西安东风仪表厂可靠性试验检测中心

检测项：开环电压增益 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理SJ/T10738-1996

检测项：开环电压增益 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理SJ/T10738-1996

检测项：开环电压增益 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理SJ/T10738-1996

机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>

中科华核电技术研究院有限公司核安全电气设备鉴定检测中心

检测项：开环电压增益 检测样品：电工电子产品/核安全级电气设备 标准：电工电子产品环境试验 第2部分： 试验方法 试验A：低温 GB/T 2423.1-2008

检测项：开环电压增益 检测样品：电工电子产品/核安全级电气设备 标准：(1)电工电子产品环境试验 第2部分： 试验方法 试验A：低温 GB/T 2423.1-2008

检测项：输出电压调整率 检测样品：半导体集成电路电压调整器 标准：半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理GB/T 4377-1996

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团公司第七二二研究所计量检测中心

检测项：开环电压增益AVD 检测样品：半导体集成电路TTL电路 标准：SJ/T10735-1996《半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理》

检测项：增益 检测样品：天线 标准：QJ1729A-1996《航天天线测试方法》 CB1338－1998 《舰船通信天线技术要求》 GB/T 9410-2008 《移动通信天线通用技术规范》 CB1189－2008 《船用超短波通信天线电性能基本技术要求和测量方法》

检测项：输入失调电压VIO 检测样品：电压比较器 标准：GB/T6798-1996《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团公司第723研究所电工电子设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：开环电压增益 检测样品：电压比较器、运算放大器 标准：《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》GB/T6798-1996 《半导体器件 集成电路第3部分：模拟集成电路》GB/T17940-2000

检测项：输出电压 检测样品：电压调整器 标准：《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》GB/T4377-1996

检测项：耐电压测试 检测样品：船舶与海上设施用电工电子设备 标准：《电气电子产品型式认可试验指南》GD01-2006

机构所在地：江苏省扬州市 更多相关信息>>

中国航空无线电电子研究所元器件检测中心

检测项：开环电压增益 检测样品：模拟集成电路 标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压

检测项：开环电压增益 检测样品：模拟集成电路 标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压

检测项：增益误差 检测样品：光电耦合器 标准：GJB 33A-1997 半导体分立器件总规范 GB/T 15651-1995 半导体器件分立器件 第5部分 光电子器件

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

中国空空导弹研究院元器件检测中心

检测项：开环电压增益 检测样品：模拟/混合集成电路 标准：GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 17940-2000半导体器件集成电路 第3部分 模拟集成电路 GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 14028-199

检测项：增益误差EG 检测样品：混合集成电路A/D、D/A变换器 标准：SJ 20961-2006集成电路A/D、D/A转换器测试方法的基本原理

检测项：滞后电压ΔVT 检测样品：模拟/混合集成电路 标准：GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 17940-2000半导体器件集成电路 第3部分 模拟集成电路 GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 14028-199

机构所在地：河南省洛阳市 更多相关信息>>

北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司

检测项：开环电压增益AVD 检测样品：半导体集成电路（稳压器） 标准：1.GB/T 4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法基本原理 2.GB/T 4589.1-2006半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范

检测项：开环电压增益AVD 检测样品：半导体集成电路（运算放大器） 标准：1.SJ/T10738-1996半导体集成电路 运算（电压）放大器测试方法的基本原理 2.GB/T 4589.1-2006半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范 3.GB/T 16464-1996半导体器件

检测项：正电源电压抑制比KSVR+ 检测样品：半导体集成电路（电压比较器） 标准：1.SJ/T10805-2000半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理 2.GB/T 4589.1-2006半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范 3.GB/T 16464-1996 半导体器件 集成电路

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十研究所天奥校准/检测实验室

检测项：开环电压增益 检测样品：时基 电路 标准：半导体集成电路 时基电路 测试方法的基本原理GB/T14030-1992 第2.1、2.2、2.3、2.4、2.6、2.7、2.8条

检测项：开环电压增益 检测样品：时基 电路 标准：半导体集成电路 时基电路 测试方法的基本原理GB/T14030-1992 第2.1、2.2、2.3、2.4、2.6、2.7、2.8条

检测项：开环电压增益 检测样品：电压 比较器 标准：半导体集成电路 电压比较器 测试方法的基本原理 GB/T6798-1996 第4.1、4.3、4.5、4.7、4.8、4.9、4.11、4.13、4.14、4.15、4.16条

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>

湖北省计量测试技术研究院

检测项：小信号增益、波道增益、最大多波道增益变化、多波道增益变化差、偏振相关增益和波道增加/移去增益响应（静态）（分立式RFA） 检测样品：喇曼光纤放大器 标准：喇曼光纤放大器技术条件 GB/T 20184-2006

检测项：小信号增益 检测样品：光纤放大器（EDFA） 标准：光纤放大器试验方法基本规范 第1部分:增益参数的试验方法 GB/T 16850.1-1997

检测项：增益斜率 检测样品：光纤放大器（EDFA） 标准：光纤放大器试验方法基本规范 第4部分：模拟参数-增益斜率的试验方法 GB/T 16850.4-2006

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

中捷通信有限公司检测校准中心

检测项：最大增益 检测样品： 标准：

检测项：增益调节范围 检测样品： 标准：

检测项：增益调节步长及误差 检测样品： 标准：

机构所在地：广东省广州市 更多相关信息>>