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检测项：失调/零点误差 检测样品：混合集成电路A/D、D/A变换器 标准：SJ 20961-2006集成电路A/D、D/A转换器测试方法的基本原理
检测项：输入失调电流IIO 检测样品：晶体三极管 标准：GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管
检测项：失调电流Ios 检测样品：模拟/混合集成电路 标准：GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 17940-2000半导体器件集成电路 第3部分 模拟集成电路 GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 14028-199
机构所在地：河南省洛阳市 更多相关信息>>
检测项：失调误差E0 检测样品：D/A转换器 标准：QJ3044-98 半导体集成电路数/模转换器和模/数转换器测试方法 SJ 20961-2006 集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理
检测项：输入失调电压VIO 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：SJ/T10738-1996 半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理
检测项：输入失调电流IIO 检测样品：三端稳压电源（电压调整器） 标准：GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理
机构所在地：上海市 更多相关信息>>
检测项：V/F失调误差 检测样品：半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器 标准：半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理 GB/T14114-1993
检测项：V/F失调误差温度系数 检测样品：半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器 标准：半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理 GB/T14114-1993
检测项：F/V失调误差 检测样品：半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器 标准：半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理 GB/T14114-1993
机构所在地：重庆市 更多相关信息>>
检测项：容积、口径误差、高度误差、重量误差、缺陷尺寸 检测样品：日用陶瓷 标准：日用陶瓷的容积、口径误差、高度误差、重量误差、缺陷尺寸的测定 GB/T3301-1999
机构所在地：山东省淄博市 更多相关信息>>
检测项：容积、口径误差、高度误差、重量误差、缺陷尺寸 检测样品：陶瓷砖 标准：日用陶瓷的容积、口径误差、高度误差、重量误差、缺陷尺寸的测定 GB/T 3301-1999
检测项：容积、口径误差、高度误差、重量误差、缺陷尺寸 检测样品：陈设艺术陶瓷（雕塑瓷、器皿瓷、文化用瓷） 标准：日用陶瓷的容积、口径误差、高度误差、重量误差、缺陷尺寸的测定GB/T3301-1999
检测项：容积、口径误差、高度误差、缺陷尺寸 检测样品：日用瓷 标准：日用陶瓷的容积、口径误差、高度误差、缺陷尺寸的测定方法 GB/T 3301-1999
机构所在地：河北省唐山市 更多相关信息>>
检测项：容积、口径误差、高度误差、重量误差、缺陷尺寸 检测样品：陶瓷烹调器 标准：日用陶瓷的容积、口径误差、高度误差、重量误差、缺陷尺寸的测定GB/T3301-1999
检测项：容积、口径误差、高度误差、重量误差、缺陷尺寸 检测样品：陶瓷烹调器 标准：日用陶瓷的容积、口径误差、高度误差、重量误差、缺陷尺寸的测定 GB/T3301-1999
机构所在地：山西省太原市 更多相关信息>>
检测项：容积、口径误差、高度误差、重量误差、缺陷尺寸 检测样品：日用陶瓷 标准：日用陶瓷的容积、口径误差、高度误差、重量误差、缺陷尺寸的测定方法 GB/T3301-1999
检测项： 容积、口径误差、高度误差、重量误差、缺陷尺寸 检测样品：日用 陶瓷 标准： GB/T3301-1999日用陶瓷的容积、口径误差、高度误差、重量误差、缺陷尺寸的测定方法
检测项：部分参数 检测样品：日用陶瓷 标准：GB/T3532-2009日用瓷器
检测项：部分参数 检测样品：日用陶瓷 标准：GB/T10815-2002日用精陶器
机构所在地：广东省潮州市 更多相关信息>>
检测项：容积、口径误差、高度误差、重量误差、缺陷尺寸 检测样品：陶瓷 标准：日用陶瓷的容积、口径误差、高度误差、重量误差、缺陷尺寸的测定方法 GB/T 3301-1999
机构所在地：广西壮族自治区玉林市 更多相关信息>>
检测项：容积、口径误差、高度误差、重量误差、缺陷尺寸 检测样品：塑料包装件 标准：日用陶瓷的容积、口径误差、高度误差、重量误差、缺陷尺寸的测定方法 GB/T 3301-1999
机构所在地：广东省广州市 更多相关信息>>
