中国电子科技集团公司第十三研究所检测中心

检测项：反向重复峰值电流IRRM 检测样品：闸流晶体管 标准：GB/T 15291-1994 半导体器件 第6部分：晶闸管

检测项：反向重复峰值电流IRRM 检测样品：闸流晶体管 标准：GB/T 15291-1994 半导体器件 第6部分：晶闸管

检测项：断态重复峰值电流IDRM 检测样品：闸流晶体管 标准：GB/T 15291-1994 半导体器件 第6部分：晶闸管

机构所在地：河北省石家庄市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十四研究所检测/试验中心

检测项：反向峰值电流 检测样品：双极型晶体管 标准：GB/T4587-1994半导体器件分立器件和集成电路第7部分双极型晶体管

检测项：反向漏过电流 检测样品：开关二极管 标准：GB/T6571-1995第3部分信号（包括开关）和调整二极管

检测项：反向漏过电流 检测样品：稳压二极管 标准：GB/T6571-1995半导体器件分立器件 第3部分信号（包括开关）和调整二极管

机构所在地：江苏省南京市 更多相关信息>>

广东省电子电器产品监督检验所

检测项：反向峰值电流 检测样品：整流二极管 标准：半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管 GB/T 4023-1997

检测项：反向电流 检测样品：发光二极管 标准：半导体分立和集成电路 第5-3部分：光电子器件测试方法 GB/T 15651.3-2003

检测项：正向峰值电压 检测样品：整流二极管 标准：半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管 GB/T 4023-1997

机构所在地：广东省广州市 更多相关信息>>

中兴通讯股份有限公司材料实验室

检测项：反向漏电流 检测样品：PCB 标准：半导体分立器件试验方法 GJB 128A-97

检测项：反向漏电流 检测样品：PCB 标准：半导体分立器件试验方法 GJB 128A-97

检测项：反向漏电流 检测样品：PCB 标准：半导体器件分立器件 -第3部分信号（包括开关）和稳压二极管 IEC 60747-3-1985

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

成都凯天电子股份有限公司实验中心

检测项：反向电流 检测样品：电容器 标准：半导体光耦合器(二极管)反向电流的测试方法SJ2215.4-1982

检测项：反向截止电流 检测样品：电容器 标准：半导体光耦合器（三极管）反向截止电流的测试方法SJ2215.9-1982

检测项：C、B截止电流 检测样品：光耦合器 标准：半导体光耦合器(二极管)反向电流的测试方法SJ2215.2-1982

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>

上海市计量测试技术研究院（华东国家计量测试中心/中国上海测试中心）

检测项：部分项目 检测样品：LED 标准：LED测量 CIE 127：2007

检测项：部分项目 检测样品：LED 标准：LED测量 CIE 127：2007

检测项：表面元素的半定量分析；价态分析 检测样品：金属及合金 标准：通过俄歇电子能谱峰值识别元素的规程 ASTM E827-2008 X-光电子能谱标准检测方法 ASTM E 902-2005

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

东方日升新能源股份有限公司实验室

检测项：反向电流过载试验 检测样品： 标准：

检测项：反向电流过载试验 检测样品：光伏组件 标准：UL1703:2005 平板型太阳能组件安全认证标准

检测项：电压电流测试 检测样品：光伏组件 标准：UL1703:2005 平板型太阳能组件安全认证标准

机构所在地：浙江省宁波市 更多相关信息>>

广州市鸿利光电股份有限公司实验室

检测项：反向电流 检测样品： 标准：

检测项：峰值波长 检测样品：LED封装/阵列/模组 标准：国际照明委员会技术报告 LED的测量 CIE 127-2007

检测项：正向电流 检测样品： 标准：

机构所在地：广东省广州市 更多相关信息>>

大全集团有限公司电气检测站

检测项：峰值耐受电流试验 检测样品：电工电子产品 标准：GB/T 2423.1-2008电工电子产品环境 试验 第2部分：试验方法试验A：低温

检测项：转换能力及反向能力 检测样品：机电式接触器和电动机起动器 标准：GB 14048.4-2010 低压开关设备和控制设备机电式接触器和电动机起动器

检测项：短时耐受电流试验 检测样品：电工电子产品 标准：GB/T 2423.1-2008电工电子产品环境 试验 第2部分：试验方法试验A：低温

机构所在地：江苏省扬中市 更多相关信息>>

湖南航天管理局计量检测中心

检测项：反向电流IR 检测样品：二极管 标准：GB/T6571-1995 半导体器件分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管

检测项：反向电流IR 检测样品：二极管 标准：GB/T6571-1995 半导体器件分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管

检测项：放大倍数hFE 检测样品：晶体管 标准：GB/T4587-1994 半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管

机构所在地：湖南省长沙市 更多相关信息>>