中国船舶重工集团公司第723研究所电工电子设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：复位电流 检测样品：时基电路 标准：《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》GB/T 14030-1992

检测项：复位电压 检测样品：时基电路 标准：《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》GB/T 14030-1992

检测项：电源电流 检测样品：时基电路 标准：《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》GB/T 14030-1992

机构所在地：江苏省扬州市 更多相关信息>>

中国航空综合技术研究所航空综合环境航空科技重点实验室

检测项：复位电流IR 检测样品：晶体三极管 标准：GB/T14029-1992 《半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理》

检测项：复位电压VR 检测样品：晶体三极管 标准：GB/T14029-1992 《半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理》

检测项：截止态漏级漏电流 ID（off） 检测样品：模拟集成电路 标准：GB/T 14030-1992 《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

上海精密计量测试研究所

检测项：复位触发电流IR 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：SJ/T10738-1996 半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理

检测项：复位触发电流IR 检测样品：半导体集成电路时基电路 标准：GB/T14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理

检测项：复位电压VR 检测样品：半导体集成电路时基电路 标准：GB/T14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第二十四研究所质检中心

检测项：复位电流 检测样品：混合集成电路 标准：膜集成电路和混合膜集成电路 总规范 GB/T8976-1996

检测项：复位电压 检测样品：时基电路 标准：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T14030-1992

检测项：电流调整率和电流稳定系数 检测样品：半导体集成电路电压调整器 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理　 GB/T4377-1996

机构所在地：重庆市 更多相关信息>>

上海华岭集成电路技术股份有限公司检测中心

检测项：复位电流 检测样品：时基电路 标准：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T 14030-1992

检测项：复位电压 检测样品：时基电路 标准：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T 14030-1992

检测项：电流调整率和电流稳定系数 检测样品：半导体集成电路电压调整器 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理　 GB/T 4377-1996

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

西南计算机有限责任公司检测计量与软件测评中心

检测项：复位电流 检测样品：电压调整器 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T4377-1996 第

检测项：复位电压 检测样品：时基电路 标准：半导体集成电路时基电路 测试方法的基本原理 GB/T14030-1992

检测项：大电流注入（BCI）法 检测样品：机动车电子电器组件 标准：机动车电子电器组件的电磁辐射抗扰性限值和测量方法 GB/T17619-1998

机构所在地：重庆市 更多相关信息>>

上海无线电设备研究所环境与检测实验室

检测项：复位电流 检测样品：模拟集成电路 标准：《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996

检测项：复位电压 检测样品：模拟集成电路 标准：《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996

检测项：输入高电平电流 检测样品：模拟集成电路 标准：《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

贵州航天计量测试技术研究所

检测项：复位电流IR 检测样品：时基电路 标准：《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》GB/T 14030-1992 《半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理》SJ/T 10735-1996

检测项：输入负载电流ILI 检测样品：TTL电路 标准：《半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理》SJ/T 10735-1996

检测项：工作状态时电源电流ICC 检测样品：TTL电路 标准：《半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理》SJ/T 10735-1996

机构所在地：贵州省贵阳市 更多相关信息>>

西南技术物理研究所检测校准中心实验室

检测项：复位电流 检测样品：时基电路 标准：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T 14030-1992

检测项：复位电压 检测样品：模拟开关 标准：半导体集成电路模拟开关测试方法 的基本原理 GB/T 14028-1992

检测项：反向漏电流 检测样品：二极管 标准：半导体器件分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管 GB/T 6571-1995 分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管 GB/T 4023-1997

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十研究所天奥校准/检测实验室

检测项：复位电流 检测样品：时基 电路 标准：半导体集成电路 时基电路 测试方法的基本原理GB/T14030-1992 第2.1、2.2、2.3、2.4、2.6、2.7、2.8条

检测项：复位电流 检测样品：电压 调整器 标准：半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理GB/T4377-1996 第4.1、4.2、4.7、4.10条

检测项：复位电压 检测样品：时基 电路 标准：半导体集成电路 时基电路 测试方法的基本原理GB/T14030-1992 第2.1、2.2、2.3、2.4、2.6、2.7、2.8条

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>