中国船舶重工集团第七0九研究所微电子测试校准实验室

检测项：输入高电平 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

检测项：输入高电平 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

检测项：输出低电平 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

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信华科技（深圳）有限公司

检测项：部分项目 检测样品：信息技术设备 (安全) 标准：信息技术设备的安全 GB 4943.1-2011 IEC 60950-1:2001 IEC 60950-1:2005 +A1:2009 EN 60950-1:2006 +A11:2009 +A1:2010+A12:2011 UL60950-1:2003

检测项：部分项目 检测样品：信息技术设备 (安全) 标准：信息技术设备的安全 GB 4943.1-2011 IEC 60950-1:2001 IEC 60950-1:2005 +A1:2009 EN 60950-1:2006 +A11:2009 +A1:2010+A12:2011 UL60950-1:2003 U

检测项：2.10电气间隙、爬电距离和绝缘穿透距离 检测样品：信息技术设备 (安全) 标准：信息技术设备的安全 GB 4943.1-2011 IEC 60950-1:2001 UL60950-1:2003 UL60950-1:2007 AS/NZS 60950.1:2003 CAN/CSA-C22.2 No.60950-1:2003 CAN/CS

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奥测世纪（北京）技术股份有限公司

检测项：爬电距离、电气间隙和绝缘穿透距离 检测样品：信息技术设备 标准：信息技术设备 安全 第1部分：通用要求 GB4943.1-2011 信息技术设备 安全 第1部分：通用要求 IEC 60950-1-2005 信息技术设备 安全 第1部分：通用要求 EN60950-1：2006

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深圳市北测检测技术有限公司

检测项：部分项目 检测样品：信息技术设备 标准：信息技术设备的安全 GB 4943.1-2011 EN 60950-1:2006+A11:2009+A1:2010+A12:2011 IEC 60950-1:2005+A1: 2009

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深圳市环球众一科技有限公司

检测项：危险的防护 检测样品：信息技术设备 标准：信息技术设备 安全 第1部分：通用要求 IEC 60950-1:2005 + A1: 2009 + A2: 2013 EN 60950-1:2006+A2:2013 AS/NZS 60950.1:2011 + A1:2012 GB4943.1-2011

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