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检测项:零点误差 检测样品:光电耦合器 标准:SJ 20961-2006 集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理
检测项:失调误差 检测样品:光电耦合器 标准:SJ 20961-2006 集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理
检测项:零点误差 检测样品:光电耦合器 标准:SJ/T 10818-1996 半导体集成非线性电路数字/模拟转换器和模拟/数字转换器测试方法的基本原理
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:色差 检测样品: 标准:漆膜颜色的测量方法 第1部分:原理GB/T 11186.1-1989
机构所在地:广东省惠州市 更多相关信息>>
检测项:热重分析 检测样品:塑料 标准:塑料.高聚物的热重分析法(TG).一般原理 ISO11358:1997
机构所在地:江苏省常州市 更多相关信息>>
检测项:总通风率 检测样品: 标准:卷烟和滤棒物理性能的测定第15部分:卷烟 通风的测定定义和测量原理GB/T22838.15-2009
机构所在地:河南省郑州市 更多相关信息>>
检测项:静态功耗 检测样品:时基电路 标准:半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 SJ/T 10805-2000
检测项:开环电压增益 检测样品:时基电路 标准:半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 SJ/T 10805-2000
检测项:共模抑制比 检测样品:时基电路 标准:半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 SJ/T 10805-2000
检测项:输入失调电流 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:输入偏置电流 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:开环电压增益 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
机构所在地:云南省昆明市 更多相关信息>>
检测项:拉伸性能 检测样品:塑料 标准:《塑料 拉伸性能的测定 第1部分:一般原理》ISO 527-1:2012
机构所在地:广东省中山市 更多相关信息>>
检测项:输入失调电流 检测样品:电压比较器 标准:SJ/T10805-2000半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
检测项:输入偏置电流 检测样品:电压比较器 标准:SJ/T10805-2000半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
检测项:开环电压增益 检测样品:电压比较器 标准:SJ/T10805-2000半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
机构所在地:江苏省南京市 更多相关信息>>
检测项:输入钳位电压 检测样品:TTL集成电路 标准:半导体集成电路TTL电路 测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996
检测项:输出高电平电压 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
检测项:输出低电平电压 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
机构所在地:重庆市 更多相关信息>>
检测项:输入失调电流 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
检测项:输入偏置电流 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
检测项:开环电压增益 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
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