待机功耗测试检测实验

血糖及血糖相关参数分析仪器

简介

血糖及血糖相关参数分析仪器

简介

血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述：通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。

血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途：与适配试剂配合使用，用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。

血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例：血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血脂监测仪、血糖血酮仪、血酮体测试仪、葡萄糖/乳酸分析仪、尿酸/血糖分析仪、血脂/血糖分析仪、血糖/胆固醇两用检测仪、血糖/胆固醇/甘油三酯/乳酸分析仪、血脂分析仪

血糖及血糖相关参数分析仪器管理类别：Ⅱ

血糖及血糖相关参数分析仪器相关指导原则：
1、血糖仪注册技术审查指导原则
2、自测用血糖监测系统注册申报资料指导原则

血糖及血糖相关参数分析仪器相关标准：
1、YY/T 1549-2017 生化分析仪用校准物下载2、YY/T 1662-2019 生化分析仪用质控物

血糖及血糖相关参数分析仪器相关检测项目：
1 . 外观《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
2 . 血糖仪和血糖试条测量重复性《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
3 . 血糖仪和血糖试条系统准确度《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
4 . 红细胞压积《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
5 . 血糖试条批间差《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
6 . 质控物质《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
7 . 血糖仪环境试验《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
8 . 血糖仪安全要求《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》

收起百科↑ 最近更新：2023年08月07日

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湖南省电子产品检测分析所/中国赛宝（湖南）实验室/湖南省软件评测中心

检测项：整机功耗检测样品：稳压电源※ 标准：抗干扰型交流稳压电源测试方法 SJ/T 10542-1994

检测项：静态功耗检测样品：车辆防盗报警系统标准：车辆防盗报警系统小客车 GA 2-1999

检测项：安全试验检测样品：交换机※ 标准：局域网(LAN)交换设备基准（测试）方法 RFC 2889-2000 网络互连设备测试方法RFC 2544-1999 以太网交换机测试方法YD/T 1141-2007

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西南技术物理研究所检测校准中心实验室

检测项：静态功耗检测样品：时基电路标准：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T 14030-1992

检测项：静态功耗检测样品：电子元器件标准：微电路试验方法和程序GJB 548B-2005

检测项：脉冲能量检测样品：激光器标准：固体激光器测试方法 GJB 5441-2005

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联想（北京）有限公司可靠性实验室

检测项：空闲模式的功耗(W) 检测样品：标准：计算机产品能源之星计划要求.版本5.2；计算机产品能源之星计划要求测试方法 Rev. Aug-2010

检测项：睡眠模式的功耗(W) 检测样品：标准：计算机产品能源之星计划要求.版本5.2；计算机产品能源之星计划要求测试方法 Rev. Aug-2010

检测项：关机模式的功耗(W) 检测样品：标准：计算机产品能源之星计划要求.版本5.2；计算机产品能源之星计划要求测试方法 Rev. Aug-2010

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上海华岭集成电路技术股份有限公司检测中心

检测项：静态功耗检测样品：时基电路标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 SJ/T 10805-2000

检测项：D/A功耗检测样品：CMOS集成电路标准：集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理　 SJ20961-2006

检测项：A/D功耗检测样品：CMOS集成电路标准：集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理　 SJ20961-2006

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云南昆船电子设备有限公司蓝海综合实验中心

检测项：静态功耗检测样品：TTL电路标准：SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

检测项：输入钳位电压检测样品：TTL电路标准：SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

检测项：输入失调电流检测样品：TTL电路标准：SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

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西南计算机有限责任公司检测计量与软件测评中心

检测项：静态功耗检测样品：电压比较器标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T6798-1996

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检测项：低温试验检测样品：军用及民用机械、电子类产品标准：航海及无线电通信设备与系统– 总体要求 – 测试方法以及要求的测试结果 CEI/IEC 60945：2002

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中国空空导弹研究院元器件检测中心

检测项：功耗PD 检测样品：混合集成电路A/D、D/A变换器标准：SJ 20961-2006集成电路A/D、D/A转换器测试方法的基本原理

检测项：滞后电压ΔVT 检测样品：模拟/混合集成电路标准：GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 17940-2000半导体器件集成电路第3部分模拟集成电路 GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 14028-199

检测项：输出高电平电压VOH 检测样品：模拟/混合集成电路标准：GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 17940-2000半导体器件集成电路第3部分模拟集成电路 GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 14028-199

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浙江省计量科学研究院/浙江省方正校准有限公司

检测项：平均功耗电流检测样品：频率计标准：频率计数器测试方法 GB/T 15151-1994

检测项：平均功耗电流检测样品：指针式石英钟标准：指针式石英钟 GB/T 6046-2007

检测项：全部参数检测样品：汽车转向角测试仪标准：汽车转向角测试仪 JT/T 634-2005

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湖南航天管理局计量检测中心

检测项：静态功耗PD 检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

检测项：静态功耗PD 检测样品：半导体集成电路运算放大器标准：SJ/T10738-1996 半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理

检测项：静态功耗PD 检测样品：半导体集成电路电压比较器标准：GB/T6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理

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北京尊冠科技有限公司

检测项：静态功耗PD 检测样品：电压比较器标准：GB/T 6798－1996《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》

检测项：接触式IC物理特性测试方法检测样品：IC卡标准：GB/T 17554.1-2006识别卡测试方法第1部分：一般特性测试 ISO/IEC10373-1：2006识别卡-测试方法-第1部分:通用特性

检测项：射频识别设备测试方法检测样品：电子标签产品标准：ISO/IEC TR 18047-2 :2006(E) 信息技术－射频识别设备一致性测试方法－第2部分：低于135KHz空中通信接口测试方法 ISO/IEC TR 18047-4 :2004(E) 信

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