信息技术设备中谐波电流的检测

检测项：谐波电流 检测样品：信息技术设备 标准：GB17625.1-2012 电磁兼容 限值 谐波电流发射限值(设备每相输入电流≤16A)

检测机构：国家食品质量监督检验中心 更多相关信息>>

潍坊半导体照明产品检测中心

检测项：峰值发射波长,光谱带宽和光谱功率分布 检测样品：灯和灯系统 标准：灯和灯系统的光生物安全性 GB/T 20145-2006

检测项：光强分布和光束角的测量 检测样品：稀土黄色荧光粉 标准：白光LED灯用稀土黄色荧光粉试验方法 第1部分:光谱性能的测定 GB/T 23595.1-2009

检测项：发射光谱 检测样品：稀土黄色荧光粉 标准：白光LED灯用稀土黄色荧光粉试验方法 第1部分:光谱性能的测定 GB/T 23595.1-2009

机构所在地：山东省潍坊市 更多相关信息>>

中国科学院长春光学精密机械与物理研究所质检中心

检测项：峰值发射波长、光谱带宽和光谱功率分布 检测样品：发光二极管（LED） 标准：SJ/T 11394-2009 《半导体发光二极管测试方法》

检测项：光谱带宽 检测样品：双光束紫外可见分光光度计 标准：GB/T26813-2011《双光束紫外可见分光光度计》

检测项：光谱带宽 检测样品：双光束紫外可见分光光度计 标准：GB/T26813-2011《双光束紫外可见分光光度计》

机构所在地：吉林省长春市 更多相关信息>>

中国科学院半导体研究所照明检测中心

检测项：峰值发射波长、光谱带宽、光谱功率分布 检测样品：发光二极管 标准：半导体发光二极管测试方法 SJ11394-2009

检测项：峰值发射波长、光谱带宽、相对光谱功率分布 检测样品：普通照明用LED模块 标准：金属覆盖层厚度轮廓尺寸测量方法 GB 11378-2005 微电子器件试验方法和程序 2016 GJB548B－2005 金相显微镜分析方法通则 JY/T 012-1996

检测项：光谱带宽 检测样品：发光二极管芯片 标准：微电子器件试验方法和程序2009以及2016； GJ/B548B－2005 金相显微镜分析方法通则 JY/T 012-1996

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

天津市电子仪表实验所

检测项：部分参数 检测样品：熔断体 标准：半导体器件 光电子器件分规范 GB/T 12565-1990

检测项：部分参数 检测样品：熔断体 标准：半导体器件 机械和气候试验方法 第2部分：低气压 GB/T 4937.2-2006 IEC 60749-2:2002

检测项：部分参数 检测样品：半导体分立器件发光二极管 标准：半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范 GB/T 4589.1-2006 IEC 60747-10:1991

机构所在地：天津市 更多相关信息>>

中国测试技术研究院

检测项：峰值发射波长和光谱半宽度 检测样品：热像仪 标准：GB/T 19870－2005 工业检测型红外热像仪

检测项：峰值发射波长和光谱半宽度 检测样品：热像仪 标准：工业检测型红外热像仪 GB/T 19870－2005

检测项：光谱分布 检测样品：色温标准灯 标准：Publication CIE No. 63 (1984) 光源的光谱辐射测量

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>

江西出入境检验检疫局景德镇陶瓷检测中心

检测项：粒度分布 检测样品：陶瓷材料 标准：波长色散X射线荧光光谱法测定白色陶瓷材料化学分析的标准试验方法 ASTM C 1605-04(2009)

检测项：粒度分布 检测样品：陶瓷材料 标准：耐火材料 X射线荧光光谱化学分析 熔铸玻璃片法 GB/T 21114-2007

检测项：粒度分布 检测样品：陶瓷材料 标准：稀土金属及其化合物物理性能测试方法 稀土化合物粒度分布的测定 GB/T 20170.1-2006

机构所在地：江西省景德镇市 更多相关信息>>

湖北省计量测试技术研究院

检测项：光发射波长、平均发射光功率、消光比、眼图、边模抑制比、光谱宽度测量 检测样品：10Gbit/s小型化可插拔光收发合一模块 标准：10Gbit/s小型化可插拔光收发合一模块技术条件 YD/T 1465-2006

检测项：光发射波长、消光比、边模抑制比、眼图、光谱线宽度、输出光功率的测量 检测样品：10Gb/s光收发合一模块 标准：具有复用/去复用功能的光收发合一模块技术条件 第2部分：10Gb/s光收发合一模块 YD/T 1321.2-2004

检测项：光发射中心波长、消光比、边模抑制比、眼图、光谱宽度、输出光功率的测试 检测样品：粗波分复用光收发合一模块 标准：粗波分复用光收发合一模块技术要求和测试方法 YD/T 1351-2005

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

上海半导体照明工程技术研究中心检测实验室

检测项：峰值波长(峰值发射波长) 检测样品：普通照明用LED模块 标准：GB/T 24824-2009 普通照明用LED模块测试方法

检测项：峰值波长(峰值发射波长) 检测样品：发光二极管 标准：SJ/T11394-2009 半导体发光二极管测试方法 JB/T10875-2008 发光二极管光学性能测试方法

检测项：峰值波长(峰值发射波长) 检测样品：发光二极管 标准：SJ/T11394-2009 半导体发光二极管测试方法 JB/T10875-2008 发光二极管光学性能测试方法

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

上海市计量测试技术研究院（华东国家计量测试中心/中国上海测试中心）

检测项：*部分项目 检测样品：无线电通讯设备的电磁兼容 标准：射频设备—C部分—有意发射设备 FCC 47 CFR Part 15:2010

检测项：部分项目 检测样品：*无线电通讯设备（电磁兼容） 标准：射频设备—C部分—有意发射设备 FCC 47 CFR Part 15:2010

检测项：部分项目 检测样品：LED 标准：LED测量 CIE 127：2007

机构所在地：上海市 更多相关信息>>