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血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述:通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。 血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途:与适配试剂配合使用,用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。 血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例:血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年08月07日
检测项:内部观测特征 检测样品:数字集成电路 标准:SJ/T10741-2000 《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》
检测项:输入高电平电压VIH 检测样品:数字集成电路 标准:SJ/T10741-2000 《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》
检测项:输入低电平电压VIL 检测样品:数字集成电路 标准:SJ/T10741-2000 《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:输入失调电流 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:输入偏置电流 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:开环电压增益 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
机构所在地:云南省昆明市 更多相关信息>>
检测项:充电器要求 检测样品:移动通信手持机充电器 标准:移动通信手持机充电器及接口技术要求和试验方法 YD/T1591-2009
检测项:静电放电抗扰度 检测样品:移动通信手持机 标准:电磁兼容 试验和测量技术 静电放电抗扰度试验 GB/T 17626.2:2006
检测项:静电放电抗扰度 检测样品:移动通信手持机 标准:电磁兼容 试验和测量技术 静电放电抗扰度试验 IEC 61000-4-2:2008
机构所在地:福建省厦门市 更多相关信息>>
检测项:危险的防护 检测样品:信息技术设备 标准:信息技术设备的安全 第1部分:通用要求GB4943-2011
检测项:危险的防护 检测样品:信息技术设备 标准:信息技术设备 安全 第一部分:通用要求 GB4943.1-2011 IEC60950-1:2012 EN60950-1
检测项:绝缘电阻测量 检测样品:工频高压试验装置(试验变压器) 标准:《高压试验装置通用技术条件第2部分:工频高压试验装置》DL/T848.2-2004
机构所在地:四川省成都市 更多相关信息>>
检测项:试验的一般要求 检测样品:电信终端设备(安全) 标准:YD/T 965-1998《电信终端设备的安全要求和试验方法》
检测项:温度循环试验 检测样品:电信终端设备(安全) 标准:YD/T 965-1998《电信终端设备的安全要求和试验方法》
检测项:标牌耐久性试验 检测样品:电信终端设备(安全) 标准:YD/T 965-1998《电信终端设备的安全要求和试验方法》
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:2.7 一次电路过流保护和接地故障保护 检测样品:信息技术设备 (安全) 标准:IEC60950-1:2005 +A1:2009+A2:2013; EN 60950-1:2006 +A11:2009 +A1:2010 +A12:2011+A2:2013
检测项:平均有效功率 检测样品:外置电源适配器(能效) 标准:单电压外置式交流-直流及交流-交流电源能源效率计算的测试方法,2004年8月11日
检测项:能效 检测样品:外置电源适配器(能效) 标准:单电压外置式交流-直流及交流-交流电源能源效率计算的测试方法,2004年8月11日
机构所在地:广东省深圳市 更多相关信息>>
检测项:电压调整率SV 检测样品:半导体集成电路(数字集成电路) 标准:1.SJ/T 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理 2.GB/T 17574-1998半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第IV篇 3.GB/T 16464-1996半导体器件 集成电路 第
检测项:电流调整率SI 检测样品:半导体集成电路(数字集成电路) 标准:1.SJ/T 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理 2.GB/T 17574-1998半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第IV篇 3.GB/T 16464-1996半导体器件 集成电路 第
检测项:静态电流ID 检测样品:半导体集成电路(数字集成电路) 标准:1.SJ/T 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理 2.GB/T 17574-1998半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第IV篇 3.GB/T 16464-1996半导体器件 集成电路 第
检测项:变压器和相关电路的过载保护 检测样品:家用和类似用途电器 标准:家用和类似用途电器的安全 第一部分:通用要求GB4706.1-2005
检测项:与外部电路的连接 检测样品:测量、控制和实验室用电气设备的安全要求 标准:测量、控制和实验室用电气设备的安全要求,第一部分:通用要求 GB4793.1-2007
检测项:记录有效率 检测样品:闯红灯自动记录系统 标准:闯红灯自动记录系统通用技术条件GA/T496-2009
机构所在地:安徽省合肥市 更多相关信息>>
检测项:结构 检测样品:家用电器 标准:家用和类似用途电器的安全通用要求GB4706.1-2005
检测项:结构 检测样品:厨房机械 标准:GB4706.1-2005 《家用和类似用途电器的安全 第一部份:通用要求》 GB4706.30-2008 《家用和类似用途电器安全 厨房机械的特殊要求》
检测项:结构 检测样品:电烤器具 标准:GB4706.1-2005 《家用和类似用途电器的安全 第一部份:通用要求》GB4706.14-2008 《家用和类似用途电器的安全面包片烘烤器、烤架、电烤炉及类似用途器具特殊要求》
机构所在地:浙江省杭州市 更多相关信息>>
检测项:TNV电路 检测样品:信息技术设备 标准:信息技术设备 安全 第1部分:通用要求 GB4943.1-2011 信息技术设备 安全 第1部分:通用要求 IEC 60950-1-2005 信息技术设备 安全 第1部分:通用要求 EN60950-1:2006
检测项:限能电路 检测样品:微型计算机 标准:微型计算机能效限定值及能效等级GB28380-2012
检测项:SELV电路 检测样品:信息技术设备 标准:信息技术设备 安全 第1部分:通用要求 GB4943.1-2011 信息技术设备 安全 第1部分:通用要求 IEC 60950-1-2005 信息技术设备 安全 第1部分:通用要求 EN60950-1:2006