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运动损伤软组织修复重建植入物产品描述:通常为钩状、钉状、门型、板状植入物,或与可植入缝线共同使用。一般采用金属、高分子、复合材料等制成,附着在固定装置上的缝线分为可吸收,部分可吸收和不可吸收三大类。 运动损伤软组织修复重建植入物预期用途:用于肩、足、踝、髋、膝、手、腕、肘、半月板、交叉韧带等部位的软组织重建和修复。 运动损伤软组织修复重建植入物品名举例:带线锚钉、界面...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年03月31日
检测项:固体中γ放射性核素比活度 检测样品:环境介质 标准:用半导体γ谱仪分析低比活度γ放射性样品的标准方法 GB/T 11713-1989
检测项:液体中γ放射性核素比活度 检测样品:环境介质 标准:用半导体γ谱仪分析低比活度γ放射性样品的标准方法 GB/T 11713-1989
检测项:固体中α放射性核素比活度 检测样品:环境介质 标准:用半导体γ谱仪分析低比活度γ放射性样品的标准方法 GB/T 11713-1989
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:灰分 检测样品:铝电解用半石墨质阴极炭块 标准:《炭素材料灰分含量的测定方法》GB/T 1429-2009
检测项:显气孔率 检测样品:铝电解用半石墨质阴极炭块 标准:《炭素材料显气孔率的测定方法》GB/T 24529-2009
检测项:灰分 检测样品:铝电解用半石墨质阴极炭块 标准:《铝用炭素材料检测方法 第19部分:灰分含量的测定》YS/T 63.19-2012
机构所在地:湖南省郴州市 更多相关信息>>
检测项:挥发性盐基氮 检测样品:动物性食品 标准:GB/T 5009.44-2003 肉与肉制品卫生标准的分析方法
检测项:汞 检测样品:漆与有关的表面涂料 标准:GB 9758.7-1988 色漆和清漆 “可溶性”金属含量的测定 第7部分:色漆的液体部分和水可稀释漆的液体部分的汞含量的测定 无焰原子吸收光谱法
机构所在地:贵州省贵阳市 更多相关信息>>
检测项:联苯胺 检测样品:水质参数 标准:半挥发性有机物的测定 气相色谱/质谱法 US EPA 8270D-2007
检测项:四乙基铅 检测样品:水质参数 标准:半挥发性有机物的测定 气相色谱/质谱法 US EPA 8270D-2007
检测项:部分参数 检测样品:生活饮用水 标准:《饮用水化学处理剂卫生安全性评价》GB/T17218-1998
机构所在地:浙江省绍兴市 更多相关信息>>
检测项:输入失调电流 检测样品:电压比较器 标准:SJ/T10805-2000半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
检测项:输入偏置电流 检测样品:电压比较器 标准:SJ/T10805-2000半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
检测项:开环电压增益 检测样品:电压比较器 标准:SJ/T10805-2000半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
机构所在地:江苏省南京市 更多相关信息>>
检测项:挥发性盐基氮 检测样品:食品 标准:肉与肉制品卫生标准的分析方法 GB/T 5009.44-2003
检测项:pH值 检测样品:食品 标准:蛋与蛋制品卫生标准的分析方法 GB/T 5009.47-2003
检测项:酸度 检测样品:食品 标准:食品安全国家标准 乳及乳制品酸度的测定GB 5413.34-2010
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:输入钳位电压 检测样品:TTL集成电路 标准:半导体集成电路TTL电路 测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996
检测项:输出高电平电压 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
检测项:输出低电平电压 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
机构所在地:重庆市 更多相关信息>>
检测项:氮 检测样品:焦炭 标准:煤中氮的测定方法GB/T19227-2008 /3
检测项:耗煤含氮量 检测样品:工业锅炉热工性能 标准:煤中氮的测定方法 GB/T19227-2008
检测项:煤样的制备 检测样品:焦炭 标准:煤样的制备方法GB474-2008
机构所在地:山东省烟台市 更多相关信息>>
检测项:挥发性盐基氮 检测样品:肉类 标准:肉与肉制品卫生标准的分析方法 GB/T 5009.44-2003
检测项:灰分 检测样品:食品 标准:食品安全国家标准 食品中灰分的测定 GB 5009.4-2010
检测项:脂肪 检测样品:食品 标准:食品中脂肪的测定 GB/T 5009.6-2003
机构所在地:河南省郑州市 更多相关信息>>
检测项:输入失调电流 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
检测项:输入偏置电流 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
检测项:开环电压增益 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
机构所在地:甘肃省兰州市 更多相关信息>>