您当前的位置：首页 > 峰值发射波长,光谱带宽和光谱功率分布
分子量分布(Molecularweight distribution) 高分子由于大小不一，除了分子量具有统计特性，还有多分散性，即分子量分布。相同的平均分子量会有不同的分子量分布，表现出不同的性能。 分子量分布 测试方法： 沉淀分级法、超速离心沉降法、凝胶渗透色谱法 分子量分布 ...查看详情>>
分子量分布(Molecularweight distribution)
高分子由于大小不一，除了分子量具有统计特性，还有多分散性，即分子量分布。相同的平均分子量会有不同的分子量分布，表现出不同的性能。
分子量分布测试方法：沉淀分级法、超速离心沉降法、凝胶渗透色谱法
分子量分布测试仪器：超速离心机、凝胶渗透色谱仪
收起百科↑ 最近更新：2017年04月13日
检测项：硅 检测样品：铝及铝合金制品 标准：《铝及铝合金光电直读发射光谱分析方法》 GB/T 7999-2007 《采用火花原子发射光谱法分析铝和铝合金的试验方法1>》 ASTM E1251-11
机构所在地：重庆市
机构所在地：浙江省宁波市
检测项：P 检测样品：钢铁及合金 标准：铸铁 多元素含量的测定 火花放电原子发射光谱法(常规法) GB/T 24234-2009 钢铁及合金光电发射光谱分析法通则 GB/T 14203-1993
机构所在地：四川省宜宾市
机构所在地：黑龙江省哈尔滨市
检测项：硫 检测样品： 标准：煤中全硫测定红外光谱法 GB/T25214-2010
检测项：硅元素光谱分析 检测样品：无损检测 标准：《承压设备无损检测 第3部分:超声检测》 JB/T 4730.3-2005 《管道焊接接头超声波检验技术规程》 DL/T820-2002
机构所在地：内蒙古自治区呼和浩特市
机构所在地：广东省深圳市
检测项：门极正向峰值功率/峰值电流/峰值电压 检测样品：晶闸管 标准：半导体器件 第6部分 晶闸管 GB/T 15291-1994 反向阻断三极晶闸管测试方法 JB/T 7626-1994
检测项：反向重复/不重复峰值电压 检测样品：晶闸管 标准：半导体器件 第6部分 晶闸管 GB/T 15291-1994 反向阻断三极晶闸管测试方法 JB/T 7626-1994
检测项：断态重复/不重复峰值电压 检测样品：晶闸管 标准：半导体器件 第6部分 晶闸管 GB/T 15291-1994 反向阻断三极晶闸管测试方法 JB/T 7626-1994
机构所在地：陕西省西安市
