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血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述:通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。 血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途:与适配试剂配合使用,用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。 血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例:血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年08月07日
机构所在地:重庆市
检测项:电快速瞬变脉冲群抗扰度 检测样品:信息技术 设备 标准:①信息技术设备抗扰度限值和测量方法 GB/T 17618-1998 ②信息技术设备抗扰度限值和测量方法 CISPR 24:2010
检测项:浪涌(冲击)抗扰度 检测样品:信息技术 设备 标准:①信息技术设备抗扰度限值和测量方法 GB/T 17618-1998 ②信息技术设备抗扰度限值和测量方法 CISPR 24:2010
检测项:射频电磁场辐射抗扰度 检测样品:信息技术 设备 标准:①信息技术设备抗扰度限值和测量方法 GB/T 17618-1998 ②信息技术设备抗扰度限值和测量方法 CISPR 24:2010
机构所在地:上海市
检测项:不锈钢组成元素:碳、硅、锰、磷、硫、铬、镍、铜、钒、铌、钛、钼 检测样品:金属材料 标准:用点对面激发技术作不锈钢的光辐射真空光谱测定分析 ASTM E1086-08
检测项:不锈钢组成元素:碳、硅、锰、磷、硫、铬、镍、铜、钒、铌、钛、钼 检测样品:金属材料 标准:用点对面激发技术作不锈钢的光辐射真空光谱测定分析 ASTM E1086-08
检测项:不锈钢组成元素:碳、硅、锰、磷、硫、铬、镍、铜、钒、铌、钛、钼 检测样品:金属材料 标准:用点对面激发技术对不锈钢作光学发射真空光谱测定分析的试验方法 ASTM E1086-2014
机构所在地:湖北省武汉市
检测项:工频磁场抗扰度 检测样品:信息技术设备 标准:信息技术设备抗扰度限值和测量方法 GB/T17618-1998 CISPR 24:2010 EN55024:2010
检测项:静电放电抗扰度 检测样品:信息技术设备 标准:信息技术设备抗扰度限值和测量方法 GB/T17618-1998 CISPR 24:2010 EN55024:2010
检测项:射频电磁场辐射抗扰度 检测样品:信息技术设备 标准:信息技术设备抗扰度限值和测量方法 GB/T17618-1998 CISPR 24:2010 EN55024:2010
机构所在地:广东省东莞市