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血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述:通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。 血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途:与适配试剂配合使用,用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。 血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例:血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年08月07日
检测项:电源电压抑制比 检测样品:时基电路 标准:半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T14030-1992
检测项:最大差模输入电压 检测样品:时基电路 标准:半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T14030-1992
检测项:输出高电平电压 检测样品:时基电路 标准:半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T14030-1992
机构所在地:重庆市 更多相关信息>>
检测项:纯音听阈测试 检测样品:消毒与灭菌 标准:声学测听方法纯音气导和骨导听阈基本测听法 GB/T 16403-1996
检测项:粪大肠菌群(医院污水或污泥) 检测样品:疾病控制 标准:医疗机构污水排放要求 GB 18466-2005(附录A)
检测项:沙门氏菌(医院污水或污泥) 检测样品:疾病控制 标准:医疗机构污水排放要求 GB 18466-2005(附录B)
机构所在地:广东省深圳市 更多相关信息>>
检测项:低温 检测样品:仪器仪表 (环境试验) 标准:JB 9329-1999 仪器仪表运输贮存基本环境条件及试验方法
检测项:高温 检测样品:仪器仪表 (环境试验) 标准:JB 9329-1999 仪器仪表运输贮存基本环境条件及试验方法
机构所在地:广东省广州市 更多相关信息>>
检测项:输出高电平电压 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项:输出低电平电压 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项:输入电流 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
机构所在地:四川省成都市 更多相关信息>>
检测项:输入低电平电压VIL 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
检测项:输入正向阈值电压VIT+ 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
检测项:输出高电平电压VOH 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:木材中甲醛 检测样品:家具物料 标准:用基本火源测试床垫、软垫长沙发椅、软垫床底座阻燃性的方法 BS 6807:2006
检测项:衬垫 燃烧性能 检测样品:家具物料 标准:衬垫家具中防火材料的测试要求、程序和设备 CA TB 117:2013
检测项:组合 燃烧性能 检测样品:家具物料 标准:轮椅车-第16部分: 座(靠)垫阻燃性的要求和测试方法 ISO 7176-16:2012 BS ISO 7176-16:2012
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:静载荷堆码 检测样品:运输包装件(纸箱) 标准:包装.运输包装件基本试验.第3部分:静载荷堆码试验方法 GB/T 4857.3-2008
检测项:压力试验 检测样品:运输包装件(纸箱) 标准:包装.运输包装件基本试验.第4部分:采用压力试验机进行的抗压和堆码试验方法 GB/T 4857.4-2008
检测项:低气压试验 检测样品:木材 标准:包装 运输包装件基本试验 第13部分:低气压试验方法 GB/T 4857.13-2005
检测项:零点误差 检测样品:光电耦合器 标准:SJ 20961-2006 集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理
检测项:失调误差 检测样品:光电耦合器 标准:SJ 20961-2006 集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理
检测项:零点误差 检测样品:光电耦合器 标准:SJ/T 10818-1996 半导体集成非线性电路数字/模拟转换器和模拟/数字转换器测试方法的基本原理
检测项:振动试验 检测样品:电子元器件 标准:电工电子产品基本环境试验规程GB/T2423.5-1995试验Ea
检测项: 检测样品: 标准:混合膜集成电路外壳总规范 GJB2440-1995
机构所在地:安徽省蚌埠市 更多相关信息>>
检测项:静态功耗 检测样品:时基电路 标准:半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 SJ/T 10805-2000
检测项:开环电压增益 检测样品:时基电路 标准:半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 SJ/T 10805-2000
检测项:共模抑制比 检测样品:时基电路 标准:半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 SJ/T 10805-2000