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血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述:通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。 血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途:与适配试剂配合使用,用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。 血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例:血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年08月07日
检测项:电源电流IDD 检测样品:ECL电路 标准:SJ/T10737-1996《半导体集成电路ECL电路测试方法的基本原理》
检测项:输出短路电流IOS 检测样品:ECL电路 标准:SJ/T10737-1996《半导体集成电路ECL电路测试方法的基本原理》
检测项:输入高电平电流IIH 检测样品:电压调整器 标准:GB/T 4377-1996《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》
机构所在地:湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项:泄漏电流和电气强度 检测样品:电动机-压缩机的性能测试 标准:房间空气调节器用全封闭型电动机-压缩机GB/T15765-2006
检测项:输入功率和工作电流 检测样品:电动机-压缩机的性能测试 标准:房间空气调节器用全封闭型电动机-压缩机GB/T15765-2006
检测项:工作温度下的泄漏电流和电气强度 检测样品:电动机-压缩机的安全测试 标准:家用和类似用途电器的安全电动机-压缩机的特殊要求GB4706.17-2010 家用和类似用途电器的安全通用要求 GB4706.1-2005
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:快开关晶闸管的通态电流 检测样品:晶闸管 标准:半导体器件 第6部分 晶闸管 GB/T 15291-1994 反向阻断三极晶闸管测试方法 JB/T 7626-1994
检测项:反向电流 检测样品:晶闸管 标准:半导体器件 第6部分 晶闸管 GB/T 15291-1994 反向阻断三极晶闸管测试方法 JB/T 7626-1994
检测项:断态电流 检测样品:晶闸管 标准:半导体器件 第6部分 晶闸管 GB/T 15291-1994 反向阻断三极晶闸管测试方法 JB/T 7626-1994
机构所在地:陕西省西安市 更多相关信息>>
检测项:输入电流 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项:输出短路电流 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项:输出高阻态时高电平电流 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
机构所在地:四川省成都市 更多相关信息>>
检测项:定流式真空计的加热电流 检测样品:热偶真空计 标准:JB/T 6873-2005 热偶真空计
检测项:电流倍率对应的电阻误差 检测样品:总有机碳分析仪 标准:《总有机碳分析仪》 HJ/T 104-2003
检测项:定流式真空计的加热电流 检测样品:电阻真空计 标准:JB/T10074-2004 电阻真空计技术条件
检测项:输入高电平电流IIH 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
检测项:输出高阻态时高电平电流IOZH 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
检测项:输出高阻态时低电平电流IOZL 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:光伏组串短路电流的测试 检测样品: 标准:CGC/GF003.1:2009并网光伏发电系统工程验收基本要求
检测项:光伏阵列短路电流 检测样品:并网光伏发电系统 标准:IEC62446:2009并网光伏发电系统文件、试运行测试和检查的基本要求 CGC/GF003.1:2009并网光伏发电系统工程验收基本要求
检测项:电能质量的测试 检测样品: 标准:
机构所在地:江苏省苏州市 更多相关信息>>
检测项:输入失调电流 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:输入偏置电流 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:输入钳位电压 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
机构所在地:云南省昆明市 更多相关信息>>
检测项:输入失调电流 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
检测项:输入偏置电流 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
检测项:输出短路电流 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
机构所在地:甘肃省兰州市 更多相关信息>>
检测项:输入电流 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996
检测项:输入高电平电流 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996
检测项:输出电流调整率 检测样品:半导体集成电路电压调整器 标准:半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理GB/T4377-1996