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检测项:增益误差 检测样品:光电耦合器 标准:GJB 33A-1997 半导体分立器件总规范 GB/T 15651-1995 半导体器件分立器件 第5部分 光电子器件
机构所在地:上海市
检测项:增益误差EG 检测样品:混合集成电路A/D、D/A变换器 标准:SJ 20961-2006集成电路A/D、D/A转换器测试方法的基本原理
机构所在地:河南省洛阳市
机构所在地:北京市
检测项:前置予处理机增益;多路前置予处理器增益一致性 检测样品:声纳设备 标准:声纳通用规范 GJB22A-1999
检测项:时变增益(TVG)控制范围 检测样品:声纳设备 标准:声纳通用规范 GJB22A-1999
检测项:自动增益控制(AGC)范围 检测样品:声纳设备 标准:声纳通用规范 GJB22A-1999
机构所在地:浙江省杭州市