恢复期暂态正向电压试验检测实验

血糖及血糖相关参数分析仪器

简介

血糖及血糖相关参数分析仪器

简介

血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述：通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。

血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途：与适配试剂配合使用，用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。

血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例：血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血脂监测仪、血糖血酮仪、血酮体测试仪、葡萄糖/乳酸分析仪、尿酸/血糖分析仪、血脂/血糖分析仪、血糖/胆固醇两用检测仪、血糖/胆固醇/甘油三酯/乳酸分析仪、血脂分析仪

血糖及血糖相关参数分析仪器管理类别：Ⅱ

血糖及血糖相关参数分析仪器相关指导原则：
1、血糖仪注册技术审查指导原则
2、自测用血糖监测系统注册申报资料指导原则

血糖及血糖相关参数分析仪器相关标准：
1、YY/T 1549-2017 生化分析仪用校准物下载2、YY/T 1662-2019 生化分析仪用质控物

血糖及血糖相关参数分析仪器相关检测项目：
1 . 外观《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
2 . 血糖仪和血糖试条测量重复性《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
3 . 血糖仪和血糖试条系统准确度《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
4 . 红细胞压积《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
5 . 血糖试条批间差《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
6 . 质控物质《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
7 . 血糖仪环境试验《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
8 . 血糖仪安全要求《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》

收起百科↑ 最近更新：2023年08月07日

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国营长风机器厂环境试验检测计量中心

检测项：正向电压检测样品：分立器件筛选标准：半导体分立器件试验方法GJB128A-1997

检测项：正向电压检测样品：整流二极管标准：半导体器件分立器件第2部分整流二极管 GB/T6571-1995

检测项：正向电压检测样品：开关二极管标准：半导体器件分立器件第3部分信号(包括开关)和调整二极管 GB/T6571-1995

机构所在地：甘肃省兰州市更多相关信息>>

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西安东风仪表厂可靠性试验检测中心

检测项：正向压降检测样品：半导体二极管标准：半导体分立器件试验方法GJB128A-1997

检测项：正向压降检测样品：半导体二极管标准：半导体分立器件试验方法GJB128A-1997

检测项：正向压降检测样品：半导体二极管标准：半导体分立器件试验方法GJB128A-1997

机构所在地：陕西省西安市更多相关信息>>

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中国电子科技集团公司第十四研究所检测/试验中心

检测项：正向阈值电压下的输入电流检测样品：电压调整器标准：GB/T 4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理

检测项：共发射极正向电流传输比检测样品：双极型晶体管标准：GB/T4587-1994半导体器件分立器件和集成电路第7部分双极型晶体管

检测项：正向压降检测样品：开关二极管标准：GB/T6571-1995第3部分信号（包括开关）和调整二极管

机构所在地：江苏省南京市更多相关信息>>

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西北机电工程研究所检测和校准实验室

检测项：正向电压VF 检测样品：二极管标准：《半导体分立器件试验方法》 GJB 128A-1997

检测项：正向电压VF 检测样品：二极管标准：《高稳定薄膜固定电阻器总规范》 GJB 1929-1994

检测项：正向电压VF 检测样品：二极管标准：《片式膜固定电阻器通用规范》 GJB 1432B-2009

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中国电子科技集团公司第十研究所天奥校准/检测实验室

检测项：正向电压检测样品：二极管标准：半导体分立器件试验方法GJB128A-1997方法4011

检测项：正向电压检测样品：二极管标准：半导体器件分立器件第3部分:信号(包括开关)和调整二极管GB/T6571-1995半导体器件Ⅳ章1.2条

检测项：门极触发电压检测样品：光耦合器标准：半导体光耦合器（二极管）正向压降的测试方法 SJ 2215.2-1982

机构所在地：四川省成都市更多相关信息>>

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北京尊冠科技有限公司

检测项：4011 正向电压检测样品：电子及电气元件标准：GJB 360B－2009《电子及电气元件试验方法》

检测项：正向电压（VF）检测样品：双极型晶体管标准：GB/T 4587－94 《半导体器件分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管》

检测项：正向直流电压（VF）检测样品：信号（包括开关）和调整二级管标准：GB/T 6571－1995《半导体器件分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二级管》

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中国船舶重工集团公司第七二二研究所计量检测中心

检测项：正向电压VF 检测样品：二极管标准：GB/T6571-1995《半导体分立器件试验第3部分：信号（包括开关）和调整二极管》

检测项：正向阈值电压下的输入电流IT+ 检测样品：半导体集成电路CMOS电路标准：SJ/T10741-2000《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》

检测项：电压暂降、短时中断和电压变化抗扰度检测样品：电子、电气产品标准：(1) GB/T 17626.11-2008/IEC61000-4-11:2004 《电磁兼容试验和测量技术电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验》

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中兴通讯股份有限公司材料实验室

检测项：正向电压检测样品：二极管标准：半导体分立器件试验方法 GJB 128A-97

检测项：正向电压检测样品：二极管标准：半导体分立器件试验方法 GJB 128A-97

检测项：正向电压检测样品：二极管标准：半导体分立器件试验方法 GJB 128A-97 半导体器件分立器件 -第3部分信号（包括开关）和稳压二极管 IEC 60747-3-1985

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西南计算机有限责任公司检测计量与软件测评中心

检测项：正向直流电压检测样品：二极管标准：半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法4011 、方法4016

检测项：正向栅源漏电流检测样品：晶闸管标准：半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法3407

检测项：电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度检测样品：工业、科学、医疗设备标准：电磁兼容试验和测量技术电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验 GB/T 17626.11-2008

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检测项：二极管电特性测试检测样品：二极管标准：半导体分立器件试验方法GJB128A-1997

检测项：耐异常电压试验检测样品：军用电子设备标准：军用设备环境试验方法低温试验GJB150.4-1986

检测项：电压降测定检测样品：民用直流接触器标准：牵引电器基本试验方法ZBK63003—1988

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