东莞信宝电子产品检测有限公司

检测项：全部项目 检测样品：射频发射技术设备 标准：无线电标准规范频谱管理和电信政策；免许可证的低功率无线 电通讯设备（所有频带） RSS-210,Issue 8 ：2010

检测项：全部项目 检测样品：射频发射技术设备 标准：无线电标准规范频谱管理和电信政策；免许可证的低功率无线 电通讯设备（所有频带） RSS-Gen,Issue 3: 2010

检测项：全部项目 检测样品：广播电视、电声设备 标准：无线电标准规范频谱管理和电信政策；免许可证的低功率无线 电通讯设备（所有频带） RSS-310,Issue 3: 2010

机构所在地：广东省东莞市 更多相关信息>>

深圳市巴伦检测技术有限公司

检测项：频带宽度 检测样品：移动通信天线 标准：移动通信天线通用技术规范 GB/T 9410-2008 IEEE天线测试标准流程 ANSI/IEEE Std 149-1979

检测项：频带边缘 检测样品：PCS移动电话 标准：频率分配和射频协议总则 47 CFR Part 2(10-1-13 Edition) 宽带个人通信服务 47 CFR Part 24 subpart E(10-1-13 Edition)

检测项：频带边缘 检测样品：PCS移动电话 标准：频率分配和射频协议总则 47 CFR Part 2(10-1-13 Edition) 宽带个人通信服务 47 CFR Part 24 subpart E(10-1-13 Edition)

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

湖北省电子信息产品质量监督检验院

检测项：宽频带随机震动 检测样品：环境试验* 标准：GB/T 2423.56-2006《电工电子产品环境试验 第2部分: 试验方法 试验Fh: 宽带随机振动(数字控制）和导则》

检测项：正常工作条件下的发热 检测样品：音频、视频及类似电子设备* 标准：GB 8898-2011《音频、视频及类似电子设备 安全要求》

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

武汉中原电子集团有限公司计量检测中心

检测项：低电平输出电流 检测样品：运算放大器 标准：半导体集成电路运算（电压） 放大器测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996

检测项：输入失调电压 检测样品：运算放大器 标准：半导体集成电路运算（电压） 放大器测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996

检测项：输入失调电流 检测样品：运算放大器 标准：半导体集成电路电压比较器 测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团公司第七一六研究所机电设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：输出短路电流 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：SJ/T10738-96 半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理

检测项：电源电流 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：SJ/T10738-96 半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理

检测项：功能测试 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：SJ/T10738-96 半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理

机构所在地：江苏省连云港市 更多相关信息>>

广东省江门市质量计量监督检测所检测实验室

检测项：部分参数 检测样品：声频功率放大器 标准：声频功率放大器通用技术条件SJ/T 10406-1993

机构所在地：广东省江门市 更多相关信息>>

中科华核电技术研究院有限公司核安全电气设备鉴定检测中心

检测项：释放电压 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：半导体集成电路 运算放大器空白详细规范 GB 9425-1988

检测项：吸合时间 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：半导体集成电路 运算放大器空白详细规范 GB 9425-1988

检测项：释放时间 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：半导体集成电路 运算放大器空白详细规范 GB 9425-1988

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

上海华岭集成电路技术股份有限公司检测中心

检测项：差分输入线性放大器的输入失调电压和单端输入放大器的偏置电压 检测样品：CMOS集成电路 标准：半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 17940-2000

检测项：差分输入线性放大器的输入失调电压和单端输入放大器的偏置电压 检测样品：RF器件 标准：半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 17940-2000

检测项：差分放大器的输出电压范围（仅直流测试） 检测样品：CMOS集成电路 标准：半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 17940-2000

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十四研究所检测/试验中心

检测项：输出高电平电压 检测样品：运算放大器 标准：SJ/T10738-1996半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理

检测项：输出低电平电压 检测样品：运算放大器 标准：SJ/T10738-1996半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理

检测项：高电平输出电流 检测样品：运算放大器 标准：SJ/T10738-1996半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理

机构所在地：江苏省南京市 更多相关信息>>

湖南航天管理局计量检测中心

检测项：漏极截止电流IDSS 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：SJ/T10738-1996 半导体集成电路运算（电压） 放大器测试方法的基本原理

检测项：栅-源阈值电压VGS(th) 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：SJ/T10738-1996 半导体集成电路运算（电压） 放大器测试方法的基本原理

检测项：输入失调电压VIO 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：SJ/T10738-1996 半导体集成电路运算（电压） 放大器测试方法的基本原理

机构所在地：湖南省长沙市 更多相关信息>>