内蒙古自治区产品质量检验研究院

检测项：部分参数 检测样品：家用和类似用途电器的安全 标准：GB4706.1-2005《家用和类似用途电器的安全 第1部分：通用要求》

机构所在地：内蒙古自治区呼和浩特市 更多相关信息>>

捷普科技（上海）有限公司产品验证实验室

检测项：输入电流 检测样品：医用电气设备 标准：医用电气设备第1部分：安全通用要求 IEC 60601-1:1988 +A1:1992+ A2:1995 EN 60601-1:1990+A1:1993 +A11:1993+A12:1993+ A2:1995+A13:1996 IEC 60601-1:2

检测项：功率输入 检测样品：医用电气设备 标准：医用电气设备第1部分：安全通用要求 IEC 60601-1:1988 +A1:1992+ A2:1995 EN 60601-1:1990+A1:1993 +A11:1993+A12:1993+ A2:1995+A13:1996 IEC 60601-1:2

检测项：接触电流和保护导体电流 检测样品：信息技术设备 标准：信息技术设备的安全 第1部分：一般要求 IEC 60950-1:2005 (2nd Edition)+A1:2009 EN 60950-1:2006+ A11:2009+A1:2010+A12:2011

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

南德认证检测（中国）有限公司深圳分公司

检测项：功率因数 检测样品：光源 标准：电磁兼容-第3-2：限量-谐波正弦电流发射限量（设备输入电流每一相位≤16A） EN 61000-3-2:2006 +A1:2009 +A2:2009 IEC61000-3-2:2005 +All Amendments

检测项：20 模应力释放 检测样品：家用和商用电池 标准：家用和商用电池UL2054:2011

检测项：性能要求 检测样品：灯具及其组件 标准：双端荧光灯性能规范 AS/NZS 4782.1:2004

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

厦门立达信光电有限公司照明实验室

检测项：互换性 检测样品：照明设备（普通照明用自镇流荧光灯、LED灯及灯具） 标准：GB 17625.1-2003 IEC 61000-3-2:2005+A1:2008+A2:2009 EN 61000-3-2:2006+A1:2009+A2:2009 电磁兼容 限值 谐波电流发射限值（设备每相输入电流≤16A）

检测项：意外接触带电部件的防护 检测样品：照明设备（普通照明用自镇流荧光灯、LED灯及灯具） 标准：GB 17625.1-2003 IEC 61000-3-2:2005+A1:2008+A2:2009 EN 61000-3-2:2006+A1:2009+A2:2009 电磁兼容 限值 谐波电流发射限值（设备每相输入电流≤16A）

检测项：潮湿处理后的绝缘电阻和介电强度 检测样品：照明设备（普通照明用自镇流荧光灯、LED灯及灯具） 标准：GB 17625.1-2003 IEC 61000-3-2:2005+A1:2008+A2:2009 EN 61000-3-2:2006+A1:2009+A2:2009 电磁兼容 限值 谐波电流发射限值（设备每相输入电流≤16A）

机构所在地：福建省厦门市 更多相关信息>>

深圳市射频智能科技有限公司

检测项：谐波发射限值 检测样品：信息技术 设备 标准：GB 17625.1-2003 电磁兼容 限值 谐波电流发射限值(设备每相输入电流≤16A)

检测项：谐波发射限值 检测样品：信息技术 设备 标准：GB 17625.1-2012 电磁兼容 限值 谐波电流发射限值(设备每相输入电流≤16A)

检测项：浪涌（冲击）抗扰度试验 检测样品：信息技术 设备 标准：GB/T 17626.5-2008 浪涌（冲击）抗扰度试验

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

安徽中认倍佳科技有限公司

检测项：部分项目 检测样品：电气设备(电磁兼容) 标准：电磁兼容 限值 谐波电流发射限值（设备每相输入电流≤16A） GB 17625.1-2003； IEC61000-3-2 :2009； EN61000-3-2:2006+A1:2009+A2：2009 AS/NZS 61000.3.2:2007/Amdt

检测项：部分项目 检测样品：电气设备(电磁兼容) 标准：电磁兼容 限值 谐波电流发射限值（设备每相输入电流≤16A） GB 17625.1-2003； GB 17625.1-2012； IEC61000-3-2 :2009； EN61000-3-2:2006+A1:2009+A2：2009 AS/NZS 610

检测项：部分项目 检测样品：电气设备(电磁兼容) 标准：电磁兼容 限值 对每相额定电流≤16A且无条件接入的设备在公用低压供电系统中产生的电压变化、电压波动和闪烁的限制 GB 17625.2-2007； IEC 61000-3-3:2008 EN61000-3-3:2008

机构所在地：安徽省滁州市 更多相关信息>>

京信通信技术（广州）有限公司天馈检测中心

检测项：半功率波束宽度 检测样品：移动通信天线 标准：1.《移动通信天线通用技术规范》 GB/T 9410-2008 2.《天线标准测试程序》 IEEE Std 149TM-1979(R2008)

检测项：旁瓣 检测样品：移动通信天线 标准：1.《移动通信天线通用技术规范》 GB/T 9410-2008 2.《天线标准测试程序》 IEEE Std 149TM-1979(R2008)

检测项：前后比 检测样品：移动通信系统基站天线 标准：1.《移动通信系统基站天线技术条件》 YD/T 1059-2004 2.《天线标准测试程序》 IEEE Std 149TM-1979(R2008)

机构所在地：广东省广州市 更多相关信息>>

惠州出入境检验检疫局检验检疫综合技术中心

检测项：部分项目 检测样品：家用和类似用途电器 标准：家用和类似用途电器的安全 第1部分：通用要求 GB 4706.1-2005 IEC 60335-1: 2001+A1: 2004+A2: 2006 家用和类似用途电器的安全 第2部分：风扇的特殊要求 GB4706.27:2008 IEC 60335-2-

检测项：最大放电电流 检测样品：电话用锂离子电池 标准：蜂窝电话用锂离子电池总规范 GB/T 18287-2000

检测项：部分项目 检测样品：电力变压器、电源、电抗器和类似产品 标准：电力变压器、电源、电抗器和类似产品的安全 第一部分：通用要求和试验 GB 19212.1-2008 IEC 61558-1:2005

机构所在地：广东省惠州市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团第七0九研究所微电子测试校准实验室

检测项：极限高电平输入电流 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

检测项：低电平输入电流 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

检测项：高电平输入电流 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

联想移动通信科技有限公司实验室

检测项：充电器要求 检测样品：移动通信手持机充电器 标准：移动通信手持机充电器及接口技术要求和试验方法 YD/T1591-2009

检测项：外观、包装和装配 检测样品：GSM数字移动终端（含手持机、车载终端和其他终端设备） 标准：3GPP 用户设备/移动台空口天线性能 一致性测试 3GPP TS34.114 V8.1.0(200904)

检测项：交流输入电压 检测样品：移动通信手持机充电器 标准：移动通信手持机锂电池充电器的安全要求和试验方法 YD1268.2-2003

机构所在地：福建省厦门市 更多相关信息>>