官方微信
您当前的位置:首页 > 存储柜跌落测试
血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述:通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。 血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途:与适配试剂配合使用,用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。 血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例:血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年08月07日
检测项:低温存储 检测样品:通信设备 标准:移动通信手持机可靠性技术要求和测试方法 YD/T 1539-2006
检测项:高温存储 检测样品:通信设备 标准:移动通信手持机可靠性技术要求和测试方法 YD/T 1539-2006
机构所在地:广东省深圳市 更多相关信息>>
检测项:受保护的审计踪迹存储 检测样品:智能卡 标准:GB/T 20276-2006 信息安全技术 智能卡嵌入式软件安全技术要求(EAL4增强级)
检测项:部分网状多对一测试/一对多测试 检测样品:交换机 标准:RFC 2889-2000 局域网(LAN)交换设备基准(测试)方法
机构所在地:广东省广州市 更多相关信息>>
检测项:上升时间 检测样品:数字示波器 标准:GB/T 15289-1994 数字存储示波器通用技术条件和测试方法
检测项:电压幅度 检测样品:数字示波器 标准:GB/T 15289-1994 数字存储示波器通用技术条件和测试方法
检测项:频响 检测样品:数字示波器 标准:GB/T 15289-1994 数字存储示波器通用技术条件和测试方法
机构所在地:江苏省苏州市 更多相关信息>>
检测项:功能测试棋盘格 检测样品:半导体集成电路MOS随机存储器 标准:GB/T 17574-1998《半导体集成电路 第 2 部分 数字集成电路》
检测项:功能测试步进 检测样品:半导体集成电路MOS随机存储器 标准:GB/T 17574-1998《半导体集成电路 第 2 部分 数字集成电路》
检测项:功能测试全0全1 检测样品:半导体集成电路MOS随机存储器 标准:GB/T 17574-1998《半导体集成电路 第 2 部分 数字集成电路》
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:存储测试 检测样品:塑料 标准:《内装饰材料燃烧性能、材料要求》 TL1010-2008
检测项:存储 检测样品:机动车用三角警告牌 标准:《机动车用三角警告牌》 GB19151-2003
检测项:跌落试验 检测样品:机动车用三角警告牌 标准:《内部灯具技术要求》 GMW14118-2007
机构所在地:江苏省常州市 更多相关信息>>
检测项:头盔跌落冲击能量衰减** 检测样品:头部防护 标准:《防护头盔测试方法 测试方法3.1:冲击能量衰减判定 头盔跌落测试》 AS/NZS 2512.3.1:2007
检测项:头盔打击冲击能量衰减** 检测样品:头部防护 标准:《防护头盔测试方法 测试方法3.2:冲击能量衰减判定 头盔打击测试》 AS/NZS 2512.3.2:1997
检测项:抗穿刺性能** 检测样品:头部防护 标准:《防护头盔测试方法 测试方法4:抗穿刺性能判定》 AS/NZS 2512.4:1998
检测项:跌落安全性 检测样品: 标准:
检测项:保险安全性 检测样品: 标准:
检测项:承压安全性 检测样品: 标准:
检测项:自由跌落 检测样品:电子、电气、电工产品 标准:劳埃德型式认可规范-2002 (第10和11节)
检测项:自由跌落 检测样品:电子、电气、电工产品 标准:电工电子产品环境试验 第二部分: 试验方法 试验Ed:自由跌落 GB/T 2423.8-1995 IEC 60068-2-32:1990
检测项:自由跌落 检测样品:电子、电气、电工产品 标准:舰船设备环境试验与工程导则 倾斜和摇摆 CB 1146.8-1996
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:自由跌落测试 检测样品: 标准:
检测项:自由跌落测试 检测样品:锂离子电池 标准:GB/T 18287-2000蜂窝电话用锂离子电池总规范
检测项:振动测试 检测样品: 标准:
检测项:跌落 检测样品:消防梯 标准:GA137-2007 消防梯
检测项:跌落 检测样品:内扣式消防接口 标准:GB12514.1-2005 消防接口第一部分消防接口通用技术条件 GB12514.2-2006 消防接口第二部分内扣式消防接口型式和基本参数
检测项: 检测样品: 标准:
机构所在地:江西省南昌市 更多相关信息>>