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血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述:通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。 血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途:与适配试剂配合使用,用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。 血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例:血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年08月07日
检测项:次级峰值电压 检测样品:磁电机用点火线圈 标准:JB/T9865.1-1999《磁电机用点火线圈技术条件》 JB/T9865.2-1999《磁电机用点火线圈试验方法》
检测项:充电线圈峰值电压 检测样品:磁电机 标准:JB/T5140.1-1999《磁电机 技术条件》
检测项:线圈电流 检测样品:摩托车和轻便摩托车用起动继电器 标准:QC/T681-2002《摩托车和轻便摩托车用起动继电器技术条件》
机构所在地:广东省广州市 更多相关信息>>
检测项:次级峰值电压 检测样品:磁电机用点火线圈 标准:JB/T 9865.1-1999 《磁电机用点火线圈技术条件》 JB/T 9865.2-1999 《磁电机用点火线圈试验方法》
检测项:充电线圈峰值电压 检测样品:磁电机 标准:JB/T 5140.1-1999 《磁电机技术条件》
检测项:次级峰值电压 检测样品:磁电机 标准:JB/T 5140.1-1999 《磁电机技术条件》
机构所在地:重庆市 更多相关信息>>
检测项:峰值波长 检测样品:发光二极管芯片 标准:微电子器件试验方法和程序2009以及2016; GJ/B548B-2005 金相显微镜分析方法通则 JY/T 012-1996
检测项:峰值发射波长、光谱带宽、相对光谱功率分布 检测样品:普通照明用LED模块 标准:金属覆盖层厚度轮廓尺寸测量方法 GB 11378-2005 微电子器件试验方法和程序 2016 GJB548B-2005 金相显微镜分析方法通则 JY/T 012-1996
检测项:峰值发射波长、光谱带宽、光谱功率分布 检测样品:发光二极管 标准:半导体发光二极管测试方法 SJ11394-2009
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:部分项目 检测样品:声级计 标准:GB3785.2-2010/IEC61672-2:2003《电声学 声级计 第2部分:型式评价试验 》
检测项:部分项目 检测样品:冷水水表 标准:GB/T 778.3-2007《封闭满管道中水流量的测量饮用冷水水表和热水水表第3部分:试验方法和试验设备》
机构所在地:江苏省常州市 更多相关信息>>
检测项:X轴振动最大峰峰值 检测样品:电梯乘运质量测量 标准:电梯乘运质量测量GB/T 24474-2009 电梯试验方法GB/T 10059-2009 电梯技术条件GB/T 10058-2009
检测项:X轴振动A95峰峰值 检测样品:电梯乘运质量测量 标准:电梯乘运质量测量GB/T 24474-2009 电梯试验方法GB/T 10059-2009 电梯技术条件GB/T 10058-2009
检测项:Y轴振动最大峰峰值 检测样品: 标准:
机构所在地:广东省珠海市 更多相关信息>>
检测项:冲击试验 检测样品:机电设备及电子电工产品 标准:军用设备环境试验方法 冲击试验 GJB 150.18-1986
检测项:冲击试验 检测样品:机电设备及电子电工产品 标准:军用装备实验室环境试验方法 第18部分:冲击试验 GJB 150.18A-2009
检测项:冲击试验 检测样品:机电设备及电子电工产品 标准:舰船电子设备环境试验 颠震试验 GJB 4.8-1983
检测项:短路耐受强度试验和短路保护功能 检测样品:低压成套无功功率补偿装置 标准:低压成套无功功率补偿装置GB/T15576-2008
检测项:短路耐受强度 检测样品:低压成套开关设备和控制设备 标准:低压成套开关设备和控制设备 第1部分: 型式试验和部分型式试验成套设备 GB7251.1-2005
检测项:绝缘材料的对非常热和着火危险的耐受能力 检测样品:低压成套无功功率补偿装置 标准:低压成套无功功率补偿装置GB/T15576-2008
机构所在地:湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项:提高缺氧耐受力功能试验 检测样品:保健食品 标准:《保健食品检验与评价技术规范》(卫生部2003年版) 保健食品功能学评价程序和检验方法规范 第二部分(十三)
检测项:大鼠90天喂养试验/亚慢性毒性试验 检测样品:水果、蔬菜 标准:食品安全性毒理学评价程序和方法 30天和90天喂养试验 GB 15193.13-2003
机构所在地:陕西省西安市 更多相关信息>>
检测项:高速公路卡车振动环境试验 检测样品:振动试验 受试样件 标准:军用设备实验室环境试验方法第16部分: 振动试验/附录C 图C.1 GJB150.16A-2009
检测项:输出脉冲峰值电压VOP 检测样品:脉宽调制器 标准:半导体集成电路开关电源脉宽调制器测试方法 QJ2660-1994
检测项:纹波电压(有效值或峰峰值) 检测样品:DC/DC电源装置 标准:电源变换器测试方法 QJ 1467A-1997
检测项:冲击试验 检测样品:光机电产品环境试验 标准:GJB150.18A-2009 军用装备实验室环境试验方法第18部分:冲击试验 程序Ⅰ、程序Ⅱ、程序Ⅲ和程序Ⅴ(峰值加速度≤50g)
检测项:低温试验 检测样品:光机电产品环境试验 标准:GJB150.4-1986 军用设备环境试验方法:低温试验
检测项:高温试验 检测样品:光机电产品环境试验 标准:GJB4.3-1983 舰船电子设备环境试验 低温试验