反向电流过载试验检测实验

血糖及血糖相关参数分析仪器

简介

血糖及血糖相关参数分析仪器

简介

血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述：通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。

血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途：与适配试剂配合使用，用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。

血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例：血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血脂监测仪、血糖血酮仪、血酮体测试仪、葡萄糖/乳酸分析仪、尿酸/血糖分析仪、血脂/血糖分析仪、血糖/胆固醇两用检测仪、血糖/胆固醇/甘油三酯/乳酸分析仪、血脂分析仪

血糖及血糖相关参数分析仪器管理类别：Ⅱ

血糖及血糖相关参数分析仪器相关指导原则：
1、血糖仪注册技术审查指导原则
2、自测用血糖监测系统注册申报资料指导原则

血糖及血糖相关参数分析仪器相关标准：
1、YY/T 1549-2017 生化分析仪用校准物下载2、YY/T 1662-2019 生化分析仪用质控物

血糖及血糖相关参数分析仪器相关检测项目：
1 . 外观《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
2 . 血糖仪和血糖试条测量重复性《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
3 . 血糖仪和血糖试条系统准确度《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
4 . 红细胞压积《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
5 . 血糖试条批间差《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
6 . 质控物质《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
7 . 血糖仪环境试验《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
8 . 血糖仪安全要求《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》

收起百科↑ 最近更新：2023年08月07日

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北京尊冠科技有限公司

检测项：4016 反向漏电流检测样品：电子及电气元件标准：GJB 360B－2009《电子及电气元件试验方法》

检测项：反向电流（IR）检测样品：双极型晶体管标准：GB/T 4587－94 《半导体器件分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管》

检测项：集电极－基极截止电流（反向电流）（ICBO）检测样品：双极型晶体管标准：GB/T 4587－94 《半导体器件分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管》

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贵州天义电器有限责任公司电气检测中心

检测项：二极管电特性测试检测样品：二极管标准：半导体分立器件试验方法GJB128A-1997

检测项：直流过负载检测样品：继电器、接触器（含可靠性指标）标准：含可靠性指标的电磁继电器总规范GJB1461-1992 电子及电气元件试验方法GJB360B-2009 军用设备环境实验方法湿热试验GJB150.9-1986

检测项：直流过负载检测样品：继电器、接触器标准：飞机电磁继电器接触器技术条件HB5523-1980

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中国船舶重工集团公司第七一六研究所机电设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：反向电流检测样品：电阻器标准：GB/T5729-2003电子设备用固定电阻器第一部分：总规范

检测项：反向电流检测样品：电阻器标准：GB/T5729-2003《电子设备用固定电阻器第一部分：总规范》

检测项：反向电压检测样品：电阻器标准：GB/T5729-2003电子设备用固定电阻器第一部分：总规范

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中国船舶重工集团公司第723研究所电工电子设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：输入二极管反向电流检测样品：双极型晶体管标准：《半导体分立器件和集成电路第7部分:双极型晶体管》GB/T4587-1994

检测项：反向漏电流检测样品：电阻器标准：《电子设备用固定电阻器第一部分:总规范》GB/T5729-2003

检测项：集电极-发射极反向击穿电压检测样品：光电器件标准：《半导体器件分立器件和集成电路第5部分-3 光电子器件测试方法》GB/T15651.3-2003

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中国电子科技集团公司第十研究所天奥校准/检测实验室

检测项：反向漏电流检测样品：二极管标准：半导体分立器件试验方法GJB128A-1997方法4011

检测项：反向漏电流检测样品：二极管标准：半导体器件分立器件第3部分:信号(包括开关)和调整二极管GB/T6571-1995半导体器件Ⅳ章1.1条

检测项：反向漏电流检测样品：双极型晶体管标准：半导体器件分立器件第3部分:信号(包括开关)和调整二极管GB/T6571-1995半导体器件Ⅳ章1.1条

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贵州航天计量测试技术研究所

检测项：反向电流IR 检测样品：光电耦合器标准：《半导体器件分立器件和集成电路第5部分：光电子器件》GB/T 15651-1995 《半导体分立器件试验方法》GJB 128A-1997

检测项：反向电流IR 检测样品：二极管标准：《半导体器件分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管》GB/T 6571-1995 《半导体器件分立器件和集成电路第2部分：整流二极管》GB/T 4023-1997

检测项：轴线的反向差值检测样品：环境试验设备标准：《电工电子产品环境试验设备基本检验方法　温度试验设备》GB/T 5170.2-2008

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西南技术物理研究所检测校准中心实验室

检测项：反向电流检测样品：双极型晶体管标准：半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管 GB/T 4586-1994 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997

检测项：反向栅源漏电流检测样品：场效应晶体管标准：半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管 GB/T 4586-1994 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997

检测项：反向截止电流检测样品：光电耦合器标准：半导体光电耦合器测试方法 SJ 2215.1～2215.14-1982

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中国电子科技集团公司第十四研究所检测/试验中心

检测项：反向峰值电流检测样品：双极型晶体管标准：GB/T4587-1994半导体器件分立器件和集成电路第7部分双极型晶体管

检测项：反向漏过电流检测样品：开关二极管标准：GB/T6571-1995第3部分信号（包括开关）和调整二极管

检测项：反向漏过电流检测样品：稳压二极管标准：GB/T6571-1995半导体器件分立器件第3部分信号（包括开关）和调整二极管

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中国科学院半导体研究所照明检测中心

检测项：反向电流检测样品：普通照明用LED模块标准：金属覆盖层厚度轮廓尺寸测量方法 GB 11378-2005 微电子器件试验方法和程序 2016 GJB548B－2005 金相显微镜分析方法通则 JY/T 012-1996

检测项：反向电流检测样品：发光二极管标准：半导体发光二极管测试方法 SJ11394-2009

检测项：输入功率、输入电流和功率因数检测样品：LED照明产品标准：LED筒灯性能测量方法 GB/T 29293-2012

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成都凯天电子股份有限公司实验中心

检测项：反向漏电流检测样品：双极型晶体管标准：半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管 GB/T 4587-1994 半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997

检测项：反向电流检测样品：电容器标准：半导体光耦合器(二极管)反向电流的测试方法SJ2215.4-1982

检测项：反向截止电流检测样品：电容器标准：半导体光耦合器（三极管）反向截止电流的测试方法SJ2215.9-1982

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血糖及血糖相关参数分析仪器

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