贵州航天计量测试技术研究所

检测项：粒子碰撞噪声检测 检测样品：半导体分立器件 标准：《半导体分立器件试验方法》GJB128A-1997

检测项：粒子碰撞噪声检测 检测样品：微电子器件 标准：《微电子器件试验方法和程序》GJB548B-2005

机构所在地：贵州省贵阳市 更多相关信息>>

中冶建筑研究总院有限公司建筑钢材检测中心

检测项：渗透检测 检测样品：无损检测 标准：无损检测 测磁性粒子检验 第1部分：一般原则 ISO 9934-1：2001

检测项：渗透检测 检测样品：无损检测 标准：无损检测 测磁性粒子试验 第2部分：检测介质 ISO 9934-2：2002

检测项：渗透检测 检测样品：无损检测 标准：无损检测 磁性粒子试验 第3部分：设备 ISO 9934-3：2002

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

上海精密计量测试研究所

检测项：粒子碰撞噪声检测试验 检测样品：半导体分立器件 标准：GJB128A-1997 半导体分立器件试验方法

检测项：粒子碰撞噪声检测试验 检测样品：微电子器件 标准：GJB548B-2005 微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 微电子器件试验方法和程序

检测项：粒子碰撞噪声检测试验 检测样品：半导体分立器件 标准：GJB128A-1997 半导体分立器件试验方法

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

北京东方计量测试研究所

检测项：扫描检漏 检测样品：洁净工作台（净化工作台、超净工作台等） 标准：JG/T 292-2010 洁净工作台 JG/T 19-1999 层流洁净工作台检验标准

检测项：扫描检漏 检测样品：洁净工作台（净化工作台、超净工作台等） 标准：JG/T 292-2010 洁净工作台 JG/T 19-1999 层流洁净工作台检验标准

检测项：部分项目 检测样品：卡尺 标准：GB/T 1214-1996 游标类卡尺 GB/T 14899–94 电子数显卡尺 GB/T 6317–93 带表卡尺

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国科学院寒区旱区环境与工程研究所中国科学院沙漠与沙漠化重点实验室

检测项：沙物质速度、粒径 检测样品：沙漠土工材料 标准：KH SB-BS 06-2010 《运动粒子速度、粒径测定方法》

机构所在地：甘肃省兰州市 更多相关信息>>

中国工程物理研究院计量测试中心

检测项：粒子碰撞噪声检测(PIND) 检测样品：电磁继电器 标准：GJB 4027A-2006 《军用电子元器件破坏性物理分析方法 》

检测项：粒子碰撞噪声检测(PIND) 检测样品：石英晶体元件 标准：GJB 4027A-2006 《军用电子元器件破坏性物理分析方法 》

检测项：粒子碰撞噪声检测(PIND) 检测样品：石英晶体元件 标准：GJB 4027A-2006 《军用电子元器件破坏性物理分析方法 》

机构所在地：四川省绵阳市 更多相关信息>>

湖北航天技术研究院计量测试技术研究所

检测项：粒子碰撞噪声检测试验（PIND） 检测样品：晶体管 标准：半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997

检测项：功能 检测样品：CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

检测项：粒子碰撞噪声检测 检测样品：电子元器件试验 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法2020.1 电子及电气元件试验方法 GJB 360A-1996 方法217 半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法2052

机构所在地：湖北省孝感市 更多相关信息>>

浙江华电器材检测研究所

检测项：防高速粒子冲击性能 检测样品：手持式电动工具 标准：手持式电动工具的安全 第一部分：通用要求GB 3883.1-2008

机构所在地：浙江省杭州市 更多相关信息>>

中国石化上海石油化工股份有限公司质量管理中心

检测项：凝集粒子 检测样品：纤维级聚酯切片 标准：纤维级聚酯切片(PET)试验方法 GB/T 14190-2008

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

上海市安全生产科学研究所劳动防护用品检测站

检测项：防高速粒子冲击性能 检测样品：耐化学品的工业用模压塑料靴 标准：《个人用眼护具技术要求》GB 14866-2006

检测项：防高速粒子冲击性能 检测样品：耐化学品的工业用模压塑料靴 标准：《个人用眼护具技术要求》GB 14866-2006

机构所在地：上海市 更多相关信息>>