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检测项:输出低电流 检测样品:集成电路 标准:半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM
检测项:输出高电流 检测样品:集成电路 标准:半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM
检测项:低三态输出电流 检测样品:集成电路 标准:半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM
机构所在地:湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项:充电器要求 检测样品:移动通信手持机充电器 标准:移动通信手持机充电器及接口技术要求和试验方法 YD/T1591-2009
机构所在地:福建省厦门市 更多相关信息>>
检测项:部分参数 检测样品:玩具 标准:EN71-1:2005 +A4:2007《欧洲玩具安全第1部分:机械和物理性能》
检测项:部分参数 检测样品:玩具 标准:ASTM F963-2011 《美国标准消费者安全规范》
机构所在地:福建省莆田市 更多相关信息>>
检测项:CS109 50Hz-100kHz 壳体电流传导敏感度 检测样品:军用设备和分系统 标准:军用设备和分系统电磁发射和敏感度要求 GJB151A-97 军用设备和分系统电磁发射和敏感度测量 GJB152A-97
机构所在地:四川省成都市 更多相关信息>>
检测项:CS109 50Hz-100kHz壳体电流传导敏感度 检测样品:军用设备和分系统 标准:军用设备和分系统电磁发射和敏感度要求 GJB151A-1997 军用设备和分系统电磁发射和敏感度测量 GJB152A-1997
机构所在地:陕西省西安市 更多相关信息>>
检测项:EMC 检测样品:移动电话 标准:GB/T 22450.1-2008 900/1800MHz TDMA 数字蜂窝移动通信系统电磁兼容性限值和测量方法论第1部分:移动台及其辅助设备
检测项:SAR 检测样品:移动电话 标准:ETSI EN 301 489-7 V1.3.1:2005 电磁兼容性和无线电频谱管理(ERM).无线电设备的电磁兼容性标准.第7部分:数字蜂窝无线电电信系统的移动和便携式无线电及辅助设备的特殊条件
检测项:SAR 检测样品:移动电话 标准:YD/T 1592.1-2007 2GHz TD-SCDMA 数字蜂窝移动通信系统.电磁兼容性要求和测量方法.第1部分:用户设备及其辅助设备
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:电流 检测样品:计量仪表及电子电器产品(电磁兼容试验) 标准:《电磁兼容 试验和测量技术 静电放电抗扰度试验》 GB/T 17626.2-2006 《电磁兼容 试验和测量技术 静电放电抗扰度试验》 IEC 61000-4-2:2001
机构所在地:河北省石家庄市 更多相关信息>>
检测项:电性能 检测样品:玩具和儿童用品 标准:电玩具的安全 GB 19865-2005
检测项:电性能 检测样品:玩具和儿童用品 标准:电玩具的安全 IEC 62115:2003+A1:2004+A2:2010
检测项:电性能 检测样品:玩具和儿童用品 标准:电玩具的安全 EN 62115:2005+A11:2012 BS EN 62115:2005+A11:2012
机构所在地:广东省广州市 更多相关信息>>
检测项:*部分项目 检测样品:光缆 标准:光缆 第1-2部分:总规范 光缆基本试验规程 IEC 60794-1-2-2003
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:过电流强度 检测样品:接线盒 标准:QC/T 707-2004 车用中央电气接线盒技术条件 QC/T 413-2002 汽车电气设备基本技术条件 QC/T 417.1-2001 车用电线束插接器 第1部分定义、试验方法和一般性能要求
机构所在地:江苏省南京市 更多相关信息>>