地：广东省东莞市 更多相关信息>>
检测项：最大占空比（比较器部分）qmax 检测样品：脉宽调制器 标准：《半导体集成电路JW1524、1525、1525A、1526、1527、1527A)型脉宽调制器详细规范》SJ 20294-1993
检测项：最小占空比（比较器部分）qmin 检测样品：脉宽调制器 标准：《半导体集成电路JW1524、1525、1525A、1526、1527、1527A)型脉宽调制器详细规范》SJ 20294-1993
机构所在地：贵州省贵阳市 更多相关信息>>
检测项：平均功率响应度随脉冲频率和占空比的变化 检测样品：激光功率能量测试仪器 标准：激光功率能量测试仪器规范 GB/T 6360-1995
检测项：测量时间平平无声的级的声级计的重复猝发音序列响应 检测样品：声级计 标准：电声学 声级计 第2部分：型式评价试验 GB/T 3785.2－2010 电声学 声级计第1部分：规范 GB/T 3785.1-2010
机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项：占空比 检测样品：数字增强型无线电信设备 (射频特性) 标准：数字增强型无线电信设备，基本要求 ETSI EN 301 406 V2.1.1 (2009-07)
机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>
检测项：占空比，发射顺序和发射间隔 检测样品：无线通信设备（空中性能） 标准：移动台空间射频辐射功率和接收机性能测量方法 YD/T 1484-2011
机构所在地：上海市 更多相关信息>>
检测项：占空比 检测样品：短距离设备 标准：射频设备和系统 短距离设备 限值和测量方法 AS/NZS 4268:2012+A1:2013
检测项：占空比 检测样品：短距离设备 标准：电磁兼容性及无线电频谱标准（ERM）: 工作频率在25M~1G，功率小于500mW，第1部分：技术特征和测试方法 ETSI EN 300 220-1 V2.4.1 (2012-05)电磁兼容性和射频频谱问题（ERM）；电磁兼容性及无线电频谱标准（ERM）
检测项：占空比 检测样品：短距离设备 标准：电磁兼容性和射频频谱问题（ERM): 1GHz到40GHz范围的短距离设备的EMC性能 第1部分：技术特征和测试方法 ETSI EN 300 440-1 V1.6.1 (2010-08)电磁兼容性和射频频谱问题（ERM): 1GHz到40GHz范围的短距离
检测项：发射占空比 检测样品：2.4GHz ISM 设备 标准：总务省告示第88号附表43&44 MIC Notice No.88 Appendix No.43&44(2010-02)
检测项：多功能序列 检测样品：蓝牙设备 标准：蓝牙特别工作组(SIG) 基本打印配置文件测试规范 测试套件结构(TSS)和测试目的(TP) BPP.TS.1.2.4(2013)
检测项：WCDMA发射机测试 检测样品：WCDMA通信终端 标准：1）IMT蜂窝网络；覆盖R&TTE指令的第3.2条款基本要求的协调标准；第2部分：直序列扩频CDMA(UTRA FDD)用户设备(UE) ETSI EN 301 908-2 V6.2.1(2013-10) 2）通用移动通信系统(UMTS)；用户设备(UE
检测项：6.1 序列格式 6.2 位编码 6.3 数据帧格式 6.4 数据和负载格式 6.5 指令集 6.6 SENSF_REQ 6.7 时序要求 8.1 序列格式 8.2 位编码 8.3 数据帧格式 8.4 数据和负载格式 8.5 指令集 8.6 读取识别 8. 检测样品：通信设备（射频性能） 标准：NFC论坛的数字协议技术规范1.0 (2010)
检测项：9.1 序列格式 9.2 位编码 9.3 数据帧格式 9.4 数据和负载格式 9.5 指令集 9.6 读模式 9.7 写模式 9.8 扇区选择性 9.9 时序要求 10.1 序列格式 10.2 位编码 10.3 数据帧格式 10.4 数据和负载格式 10. 检测样品：通信设备（射频性能） 标准：NFC论坛的数字协议技术规范1.0 (2010)
检测项：11.1 序列格式 11.2 位编码 11.3 数据帧格式 11.4 数据和负载格式 11.5 指令集 11.6 选择性答复的要求 11.7 时序要求 12.1 序列格式 12.2 位编码 12.3 数据帧格式 12.4 数据和负载格式 12.5 指令集 检测样品：通信设备（射频性能） 标准：NFC论坛的数字协议技术规范1.0 (2010)
检测项：序列 检测样品：金融集成电路（IC）卡及其受理设备 标准：ISO/IEC 7816-1不测：电磁干扰 GB/T 16649.1-2006不测：抗X射线和电磁干扰、电磁场、点压力
检测项：序列和帧 检测样品：银联卡片及其受理设备 标准：不测6.2，6.3，6.4，6.7，6.10，6.11，6.12
检测项：序列 检测样品：金融集成电路（IC）卡及其受理设备 标准：ISO/IEC 7816-1不测：电磁干扰 GB/T 16649.1-2006不测：抗X射线和电磁干扰
机构所在地：北京市 更多相关信息>>
检测项：线粒体DNA序列测定 检测样品：骨/牙 标准：法庭科学DNA实验室规范GA/T 382-2002 法庭科学DNA实验室检验规范GA/T 383-2002 亲权鉴定技术规范 SF/Z JD0105001-2010
检测项：线粒体DNA序列测定 检测样品：指甲 标准：法庭科学DNA实验室规范GA/T 382-2002 法庭科学DNA实验室检验规范GA/T 383-2002 亲权鉴定技术规范 SF/Z JD0105001-2010
